面板驱动电路中嵌入式存储器的分析装置与方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种面板驱动电路中嵌入式存储器的分析装置和方法，适用于测试面板驱动电路的嵌入式存储器。该分析装置包括测试单元、撷取单元、转换单元、分析单元。测试单元用于通过面板驱动电路上的信号管脚来测试嵌入式存储器。撷取单元用于撷取所述故障记录。转换单元用于将故障记录转换成位图数据。分析单元用于根据所述位图数据进行故障模式分析。基此，本发明专利技术分析装置能够快速且经济地完成面板驱动电路之嵌入式存储器的分析。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种分析嵌入式存储器故障的装置与方法，特别是有关于一种。
技术介绍
现今的系统芯片设计大量运用了嵌入式存储器，嵌入式存储器因此占据了高比例的芯片面积。根据美国半导体工业协会Semiconductor Industry Association)的预估， 至2014年，嵌入式存储器占有的芯片面积比例将高达90%以上。另外，由于嵌入式存储器通常具有最严格的设计要求，加上半导体尺寸缩小的发展趋势持续挑战着半导体工艺能力的极限，造成嵌入式存储器相对容易产生工艺上的瑕疵，所以嵌入式存储器对系统芯片的设计常常造成良率与稳定性上的冲击。因此，如何让嵌入式存储器保持合理的良率水平并且有效率地进行测试对于系统芯片的制造来说确实是一项极重要的课题。一般而言，存储器电路本身具有特定的信号管脚设计，故可直接通过专门的存储器测试设备来进行测试。然而，一般面板驱动电路并没有特别为嵌入式存储器的测试设计特定的信号管脚，因而必须通过面板驱动电路上的其他信号管脚来进行嵌入式存储器的信号传输和测试。如果面板驱动电路的测试由其本身特有的测试设备来完成，而嵌入式存储器又使用专门的存储器测试设备，这样做会大大增加测试成本与分析验证的时间。
技术实现思路
本专利技术提供一种测试，其能够直接利用既有的面板驱动电路测试设备来完成面板驱动电路的嵌入式存储器的故障测试与分析。本专利技术提出一种面板驱动电路中嵌入式存储器的分析装置，用于测试位于晶圆上的面板驱动电路的嵌入式存储器，此分析装置包括测试单元、撷取单元、转换单元与分析单元。测试单元用于在所述嵌入式存储器被判定为存在故障时通过所述面板驱动电路上的信号管脚输出故障记录。撷取单元用于撷取所述故障记录。转换单元用于根据此故障记录以及一存储器物理地址转换公式，计算得到包含发生所述故障的物理地址的位图数据。分析单元用于根据所述位图数据进行故障分析。在本专利技术的一个实施例中，上述位图数据可包括对应所述故障的一记忆库、一位线和一字符线。在本专利技术的一个实施例中，上述的位图数据还可包括被判定为所述故障的面板驱动电路在晶圆上的位置；在所述面板驱动电路上应所述故障的数据信号管脚与故障数据；对应所述故障的像素位置与循环编号。本专利技术提出一种面板驱动电路中嵌入式存储器的分析方法，适用于测试位于晶圆上的面板驱动电路中的嵌入式存储器，该分析方法包括步骤101、在所述面板驱动电路被判定为存储器存在故障时通过所述面板驱动电路的信号管脚输出故障记录；步骤102、撷取所述故障记录；步骤103、根据此故障记录以及一存储器物理地址转换公式，计算得到包括发生所述故障的物理地址的位图数据；以及步骤104、根据所述位图数据进行故障分析。在本专利技术的一个实施例中，所述步骤104具体可以包括步骤114、对所述位图数据进行图形化处理得到图形化位图数据；步骤124、根据所述图形化位图数据进行故障分析。在本专利技术的一个实施例中，所述步骤104之后还包括利用此图形化位图数据，对被判定为存储器故障的面板驱动电路进行物理故障分析，以验证所述图形化位图数据与此存储器物理地址转换公式。基于上述，本专利技术所提出的分析装置与分析方法直接通过面板驱动电路测试设备来测试面板驱动电路中的嵌入式存储器，当发现嵌入式存储器存在故障时，输出相应的故障记录，将此故障记录转换成包括故障物理地址的位图数据，以此位图数据对嵌入式存储器存在的故障进行分析，而不必另外再通过专门的存储器测试设备来对嵌入式存储器做测试，如此可有效地节省测试成本与分析验证的时间，并可进一步改善工艺缺陷，达到提升产品良率的目的。