【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及用于进行试样中所含的被检测物质的光学测定的测定元件。技术背景 一直以来，作为用于进行试样的光学测定的测定元件(cell)，为了防止设置在测 定元件的侧面的光学窗部污损，提出了一种方形玻璃元件，其具有光学窗部有凹面的构造 (例如专利文献1)。专利文献1 日本特开平10-273331号公报
技术实现思路
但是，上述专利文献1所记载的元件的光学窗部一直露出到外部，因此存在这样 的问题，即，不能够很好地保护该光学窗部不受污垢、损伤的侵害，由于在光学窗部上附着 污垢或受到损伤而产生误测定。于是，本专利技术目的在于，解决上述这样的现有问题，提供通过保护光学窗部而能够 防止由污染、损伤所导致的误测定的测定元件。为了解决上述问题，本专利技术的测定元件，包括用于保持试样的试样保持部；用于 向所述试样保持部的内部供给试样的开口部；用于使光入射于所述试样保持部的内部、并 使光射出至所述试样保持部的外部的光学窗部；沿所述试样保持部的外周可移动地设置、 用于保护所述光学窗部的保护罩；和用于将所述保护罩保持在覆盖所述光学窗部的位置上 的第一保护罩保持部。本专利技术的测定元件...
【技术保护点】
一种测定元件，所述测定元件，包括测定元件本体和保护罩，所述测定元件本体具有：试样保持部、开口部、光学窗部以及第一保护罩保持部；所述试样保持部用于保持试样；所述开口部用于向所述试样保持部的内部供给试样；所述光学窗部用于使光入射于所述试样保持部的内部、并使光射出至所述试样保持部的外部；所述第一保护罩保持部用于将所述保护罩保持在覆盖所述光学窗部并且露出所述开口部的位置上；所述保护罩用于保护所述光学窗部，其被设置成可沿所述试样保持部的外周进行移动。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：福永淳，野口荣治，中南贵裕，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。