用于检测发光二极管封装件的设备及使用其的检测方法技术

本发明专利技术公开了一种用于检测发光二极管封装件的设备及使用其的方法。用于检测发光二极管(LED)封装件的设备被设置为检测LED以确定其是否有缺陷，并在LED有缺陷时废弃该LED。用于检测LED封装件的设备包括：检测单元，通过视觉检测来检测LED，以确定LED是否有缺陷；缺陷产品报废单元，废弃从检测单元提供的LED中的基于检测单元的检测结果被确定为有缺陷的LED。因为检测LED和废弃缺陷LED的操作自动进行并能够作为连续工艺快速地处理，所以能够提高生产率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于检测发光二极管(LED)封装件的设备，该设备能够检测LED 来确定LED是否有缺陷，并且如果LED有缺陷，则该设备能够废弃该LED。
技术介绍
发光二极管(LED)产生少量的通过使用p-n结构注入的载流子(电子或空穴)，并根据电子-空穴复合发射光。即，当正向电压施加到特定元件的半导体时，电子和空穴运动并通过正电极和负电极的接合处复合，在这种情况下，产生的能量比在电子和空穴分开时产生的能量少，因此，由产生的能量之间的差值导致发射光。根据近来LED发光效率的进步，LED的应用从最初的用于显示信号的LED延伸到用于移动电话的背光单元(BLU)的LED，或用作光源或用于诸如液晶显示器(LCD)的平板显示装置的发光的LED。其原因在于，与用作传统的发光源的灯泡和荧光灯相比，LED的功耗低且寿命长。通常可以将LED制作成LED封装件。LED封装件通常包括LED芯片、其上安装有LED 芯片的主体以及包含树脂部分的诸如荧光硅的荧光材料，荧光材料在主体上部覆盖LED芯片。LED封装件除了包括LED芯片之外，还可以包括齐纳二极管。通过生长半导体层并在各个半导体层上形成电极来制作L本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种用于检测发光二极管封装件的设备，所述设备包括：检测单元，通过视觉检测来检测发光二极管，以确定发光二极管是否有缺陷；缺陷产品报废单元，废弃从检测单元提供的发光二极管中的基于检测单元的检测结果被确定为有缺陷的发光二极管。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：林双根，高升奎，权大甲，安珠勋，池元秀，
申请(专利权)人：三星LED株式会社，
类型：发明
国别省市：KR