厚度测量仪制造技术

技术编号:14783578 阅读:111 留言:0更新日期:2017-03-10 04:58
本发明专利技术涉及一种厚度测量仪,用于测量工件的厚度,包括:底座,为平板状结构,所述底座用于放置所述工件;立座,所述立座设置于所述底座上;所述立座上设置有导轨,所述导轨垂直于所述底座所在的平面;测量块,为板状结构,所述测量块与所述底座正对设置并用于夹置所述工件;所述测量块与所述导轨相连接,且所述测量块沿所述导轨可滑动;及固定于所述立座上的测量机构,所述测量机构包括测杆及显示盘;所述测杆与所述测量块相联动,所述测杆的轴线与所述测量块相对所述导轨的滑动方向相平行。上述厚度测量仪可以实现对工件厚度的快速测量,且测量精度较高,同时也可用于判断工件的厚度是否满足要求,对厚度超标的工件进行分选。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测装置领域,特别是涉及一种厚度测量仪
技术介绍
随着技术的发展,用户对产品的质量要求越来越高,对很多产品,生产厂家都需要通过检测仪器对其进行检测,判断其是否合格,是否满足客户的要求。目前,对于产品厚度的测量,多采用卡尺进行测量,并将多次测量结果取平均值来得到。这种测量方式每次只能检测产品上对应两点之间的距离,无法快速检测到产品的最大厚度参数,并且也会导致测量结果误差较大。同时多次检测时,人为的操作力度不一,无法有效控制,也会对测量结果存在影响。
技术实现思路
基于此,提供一种能够快速、精确测定工件厚度的厚度测量仪。一种厚度测量仪,用于测量工件的厚度,包括:底座,为平板状结构,所述底座用于放置所述工件;立座,所述立座设置于所述底座上;所述立座上设置有导轨,所述导轨垂直于所述底座所在的平面;测量块,为板状结构,所述测量块与所述底座正对设置并用于夹置所述工件;所述测量块与所述导轨相连接,且所述测量块沿所述导轨可滑动;及固定于所述立座上的测量机构,所述测量机构包括测杆及与所述测杆相连接的显示盘;所述测杆与所述测量块相联动,所述测杆的轴线与所述测量块相对所述导轨的滑动方向相平行。在其中一个实施例中,所述底座包括第一底座及设置于所述第一底座上的第二底座;所述立座设置于所述第一底座上;所述第二底座与所述测量块正对设置;所述第二底座用于放置所述工件。在其中一个实施例中,所述第一底座上开设多个螺纹孔;所述底座上设置有多个螺纹调节件;所述螺纹调节件穿设于所述螺纹孔,并与所述第二底座靠近所述第一底座的一侧相抵顶,通过调节所述螺纹调节件伸出所述第一底座的长度以对所述第二底座进行水平调整。在其中一个实施例中,所述底座上还设置有多个第一紧固件,所述第二底座与所述第一底座通过多个所述第一紧固件相连接。在其中一个实施例中,所述厚度测量仪还包括滑块,所述滑块包括:滑块主体,所述滑块主体上开设有凹槽,所述导轨设置于所述凹槽内,所述滑块主体可相对所述导轨滑动;及滑块座,所述滑块座与所述滑块主体固定连接;所述测量块通过所述滑块座与所述测杆相联动;所述测量块通过所述滑块座及所述滑块主体沿所述导轨滑动。在其中一个实施例中,所述厚度测量仪还包括安装座及第二紧固件,所述安装座通过所述第二紧固件安装于所述立座上;所述显示盘固定于所述安装座上;所述安装座上开设有第一通孔,所述测杆穿设于所述第一通孔内。在其中一个实施例中,所述立座上开设有长孔,所述第二紧固件穿设于所述长孔内。在其中一个实施例中,所述厚度测量仪还包括拉紧机构,所述拉紧机构位于所述导轨的一侧;所述拉紧机构一端与所述测量块相连接;所述拉紧机构远离所述测量块的一端与所述立座相连接;所述拉紧机构可将所述测量块提起。在其中一个实施例中,所述拉紧机构包括:弹性件,所述弹性件一端与所述测量块相连接;及弹性件固定板,所述弹性件固定板上开设多个第二通孔,所述弹性件远离所述测量块的一端穿设于所述第二通孔内;所述弹性件固定板远离所述弹性件的一端与所述立座可转动连接。在其中一个实施例中,所述底座上远离所述测量块的一侧设置有底座支架,所述底座支架支撑所述底座。上述厚度测量仪,测量块沿导轨滑动,工件夹在平板状的底座与测量块之间,与测量块相联动的测杆即可测得测量块与底座之间的距离,即为工件的厚度,实现了对工件厚度的快速测量,且测量精度较高。上述厚度测量仪不仅可以用作工件厚度测量的仪器,来获得工件的厚度参数,同时也可用于判断工件的厚度是否满足要求,对厚度超标的工件进行分选。进一步的,上述厚度测量仪的立座上设置有长孔,第二紧固件穿过长孔可以将安装座固定于立座上高度不同的位置,可以满足不同厚度的工件的测量。进一步的,上述厚度测量仪的立座上设置有拉紧机构,可以对测量块施加不同程度的拉力,以实现对材料较软的工件厚度的测量,避免了测量块对工件形状的破坏。同时在测量时,对同一类型多个工件进行厚度测量时,可以控制拉紧机构对工件的作用力,使测量块对工件保持一定的测量力度,达到降低测量误差的效果。附图说明图1为本专利技术一实施例的厚度测量仪的结构示意图;图2为图1所示厚度测量仪的另一视角的结构示意图;图3为图1所示厚度测量仪的再一视角的结构示意图。具体实施方式为了便于理解本专利技术,下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的较佳实施方式。但是,本专利技术可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施方式。相反地,提供这些实施方式的目的是使对本专利技术的公开内容理解的更加透彻全面。需要说明的是,当元件被称为“固定于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的,并不表示是唯一的实施方式。除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的,不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。如图1所示,本专利技术一实施例的厚度测量仪10,包括底座100、立座200、测量块300及测量机构400。底座100为平板状结构。测量工件(图未示)放置于底座100上。立座200设置于底座100上。立座200上设置有导轨210。导轨210垂直于底座100所在的平面。测量块300为板状结构。测量块300与底座100正对设置。测量块300与导轨210相连接,测量块300可沿导轨210可滑动,以使测量块300远离底座100或靠近底座100。测量机构400包括测杆420及显示盘410。显示盘410与测杆420相连接,并对测杆420测得的数据结果进行显示。显示盘410固定于立座200上。测杆420与测量块300相联动,且测杆420的轴线与测量块300沿导轨210的滑动方向相平行。具体在本实施例中,底座100包括第一底座110及设置于第一底座110上的第二底座120。工件放置于第二底座120上。立座200设置于第一底座110上。第二底座120与测量块300正对设置。具体的,底座100上还设置有螺纹调节件130。第一底座110上开设螺纹孔(图未示),螺纹调节件130穿设于螺纹孔,并与第二底座120靠近第一底座110的一侧相抵顶。通过调节螺纹调节件130伸出第一底座110的长度以对第二底座120进行水平调整。需要指出的是,螺纹调节件130的个数为多个,优选的为三个以上。螺纹孔的个数与螺纹调节件130的个数相对应,且设置于第一底座110的不同位置上。多个螺纹孔不共线,以达到对第二底座120水平面进行调节的目的。在本实施例中,螺纹调节件130及螺纹孔均设置为四个,且相邻的螺纹调节件130相连接构成平行四边形。具体在本实施例中,底座100上设置多个第一紧固件140。第二底座120与第一底座110通过多个第一紧固件140相连接,以避免第二底座120在第一底座110上发生位置移动。底座100上远离测量块300的一侧设置有底座支架600,底座支架60本文档来自技高网
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厚度测量仪

