用于测试图像感测芯片的探针卡制造技术

本发明专利技术公开了一种用于测试图像感测芯片的探针卡，包含有一电路板、一第一固定单元、多个探针、一第二固定单元、一镜头组、以及一灯光单元。该电路板具有一窗口。该第一固定单元结合于电路板下面，但未将该窗口遮蔽。前述多个探针被第一固定单元固定于电路板下方位置。该第二固定单元结合于电路板上面。该镜头组采用可调整方式被结合于第二固定单元处，并对应着前述窗口的所在位置。该灯光单元设置于第二固定单元顶面，灯光单元能产生适当的可见光。通过此，该光线能透过镜头组聚焦投射至电路板下方的测试区域，提供最能满足测试条件的光线予待测的图像感测芯片处，以提升测试的质量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及探针卡技术，特别是指一种有镜头组且用于测试图像感测芯片的探针 卡。
技术介绍
一般测试半导体芯片的探针卡，主要是作为测试机台与半导体芯片之间的连接对 象，由测试机台提供电压使半导体芯片产生相对电性信号而进行测试。但是若为图像感测 芯片(例如CCD或CMOS)的测试，则须将测试光线照射到图像感测芯片的光学感应区，芯片 因受光线的照射会产生电性变化，并产生电性信号至所连接的探针卡及测试机台处。由于 与现有的一般探针卡的要求不同，于是就有人设计了专用于图像感测芯片的探针卡。此类用于图像感测芯片的探针卡，主要特殊之处是在电路板上具有一开口，使得 外部的光线能照射至内部，并提供待测的图像感测芯片所需的光线。目前外部光线的照射 方式，是直接提供一光源于探针卡的上方位置，此光源内部具有特殊的结构，当光源发亮时 光线呈似平行光照射，大部分光线除了会经预先设定路径由电路板的开口处进入，到达电 路板下方的测试区，但乃有部分光线会照射至电路板表面后反射回去，干扰到原本正常路 径的光线，形成干涉现象，影响到测试结果。另外图像感测芯片有时也会对测试光线有特殊 须求，例如是否能对不可见光(红外线)感应，此部分为了确保图像感测芯片在夜间仍能正 常运作。此时测试光源则必须进行更换或使用不同设备加以辅助，非常麻烦又不方便。因 此本专利技术人则思考设计另一种结构，使得用于测试图像感测芯片的探针卡在使用上更为方 便，质量更好。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提供一种具有镜头组且能用于测试图像感测芯片的探针卡， 主要是探针卡内部具有镜头组能将光线作有效的处理与聚焦，让最后投射于测试图像感测 芯片的光线最符合测试条件，通过此，让图像感测芯片测试的准确度更加提高。本专利技术的次要目的是提供一种用于测试图像感测芯片的探针卡，由于本专利技术的探 针卡具有一镜头组，该镜头组能将光线作有效的处理及聚焦，因此灯光单元产生光线后，即 光线不须再经特殊的处理，如此能简化灯光单元的结构，使探针卡在设计上更为简单。本专利技术的次要目的是提供一种用于测试图像感测芯片的垂直式探针卡，该探针 卡内部可采用用弹簧式探针(spring probe)或垂直式可挠曲探针(Vertical Bending Probe)，配合本专利技术所使用的镜头组，与位于电路板的窗口，构成一组用于测试图像感测芯 片的创新的垂直式探针卡。为达成前述的目的，本专利技术包含有一电路板、一第一固定单元、多个探针、一第二 固定单元、以及一灯光单元。该电路板具有一窗口，该第一固定单元结合于电路板下面，但 未将该窗口遮蔽。前述多个探针是被第一固定单元定位于电路板下方位置。该第二固定单 元结合于电路板上面。该镜头组则受该第二固定单元固定而位于电路板的上方位置，该镜头组对应着前述窗口的所在位置。另外该灯光单元设置于第二固定单元顶面，灯光单元能 产生适当的光线。如此即为本专利技术用于测试图像感测芯片的探针卡。 另外本专利技术的探针卡所采用用的的探针并非单一型式，可依不同的须求选用合适 的探针，而所使用的探针则可为弹簧式探针、垂直式可挠曲探针、悬臂式探针(cantilever probe)等，通过此增加本专利技术的适用范围。附图说明图1为本专利技术第一种实施例的结构剖面示意图2为本专利技术的探针卡用于测试图像感测芯片的较佳实施例图图3为本专利技术的第二二种实施例的结构剖面示意图4为本专利技术的第三三种实施例的结构剖面示意图。