电路板检测装置、检测方法、电路板制造方法以及电路板制造方法及图纸

一种使夹具的触针与电路板接触，检测该电路板的电路板检测装置、存储介质、电路板检测方法、电路板制造方法以及电路板。检测实施单元（４２）按检测设定单元（４１）设定的内容实施电路板检测时，一旦发生检测错误，如果这个检测错误发生时的电路板状态存在于接触不良状态ＤＢ（４４）中的接触不良状态数据中，检测结果分析单元（４３）就判断该检测错误是触针的接触不良错误，然后在检测结果显示单元（４５）中输出显示该接触不良触针的信息。因此，电路板检测装置（１）不仅可以适当地判断检测错误是触针的接触不良错误还是电路板的电路故障错误，而且还可以判断和通知触针的不良状态。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种电路板检测装置、存储介质、电路板检测方法、电路板制造方法以及电路板，更具体地，涉及一种使夹具(Fixture)的触针(Contact Pin)与电路板接触，检测该电路板的电路板检测装置、存储介质、电路板检测方法、电路板制造方法以及电路板。
技术介绍
通过使电路板检测装置的触针与电路板接触，可以进行电路的电气检测。但是，因为电路板检测装置的触针与电路板直接接触，所以除了由于电路板电流故障引起的检测错误之外，还产生一种检测错误，即由于触针上附着的焊剂和触针的损耗等原因而引起的触针接触不良检测错误。这样，当检测错误发生时，检测员需要判断该检测错误是电路板电路故障检测错误还是触针接触不良检测错误。如果判断是触针接触不良检测错误，需要对触针进行清洁，然后对同一电路板实施再次检测。另外，当发生多个触针接触不良检测错误时，要确定接触不良检测错误是起因于哪个触针，需从电路板检测装置的电路图开始进行检查，再实施更换该触针的操作，需要很多工作时间。另外，为了减少这些工作时间，一般采用这样的手段，即检测开始和结束时对触针进行清洁、每隔一定的检测次数或期间对触针进行全部更换等。但是，由于设置了很多触针，象这样每隔一定的次数或期间就对触针进行全部更换，不仅提高了检测成本，而且还降低了工作效率，所以，最好是只需更换产生了磨损的触针。因此，本申请人提出了一种系统装置(可参考日本专利文献-“特开2001-100602号公报”)，该系统装置首先对读取部的滚子以及写入部的滚子的使用状况进行检查，当超过存储部内存储的阈值时，即发出警告。另外还有一种介质处理装置(可参考日本专利文献-“特开2001-291143号公报”)，该介质处理装置可以通知工作人员去判断磨损和消耗对象的部件的更换日期。但是，上述文献中记载的现有技术，目的都是从部件的使用状况和使用率出发，在部件磨损引发故障之前，进行警告显示，因此，不适于预测和判断上述电路板检测装置的触针的更换日期。也就是说，对于电路板检测装置的触针来说，不只是损耗，有时也突然发生电气损坏，另外，有时也出现与磨损没有关系的触针上的焊剂附着，所以，只用使用次数和使用率来预测和判断更换日期比较困难。因此，上述现有技术不适于电路板检测装置，需要开发一种新的技术。
技术实现思路
本专利技术的目的为，提供一种电路板检测装置、存储介质、电路板检测方法、电路板制造方法以及电路板，其不仅可以适当地判断电路板的检测错误是由于触针的接触不良造成的，还是由于电路板的电路故障造成的，而且还可以判断和通知显示是否有必要清洁和更换触针不良状态。为了实现上述目的，本专利技术的电路板检测装置具有多个触针，将这些触针与电路板相接触，检测该电路板的电路板检测装置包括检测设定单元，用来设定检测内容，上述检测内容至少包括上述电路板的检测顺序、次数；检测实施单元，用来根据上述检测内容对上述电路板进行检测；接触不良状态存储单元，用来存储接触不良状态数据，上述接触不良状态数据为上述触针的接触不良状态以及上述电路板的电路状态等的接触不良状态数据；检测结果分析单元，当检测上述电路板的检测结果是检测错误时，用来比较该次检测时的上述电路板状态和上述接触不良状态存储单元内存储的上述触针的不良状态数据，判断上述检测错误是所述电路板的电路故障错误还是所述触针的接触不良错误；以及，输出单元，用来输出和通知上述检测结果分析单元的判断结果。其特征在于，当发生上述检测错误时的上述电路板的状态存在于上述接触不良状态存储单元内的上述触针接触不良状态的数据中时，上述检测结果分析单元判断上述检测错误为触针的接触不良错误，然后由上述输出单元输出和通知上述触针的接触不良错误信息。此时，当上述检测结果分析单元判断上述电路板的检测结果为上述触针的接触不良错误时，上述检测结果分析单元可以将该触针接触不良错误发生的次数作为接触不良发生次数，存储于上述接触不良存储单元内，同时，上述输出单元知和输出至少该触针的接触不良发生次数的累计结果。