用于电路板测试的测试设备的模块制造技术

本发明专利技术涉及一种用于电路板测试的测试设备的模块（１）。这样的测试设备具有基本栅格，该基本栅格上可以布置适配器或转换器，以将该基本栅格上的触点连接到供测试的电路板。该模块包括支撑板（２）及接触板。该接触板由被称为基本栅格元件的刚性电路板部分（１０）与至少一个柔性电路板部分（１７）构成。该基本栅格元件上设置有触点，各触点构成基本栅格的触点的一部分。该基本栅格元件布置在该支撑板的前侧面上，并且该柔性电路板部分以使得该接触板的其余部分的至少一部分平行于该支撑板的方式弯曲。基本栅格元件的触点与布在接触板中的导体路径电接触，这些导体路径从基本栅格元件延伸到柔性电路板部分中。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于电路板测试的测试设备的模块，以及一种用于电路板 测试的设备。
技术介绍
用于电路板测试的设备例如可分别从US 3,564,408及US 4,417,204中获 知。这些设备具有接触板，在接触板上测试探针布置在基本栅格中。这些测试 探针通过长的线缆连接到测试电路。待测试的电路板放置在测试板上，并且在 电路板与测试板之间可装配适配器，使得在待测试电路板的各测试点与测试探 针之间形成电接触。根据这种类型的测试设备已开发出模块化的测试设备，例如专利DE32 40 916C2及DE33 40 180C1所描述的测试设备。这种类型的测试设备具有母板， 该母板上放置有垂直布置的模块，各模块包括电子测试电路的一部分并且在其 上端具有垂直排列的测试探针。在测试设备中，数个这样的模块彼此并靠着安 装，其中，测试探针阵列形成替代接触板的接触阵列。从而模块很好地结合在 一起，多孔板可位于这些测试探针之上，其中每个测试探针穿过该多孔板中的一个孔，^v而固定在适当的位置。接触阵列的模块化结构在实践中证明非常成功。这种模块化结构的主要优 点在于在电路板测试中施加的接触压力通过模块被转移到母本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于电路板测试的测试设备的模块，其中，所述测试设备具有基本栅格，所述基本栅格上可布置适配器和／或转换器，以连接所述基本栅格的触点（９）与待测试电路板的电路板测试点，并且，　所述模块具有支撑板（２）及接触板（３），其中，所述接触板（ ３）由被描述为基本栅格元件（１０）的刚性电路板部分与至少一个柔性电路板部分（１７）构成，并且所述基本栅格元件为所述基本栅格的一部分，且所述基本栅格元件（１０）上设置有触点（９），各触点（９）构成所述基本栅格的触点的一部分并以每平方厘米至少１００个触点的密度布置，并且　所述基本栅格元件（１０）与所述支撑板（２）的平面成直角安装在所述支撑板（２）的端面，并...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：安德鲁古尔佐，维克特罗曼诺夫，福克戈德史密特，沃纳穆勒，吕迪格戴麦尔，尤威路丝格，
申请(专利权)人：ATG路德迈股份有限公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]