与显示驱动方案集成的显示元件感测、测量或表征的方法及设备以及使用所述方法及设备的系统及应用技术方案

本发明专利技术描述用于显示元件的电感测、测量及表征的方法及系统。一实施例包括将所述电感测、测量及表征与显示驱动方案集成。此实施例允许将对干涉式调制器ＭＥＭＳ装置的ＤＣ或操作滞后电压及／或响应时间的测量例如与显示驱动器ＩＣ及／或所述显示驱动方案完全集成。另一实施例允许在不导致人类用户可见的显示假影的情况下执行及使用这些测量。另一实施例允许重新使用若干现有电路组件及特征将测量电路与所述显示驱动器ＩＣ及／或所述显示驱动方案集成，因而允许测量方法的集成及其使用相对容易。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种方法，其包含：在显示元件的第一电极与第二电极之间施加信号，其中所述信号处于致使所述显示元件处于多个显示状态中的第一显示状态中的电平；在所述两个所述电极之间施加第二信号以使所述显示元件从一个状态转变到另一状态；测量所述显示元件的响应于所述所施加的第二信号的电响应；基于所述所测量的电响应而识别所述显示元件是否已达到所要最终状态；及在所述显示元件尚未达到所述所要最终状态的情况下调整所述第二信号。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：阿洛科戈维尔，
申请(专利权)人：高通MEMS科技公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]