发光器件检查设备和方法技术

本发明专利技术提供了一种用于检查发光器件的特性的发光器件检查设备，所述发光器件包括发射光的一个或多个发光单元，所述发光器件检查设备包括：探测单元，具有工作台和探针，所述发光器件安装在所述工作台上，所述探针向所述发光器件供给电流；图像获取单元，用于获取所述发光器件的图像；以及确定单元，用于通过从所述图像的亮度信息检测所述一个或多个发光单元的发光来确定所述发光器件的开路/短路缺陷。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及用于检查发光器件的关于影响其电学和光学特性、外观等的缺陷的方法和设备。
技术介绍
发光器件(例如，发光二极管(LED))是能够经由形成在化合物半导体的PN结处的发射源实现各种颜色的光的半导体器件。LED具有长寿命，能够被最小化，质轻，对光具有 强的方向性，并能够被小电压驱动。另外，LED对冲击和振动具有高耐抗性，不需要预热时间和复杂的驱动结构，井能够封装成各种形式。因此，LED可以用于各种用途。
技术实现思路
通过一系列半导体制造エ序来制造发光器件，在这方面，需要检查エ序来检查所制造的发光器件的外观、电学特性和光学特性。提供了用于容易地执行电学特性检查(S卩，开路/短路检查)的方法和设备。提供了用于同时检查发光器件的电学特性和光学特性的方法和设备。提供了用于同时检查LED的电学/光学特性和外观的方法和设备。附加方面将部分地在下面的描述中进行说明，井部分地根据描述将是明显的，或者可以由给出的实施例的实施而明了。根据本专利技术的一方面，一种检查包括发射光的一个或多个发光单元的发光器件的特性的发光器件检查设备包括探测单元，具有工作台和探针，所述发光器件安装在所述エ作台上，所述探针向所述发光器件供给电流；图像获取単元，用于获取所述发光器件的图像；以及确定单元，用于通过从所述图像的亮度信息检测所述ー个或多个发光単元的发光来确定所述发光器件的开路/短路缺陷。所述发光器件检查设备还可以包括测量单元，所述测量単元包括积分球和检测器，所述积分球设置在所述工作台上方并收集从所述发光器件发射的光，所述检测器检测所述发光器件的光学特性，其中，所述测量単元可以基于检测的光学特性来确定所述发光器件的所述光学特性的缺陷。所述确定単元可以基于所述开路/短路缺陷和检测的光学特性的确定结果将所述发光器件分为多个组。光窗ロ可以布置在所述积分球处，其中，所述图像获取单元可以经由所述光窗ロ来获取所述发光器件的所述图像。所述确定単元可以包括用于从所述图像产生用于外观检查的检查图像的图像处理单元，所述确定単元可以通过将所述检查图像与预设的參考图像进行比较来确定所述发光器件的外观的缺陷。所述图像获取单元可以包括成像装置；以及透镜，用于在光已经穿过所述光窗ロ之后将所述光会聚在所述成像装置上。所述图像获取单元可以包括光量调节器，所述光量调节器设置在所述透镜前面，并调节已经穿过所述光窗ロ的光的量。所述发光器件可以包括可以排列有多个发光単元的多发光芯片。所述发光器件可以包括通过封装多个发光二极管(LED)芯片形成的LED封装件。 所述发光器件可以包括通过封装ー个或多个排列有多个发光単元的多发光芯片形成的LED封装件。根据本专利技术的另一方面，一种检查包括发射光的一个或多个发光単元的发光器件的特性的方法包括向所述发光器件供给电流；获取所述发光器件的图像；以及通过从所述图像的亮度信息检测所述ー个或多个发光単元的发光来确定所述发光器件的开路/短路缺陷。所述方法还可以包括以下步骤通过使用积分球来收集从所述发光器件发射的光，并从收集的光来检测所述发光器件的光学特性；以及基于检测的光学特性来确定所述发光器件的所述光学特性的缺陷。所述方法还可以包括基于所述开路/短路缺陷和检测的光学特性的确定结果将所述发光器件分为多个组的步骤。获取图像的操作可以包括经由布置在所述积分球处的光窗ロ来获取所述发光器件的所述图像的步骤。所述方法还可以包括以下步骤从所述图像产生用于外观检查的检查图像；以及通过将所述检查图像与预设的參考图像进行比较来确定所述发光器件的外观的缺陷。所述发光器件可以包括排列有多个发光単元的多发光芯片。所述发光器件可以包括通过封装多个发光二极管(LED)芯片形成的LED封装件。所述发光器件可以包括通过封装ー个或多个排列有多个发光単元的多发光芯片形成的LED封装件。附图说明通过结合附图的实施例的以下描述，这些和/或其它方面将变得明显和更易于理解，其中图I示出了根据本专利技术实施例的发光器件检查设备的构造；图2示出了获取发光器件的图像的光学构造；图3示出了作为将被检查的发光器件的示例的发光二极管芯片(LED芯片)；图4示出了作为将被检查的发光器件的示例的多LED芯片；图5是作为将被检查的发光器件的示例的LED封装件的剖视图；图6示出了 5个LED平行排列的多LED芯片的示例；图7是示出当将驱动电流施加到图6的多LED芯片时所测量的电流根据具有电开路缺陷的发光单元的数量的曲线图；图8示出了当多LED芯片的ー些发光单元电开路时的检查图像；图9示出了当多LED芯片的ー些发光单元电开路时的检查图像的示例；图10示出了当多LED芯片的ー些发光单元电连接从而产生短路时的检查图像的示例；图11对应于多LED芯片的有缺陷的外观的示例，并示出了当多LED芯片的外观被损坏时的检查图像；图12对应于多LED芯片的有缺陷的外观的示例，并示出了当外来杂质附着到多LED芯片的外观时的检查图像；图13对应于多LED芯片的有缺陷的外观的示例，并示出了当有缺陷地形成包封层时的检查图像。具体实施例方式现在将详细地參考实施例，在附图中示出了实施例的示例，其中，相同的标号始终指相同的元件。在附图中，为了清楚起见，会夸大每个组件的尺寸。图I示出了根据本专利技术实施例的发光器件检查设备的构造。 探测单元400向发光器件10供给用于检查的电能，并可以包括工作台401和探针402，发光器件10安装在工作台401上，探针402连接到电源403，以向发光器件10供给检查电流。如在图I中虚线所示出的，探针402可以安装在断路位置。当通过输送机构(未示出)将发光器件10安装在工作台401上时，如在图I中实线所示出的，探针402接触发光器件10的电极焊盘，然后向发光器件10供给检查电流。根据当前实施例的发光器件检查设备通过使用发光器件10的图像信息对发光器件10执行电开路/短路检查。为此，图像获取单元200布置为获取发光器件10的图像信息。图像获取単元200可以具有用于捕获发光器件10的图像的相机210。另外，图像获取単元200还可以具有用于将相机210捕获的图像转换为数字化的图像信息的帧捕获器220。为了整合图像获取エ序和光学特性检查，还可以将测量単元100布置在发光器件检查设备中。测量单元100可以包括积分球120和检测器110。积分球120可以包括具有圆形形状的内腔123和具有开ロ的光入射单元121，从发光器件10发射的光经由开ロ进入内腔123。为了测量发光器件10的光学特性(例如，亮度、波长等)，检测器110安装在积分球120处。使用具有优异的反射率的材料涂覆积分球120的内壁，使得入射光在积分球120中均匀地反射。因此，积分球120中的光的散布是非常均匀的，经由光入射单元121进入积分球120的光均匀地分散到积分球120的整个内壁。入射到积分球120的内壁上的光的量与进入积分球120的光的量相同。因此，如果通过使用此关系获得在积分球120的内壁的一部分上入射的光的量，则可以获得进入积分球120的光的总量。当测量的区域的面积被称为A，积分球120的内壁的总表面积被称为B，并且测量的光的量被称为C时，通过CX (B/A)获得光的总量。这里，所测量的区域的面积可以是检测器110的光接收装置的面积。如上所述，可以从由检测器本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检查发光器件的特性的发光器件检查设备，所述发光器件包括发射光的一个或多个发光单元，所述发光器件检查设备包括：探测单元，包括工作台和探针，所述发光器件安装在所述工作台上，所述探针向所述发光器件供给电流；图像获取单元，用于获取所述发光器件的图像；以及确定单元，用于通过从所述图像的亮度信息检测所述一个或多个发光单元的发光来确定所述发光器件的开路/短路缺陷。