附图说明图1是本专利技术实施例的面板驱动电路中嵌入式存储器的分析装置的概要方块图；图2是本专利技术实施例的故障记录示意图；图3是本专利技术实施例的位图数据示意图；图4是本专利技术实施例中将故障记录转换成位图数据的示意图；图5是本专利技术实施例的图形化位图数据；图6是本专利技术实施例的故障模式的统计分析结果；图7是本专利技术实施例的面板驱动电路中嵌入式存储器的分析方法的流程图。附图中，各标号所代表的部件如下100、面板驱动电路中嵌入式存储器的故障装置，101、测试单元，102、撷取单元， 103、转换单元，104、分析单元，105、验证单元，110、面板驱动电路，111、嵌入式存储器， S701 S707、面板驱动电路中嵌入式存储器的分析方法的步骤具体实施例方式为使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下参照附图并举实施例，对本专利技术作进一步详细说明。图1是本专利技术实施例的面板驱动电路中嵌入式存储器的分析装置的概要方块图。 请参照图1，面板驱动电路中嵌入式存储器的分析装置100包括测试单元101、撷取单元 102、转换单元103、分析单元104与验证单元105。面板驱动电路中嵌入式存储器的分析装置100适用于测试面板驱动电路110中的嵌入式存储器111，其中面板驱动电路110位于一晶圆上(未示出)。测试单元101耦接至面板驱动电路110，并通过面板驱动电路110上的多个信号管脚来测试面板驱动电路110，并且在面板驱动电路110被判定为存储器故障(memory fail) 时通过面板驱动电路110上的多个信号管脚输出一笔故障记录(fail datalog) 0具体来说，与现有技术测试嵌入式存储器的故障使用专用的测试设备不同的是， 本实施例技术方案中测试单元可以使用面板驱动电路的测试设备即可完成。由于面板驱动电路110上并没有针对嵌入式存储器111准备特定的用于存储器测试的信号管脚，因此在使用测试单元101进行有关嵌入式存储器111的测试必须通过面板驱动电路110上的信号管脚来进行。在面板驱动电路110的测试流程中，包括多个测试项目例如芯片探针测试(Chip Probe, CP)或封装完成后的成品测试(Final Test, FT)，会包含各种测试项目，例如开路/ 短路(0/S)测试、信号管脚漏电(pin leakage)测试、待机电流(standby current)测试、 存储器测试(memory test)、功能测试(functional test)与灰阶测试(GS test)等。当测试项目为存储器测试(memory test)并且测试结果表明存储器存在故障时，测试单元101 会输出一笔故障记录，用于指明嵌入式存储器111是否发生存储器故障。图2是本专利技术实施例的故障记录的示意图。请参照图2，故障记录描述有关嵌入式存储器111的故障信息，其可以包括测试批号(即图2中的LotName = PP4AJ7)、晶圆编号(即图2中的Wno = 12)、表示读写不同数据和读写方式的测试样式(test pattern)(即图2中的TestNo = 5010)、测试失败数量(即图2中的i^ilCnt)、发生存储器故障的面板驱动电路110在晶圆上的位置(即图2中的 (X，Y) = (178，1))、面板驱动电路110上对应此存储器故障的作为数据输入输出的信号管脚(即图2中的DB12)与故障数据(即图2中的DB12下方的L)，以及对应上述存储器故障的像素位置(即图2中的pixel = (95,153))与循环编号(即图2中的0553观8)。测试样式test pattern可以为现有技术中任一算法即可而不做具体限定，比如March算法本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈志仁，
申请(专利权)人：旭曜科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：