另外，上述电路板检测装置包括警告条件设定单元，其用来对各触针分别设定输出和警告所述触针不良状态的警告条件，当上述触针的接触不良状态满足上述警告条件时，上述检测结果分析单元使上述输出单元输出并通知上述触针为不良的警告信息。再有，上述警告条件设定单元给各触针分别设定上述警告条件，这里，上述警告条件为上述触针的接触不良错误发生次数的预定累计值，当上述触针接触不良错误发生次数的累计值满足上述警告条件时，上述检测结果分析单元使上述输出单元输出并通知上述触针为不良的警告信息。另外，上述警告条件设定单元还可以给各触针分别设定上述警告条件，这里，上述警告条件为预定累计期间和上述预定累计期间内上述触针接触不良错误发生次数的预定累计值，当上述预定累计期间内上述触针接触不良错误发生次数的累计值满足所述警告条件时，上述检测结果分析单元使上述输出单元输出并通知上述触针为不良的警告信息。再有，上述警告条件设定单元还可以给各触针分别设定上述警告条件，这里，上述警告条件为上述触针接触不良错误的连续发生次数，当上述触针接触不良错误的连续发生次数满足上述警告条件时，上述检测结果分析单元使上述输出单元输出并通知上述触针为不良的警告信息。另外，当上述触针的接触不良错误发生状态满足上述警告条件时，上述检测结果分析单元可以自动变更上述检测内容，上述检测实施单元按变更后的上述检测内容实施检测。再有，上述检测设定单元还可以设定替代检测，在所述替代检测中，使用与通常检测不同的所述触针实施检测，在当上述通常检测发生检测错误时，上述检测实施单元实施上述替代检测，上述检测结果分析单元根据上述通常检测和上述替代检测的检测结果，判断上述通常检测的检测错误是上述电路板的电路故障错误还是上述触针的接触不良错误。另外，上述电路板检测装置还可以具有接触不良状态数据作成模式，用来作成上述接触不良状态的数据，当上述检测设定单元选择上述接触不良状态数据作成模式时，上述检测结果分析单元把检测时的上述触针的接触不良状态以及上述电路板的电路状态等的接触不良状态数据存储于所述接触不良状态储存单元中。为了实现上述目的，本专利技术提供了一种用来存储电路板检测程序的存储介质，上述电路板检测程序用来进行通过使用多个触针，将上述触针与上述电路板相接触来检测上述电路板，上述电路板检测程序具有检测设定步骤，设定检测内容，上述检测内容至少包括上述电路板的检测顺序、次数；检测实施步骤，根据上述检测内容对上述电路板实施检测；检测结果分析步骤，当检测所述电路板的检测结果是检测错误时，比较接触不良状态存储单元内存储的上述触针的不良状态数据和上述电路板的状态，判断上述检测错误是上述电路板的电路故障错误还是上述触针的接触不良错误；以及，输出步骤，输出和通知上述检测结果分析步骤的判断结果。其特征在于，当上述检测错误发生时的上述电路板的状态存在于上述接触不良状态存储单元内的上述触针接触不良状态的数据中时，上述检测结果分析步骤判断所述检测错误为触针的接触不良错误，然后由上述输出步骤输出和通知上述触针的接触不良错误信息。为了实现上述目的，本专利技术提供了一种通过使用多个触针，将上述触针与电路板相接触检测上述电路板的电路板检测方法，它包括检测设定步骤，设定检测内容，上本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有多个触针的电路板检测装置，通过将所述触针与所述电路板相接触检测所述电路板，它包括：检测设定单元，用来设定检测内容，所述检测内容至少包括所述电路板的检测顺序、次数；检测实施单元，用来根据所述检测内容检测所述电路板； 接触不良状态存储单元，用来存储接触不良状态数据，所述接触不良状态数据为所述触针接触不良时的接触不良状态以及所述电路板的电路状态等的接触不良状态数据；检测结果分析单元，当检测所述电路板的检测结果是检测错误时，用来比较该次检测时的所 述电路板状态和所述接触不良状态存储单元内存储的所述触针的不良状态数据，判断所述检测错误是所述电路板的电路故障错误还是所述触针的接触不良错误；以及，输出单元，用来输出和通知所述检测结果分析单元的判断结果，其特征在于，　 　当发生所述检测错误时的所述电路板的状态存在于所述接触不良状态存储单元内的所述触针接触不良状态的数据中时，所述检测结果分析单元判断所述检测错误为触针的接触不良错误，然后由所述输出单元输出和通知所述触针的接触不良错误信息。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：江部利明，
申请(专利权)人：株式会社理光，
类型：发明
国别省市：JP[日本]