【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种半导体器件,并且更具体地,涉及一种制造 MOS晶体管的方法。
技术介绍
与3又4及晶体管相比,大功率MOS场岁文应晶体管(MOSFET) (其为单才及器件)可以具有相对高的输入阻抗, -使得其可以具有大 的功率增益和简单的栅极驱动器IC。当器件截止时,由于少量载流 子积累和/或复合(再结合,recombination),大功率MOSFET也具 有没有大的时间延迟的优势。因此,近来这样的MOSFET的使用 在包4舌伊J长口开关才莫式电源(switching mode power supply )的生产、 (开)灯调节、电动驱动器IC的生产等的各种应用中得到增加。 这才羊的功率MOSFET可以包4舌例如^f吏用平面扩散冲支术的双扩散 MOSFET (DMOSFET)结构。在高压半导体器件中,具有适合于 高压应用的特定结构的横向扩散MOS ( LDMOS )是DMOSFET的 一个实例,其中,通过在沟道区和漏电才及之间4翁入漂移区而4吏该沟 道区和漏电扭J皮此隔离并由4册电才及控制。图1是示出了低压(LV ) MOS栅极驱动器和高压(HV ) MOS ...
【技术保护点】
一种方法,包括: 在硅衬底中形成第一阱; 在所述硅衬底上方形成第一掩模图案; 使用所述第一掩模图案作为掩模在所述硅衬底中形成第二阱; 去除所述第一掩模图案; 在所述硅衬底上方形成第二掩模图案; 使用所述第 二掩模图案作为掩模,在所述硅衬底中形成第一漂移区; 去除所述第二掩模图案; 在所述硅衬底上方形成第三掩模图案; 使用所述第三掩模图案作为掩模,在所述硅衬底中形成第二漂移区; 去除所述第三掩模图案; 在所述硅衬底 上方形成场氧化膜;以及 通过实施沟 ...
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:金凤吉,
申请(专利权)人:东部高科股份有限公司,
类型:发明
国别省市:KR[韩国]
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