【技术实现步骤摘要】
本技术涉及多晶硅领域，尤其涉及一种多晶硅块检测装置。
技术介绍
现有技术中，在多晶硅铸锭后，产品内部会出现不合格部分，如气孔、杂质、隐裂等。生产中如果多晶硅锭中有气孔、杂质、隐裂，则该产品为废品，如果继续对其加工，则浪费了大量的劳动力和生产成本。为了提高产品利用率，降低生产成本，需要在多晶硅铸锭后对其整体进行检测，测量出其中不合格部分，从而对其截断。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种检测速度快、测量准确，能够自动或手动对硅块前后左右上下各面进行全面检测并标出杂质的多晶硅块检测装置。为了克服
技术介绍
中存在的缺陷，本技术解决其技术问题所采用的技术方案是一种多晶硅块检测装置，包括工作台，所述工作台台面上从左往右依次设置有接收装置、发射装置、成像系统，所述接收装置、发射装置对应设置，接收装置、发射装置分别与成像系统连接，接收装置、发射装置之间设置有旋转台。根据本技术的另一个实施例，一种多晶硅块检测装置进一步包括所述发射装置为红外线发射装置。根据本技术的另一个实施例，一种多晶硅块检测装置进一步包括所述旋转台一端连接有单轴伺服电机。根据本技术的另一个实施例，一种多晶硅块检测装置进一步包括所述旋转台呈圆形。本技术解决了
技术介绍
中存在的缺陷，能够全方位地对多晶硅块进行检测， 成像过程将自动标出杂质的位置所在，且平均每个硅块的检测时间不超过一分钟，加快了加工效率，提高了产品质量。以下结合附图和实施例对本技术进一步说明。附图说明图1是本技术的优选实施例的结构示意图；其中1、工作台，2、发射装置，3、接收装置，4、旋转台，5、成像系统，6、多晶硅块。具体实施方式现在结...
【技术保护点】
１．一种多晶硅块检测装置，其特征在于：包括工作台（１），所述工作台（１）台面上从左往右依次设置有接收装置（３）、发射装置（２）、成像系统（５），所述接收装置（３）、发射装置（２）对应设置，接收装置（３）、发射装置（２）分别与成像系统（５）连接，接收装置（３）、发射装置（２）之间设置有旋转台（４）。
【技术特征摘要】
1.一种多晶硅块检测装置，其特征在于包括工作台(1)，所述工作台(1)台面上从左往右依次设置有接收装置(3)、发射装置O)、成像系统(5)，所述接收装置(3)、发射装置 (2)对应设置，接收装置C3)、发射装置( 分别与成像系统( 连接，接收装置C3)、发射装置⑵之间设...
【专利技术属性】
技术研发人员：陆国富，
申请(专利权)人：常州市万阳光伏有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32
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