【技术特征摘要】
2011.03.29 KR 10-2011-00282091.一种用于检查发光器件的特性的发光器件检查设备，所述发光器件包括发射光的一个或多个发光单元，所述发光器件检查设备包括 探测单元，包括工作台和探针，所述发光器件安装在所述工作台上，所述探针向所述发光器件供给电流； 图像获取单元，用于获取所述发光器件的图像；以及 确定单元，用于通过从所述图像的亮度信息检测所述一个或多个发光单元的发光来确定所述发光器件的开路/短路缺陷。2.根据权利要求I所述的发光器件检查设备，所述发光器件检查设备还包括测量单元，所述测量单元包括积分球和检测器，所述积分球设置在所述工作台上方并收集从所述发光器件发射的光，所述检测器检测所述发光器件的光学特性， 其中，所述测量单元基于检测的光学特性来确定所述发光器件的所述光学特性的缺陷。3.根据权利要求2所述的发光器件检查设备，其中，所述确定单元基于所述开路/短路缺陷和检测的光学特性的确定结果将所述发光器件分为多个组。4.根据权利要求2所述的发光器件检查设备，其中，光窗口布置在所述积分球处， 其中，所述图像获取单元经由所述光窗口来获取所述发光器件的所述图像。5.根据权利要求4所述的发光器件检查设备，其中，所述确定单元包括用于从所述图像产生用于外观检查的检查图像的图像处理单元， 其中，所述确定单元通过将所述检查图像与预设的参考图像进行比较来确定所述发光器件的外观的缺陷。6.根据权利要求4所述的发光器件检查设备，其中，所述图像获取单元包括 成像装置；以及 透镜，用于在光已经穿过所述光窗口之后将所述光会聚在所述成像装置上。7.根据权利要求6所...

【专利技术属性】
技术研发人员：池元秀，朴大绪，金秋浩，
申请(专利权)人：三星LED株式会社，
类型：发明
国别省市：