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本发明公开了一种用于检测发光二极管封装件的设备及使用其的方法。用于检测发光二极管(LED)封装件的设备被设置为检测LED以确定其是否有缺陷，并在LED有缺陷时废弃该LED。用于检测LED封装件的设备包括：检测单元，通过视觉检测来检测LED，...
该专利属于三星LED株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星LED株式会社授权不得商用。

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