主要元件符号说明]A探针卡10电路板11第一表面12第二表面13窗口20第一固定单元21第一固定件211第一定位孔22第二固定件221第二定位孔23第三固定件231第三定位孔20A第一固定单元21A第一固定件211A第一定位孔22A第二固定件23A第三固定件231A第三定位孔20B第一固定单元24斜面30探针31第一接触件32第二接触件30A探针30B探针40第二固定单元41结合区块411内螺纹孔42间隙43间隙50镜头组51外螺纹60灯光单元61灯源90图像感测芯片91光学感应区具体实施例方式兹配合下列的图示说明本专利技术的详细结构及其连结关系，以便使熟习该项技术领 域者在研读本说明书后能据以实施。请参阅图1所示，为本专利技术的结构剖面示意图。本专利技术的探针卡A主要包含有一 电路板10、一第一固定单元20、多根探针30、一第二固定单元40、一镜头组50、以及一灯光 单元60所构成。在图中镜头组50与灯光单元60并未以剖面图表示。该电路板10具有一 第一表面11、一第二表面12及一窗口 13，该第一表面11与第二表面12分别为电路板10 上下呈相对的表面，该窗口 13则贯穿该电路板10。该第一固定单元20结合于电路板10的 第二表面12处。该第一固定单元20邻近窗口 13且未将窗口 13遮蔽。多个探针30被第 一固定单元20固定于电路板10的下方位置，但该探针30的一端(顶端)须与电路板10 的第二表面12的电路相电性连接，另一端(底端)则须延伸至第一固定单元20的下方位 置。该第二固定单元40设置于电路板10的第一表面11处。该镜头组50采用可调整方式 被结合固定于第二固定单元40处，位于电路板10的上方位置。该镜头组50的位置并与窗 口 13相互对应。该灯光单元60设置于第二固定单元40顶面，该灯光单元60能产生适当 的光线，该光线为一可见光。通过此，当本专利技术探针卡A用于图像感测芯片的测试时，光线 能透过镜头组50聚焦投射于图像感测芯片处，使得图像感测芯片获得最佳的测试光线，提 升芯片的测试质量。以下就部分构件作更详细的说明该第一固定单元20用以将多个探针30固定电路板10下方位置，但随着探针30的 结构不同，该第一固定单元20也为不同的结构。在图1实施例中，该探针30为一弹簧式探 针(spring probe)。该弹簧式探针30两端分别具有外径较小的一第一接触件31及一第二 接触件32，该第一接触件31与第二接触件32其中至少一个具有可伸缩的弹性。在本实施 中该第一接触件31具有可伸缩的弹性。该第一固定单元20呈一环状，在本实施例中为似 四方形中空的环形。该第一固定单元20则是由一第一固定件21、一第二固定件22、以及一 第三固定件23所构成，前述三构件采用堆叠方式结合在一起。该第一固定件21具有多个 第一定位孔211，该第一定位孔211小于前述弹簧式探针30身部的外径但大于第一接触件 31的外径。第二固定件22也具有多个第二定位孔221，该第二定位孔221对应于前述弹簧 式探针30身部的外径。该第三固定件23也具有多个第三定位孔231，该第三定位孔231小 于探针30身部的外径但略大于第二接触件32的外径。该弹簧式探针30虽固定于与第一 固定单元20处，但两者之间无任何粘着剂辅助固定，正确说明是被弹簧式探针30被定位第 一固定单元20的各定位孔内。当在第一固定单元20各构件被堆叠组装在一起时，该弹簧 式探针30身部、第一接触件31、以及第二接触件32则分别位于相对应的第二定位孔221、 第一定位孔211及第三定位孔231内，如此弹簧式探针30虽被固定于第一固定单元20处， 第一接触件21仍具可伸缩的弹性。该镜头组50内部具有多片透镜，能将光线聚焦投射于电路板下方的测试区域，提 供待测的图像感测芯片最适当的光线。另外该镜头组本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试图像感测芯片的探针卡，其特征在于包括：一电路板，该电路板具有一第一表面、一第二表面及一窗口，该第一表面与第二表面呈相对面设置，该窗口则贯穿于电路板；一第一固定单元，结合于前述电路板的第二表面；多个探针，被前述第一固定单元固定于电路板下方位置，该探针一端与电路板第二表面的电路相连接，另一端延伸至第一固定单元下方位置；一第二固定单元，设置于电路板的第一表面；一镜头组，被前述第二固定单元固定位电路板上方位置，该镜头组对应着前述窗口的所在位置；一灯光单元，设置于第二固定单元顶面，该灯光单元能产生光线，该光线能经镜头组聚焦投射至电路板下方的测试区域。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄郑隆，陈星龙，黄世彬，叶日嘉，
申请(专利权)人：励威电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]