【技术保护点】
一种厚度测量仪,用于测量工件的厚度,其特征在于,包括:底座,为平板状结构,所述底座用于放置所述工件;立座,所述立座设置于所述底座上;所述立座上设置有导轨,所述导轨垂直于所述底座所在的平面;测量块,为板状结构,所述测量块与所述底座正对设置并用于夹置所述工件;所述测量块与所述导轨相连接,且所述测量块沿所述导轨可滑动;及固定于所述立座上的测量机构,所述测量机构包括测杆及与所述测杆相连接的显示盘;所述测杆与所述测量块相联动,所述测杆的轴线与所述测量块相对所述导轨的滑动方向相平行。

【技术特征摘要】
1.一种厚度测量仪,用于测量工件的厚度,其特征在于,包括:底座,为平板状结构,所述底座用于放置所述工件;立座,所述立座设置于所述底座上;所述立座上设置有导轨,所述导轨垂直于所述底座所在的平面;测量块,为板状结构,所述测量块与所述底座正对设置并用于夹置所述工件;所述测量块与所述导轨相连接,且所述测量块沿所述导轨可滑动;及固定于所述立座上的测量机构,所述测量机构包括测杆及与所述测杆相连接的显示盘;所述测杆与所述测量块相联动,所述测杆的轴线与所述测量块相对所述导轨的滑动方向相平行。2.根据权利要求1所述的厚度测量仪,其特征在于,所述底座包括第一底座及设置于所述第一底座上的第二底座;所述立座设置于所述第一底座上;所述第二底座与所述测量块正对设置;所述第二底座用于放置所述工件。3.根据权利要求2所述的厚度测量仪,其特征在于,所述第一底座上开设多个螺纹孔;所述底座上设置有多个螺纹调节件;所述螺纹调节件穿设于所述螺纹孔,并与所述第二底座靠近所述第一底座的一侧相抵顶,通过调节所述螺纹调节件伸出所述第一底座的长度以对所述第二底座进行水平调整。4.根据权利要求2所述的厚度测量仪,其特征在于,所述底座上还设置有多个第一紧固件,所述第二底座与所述第一底座通过多个所述第一紧固件相连接。5.根据权利要求1所述的厚度测量仪,其特征在于,所述厚度测量仪还包括滑块,所述滑块包括:滑块主体,所...

【专利技术属性】
技术研发人员:高峰
申请(专利权)人:深圳市朗能电池有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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