【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及存储器的数据存取
，更具体地说，涉及一种数据储存装置、控 制器以及于有关于次等级(downgrade)存储器的数据存取的方法。
技术介绍
存储器可分为正常存储器与次等级存储器。存储器包括多个记忆单元以供储存数 据。当生产制造商要将存储器出货前，必须先经过生产测试以验证存储器的记忆单元是否 可正确地储存数据。若存储器经过测试而无法正确地储存数据，则生产制造商会将无法通 过测试的存储器归类为次等级存储器，并以低价出售次等级存储器。亦即，由于半导体生产 过程上的误差，导致次等级存储器包括有缺陷的记忆单元，而该等有缺陷的记忆单元无法 正常的储存数据。图IA为次等级存储器一区块150的示意图。次等级存储器包括多个区块(block)， 其中区块150包括多个页(page)，每一页又区分为多个扇区(sector)，每一扇区包括多个 记忆单元以储存数据。于图IA中可见，第0页的第1扇区包括一有缺陷的记忆单元161，第 1页的第2扇区包括一有缺陷的记忆单元162，第2页的第0扇区包括一有缺陷的记忆单元 163。由于区块150包括多个有缺陷的记忆单元，因此次等级...
【技术保护点】
一种数据储存装置，耦接至一主机，其特征在于，包括：一次等级存储器，包括多个区块，每一该等区块包括多个页，每一该等页包括多个扇区，其中部分该等区块的部分缺陷扇区包括有缺陷的记忆单元；以及一控制器，产生一缺陷状态表以纪录该次等级存储器的该等区块的所有该等缺陷扇区的位置，自该主机接收欲写入该次等级存储器的多个扇区数据，依据该缺陷状态表决定供储存该等扇区数据的多个实体扇区地址，以及依据该等实体扇区地址向该次等级存储器发送一至多个写入命令以将该等扇区数据写入该次等级存储器的该等实体扇区地址。
【技术特征摘要】
1.一种数据储存装置，耦接至一主机，其特征在于，包括一次等级存储器，包括多个区块，每一该等区块包括多个页，每一该等页包括多个扇 区，其中部分该等区块的部分缺陷扇区包括有缺陷的记忆单元；以及一控制器，产生一缺陷状态表以纪录该次等级存储器的该等区块的所有该等缺陷扇区 的位置，自该主机接收欲写入该次等级存储器的多个扇区数据，依据该缺陷状态表决定供 储存该等扇区数据的多个实体扇区地址，以及依据该等实体扇区地址向该次等级存储器发 送一至多个写入命令以将该等扇区数据写入该次等级存储器的该等实体扇区地址。2.根据权利要求1所述的数据储存装置，其特征在于，其中该控制器自该次等级存储 器取得尚未储存数据的多个空实体扇区地址，依据该缺陷状态表检查该等空实体扇区地址 是否与该等缺陷扇区的位置相符合，以及若该等空实体扇区地址与该等缺陷扇区的位置不 相符合，决定该等实体扇区地址为该等实体扇区地址，以决定该等实体扇区地址。3.根据权利要求1所述的数据储存装置，其特征在于，其中该控制器自该次等级存储 器的该等区块选取一待测区块，将一预定数据写入该待测区块，读取该待测区块以得到一 读出数据，若该预定数据与该读出数据不相符时比对该预定数据与该读出数据的不相符部 分以决定该待测区块的该等缺陷扇区的位置，于该缺陷状态表中纪录该待测区块的该等缺 陷扇区的位置，并重复待测区块的选取步骤至缺陷扇区的位置的纪录步骤直至所有该等区 块均已被选取为待测区块为止，以产生该缺陷状态表。4.根据权利要求1所述的数据储存装置，其特征在于，其中该控制器自该主机接收对 应于该等扇区数据的起始地址的一写入逻辑地址，依据该写入逻辑地址决定分别对应于该 等扇区数据的多个逻辑扇区地址，于该等扇区数据写入该等实体扇区地址后于一地址链结 表中纪录该等逻辑扇区地址与该等实体扇区地址的对应关系。5.根据权利要求4所述的数据储存装置，其特征在于，其中当该控制器自该主机接收 到欲读取的一读取逻辑地址时，该控制器依据该地址链结表找出对应于该读取逻辑地址的 一至多个读取实体扇区地址，并依据该等读取实体扇区地址向该次等级存储器发送一至多 个读取命令以将自该次等级存储器读出对应于该读取逻辑地址的数据。6.根据权利要求1所述的数据储存装置，其特征在于，其中该等写入命令为序号为 0x80的随机写入命令。7.一种于次等级存储器存取数据的方法，其中该...
【专利技术属性】
技术研发人员：叶国良，许根富，
申请(专利权)人：慧荣科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
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