用于电磁波谱或光学分析特别是光度分析、分光光度分析或图像分析的装置制造方法及图纸

一种装置，用于对待分析材料进行电磁波谱或光学分析，该材料位于产品区诸如容器或管中，特别是用于对粉末、块状材料、颗粒等进行光度分析、分光光度分析或图像分析，该装置具有位于外壳中的测量探头，该测量探头具有至少一个辐射或光测量元件、设置在该外壳壁内并处于光路中的测量窗口、以及至少一个用于分析的检测元件。测量探头以这样一种方式形成并且在轴向可移动地被引导，该方式使设有测量窗口的至少部分外壳通过开口进入包含待分析材料的产品区中，以用于分析。该至少一个测量窗口被设置在外壳周壁的至少一个子区域中。密封帽被设置在外壳的前端面与设置在周壁中的测量窗口之间，在测量探头的退回位置，测量窗口处于产品区之外，该密封帽至少部分地仍然处于产品区（３）的开口（５）区域中，并因此覆盖该开口（５）。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种装置，其用于对位于产品区例如容器或管中的待分析材料进 行电磁波谱或光学分析，特别是用于对粉末、块状材料、颗粒等进行光度分析、 分光光度分析或图像分析，该装置具有设置在外壳中的测量探头，该测量探头 具有至少一个辐射或光测量元件、设置在外壳壁内并且位于光路中的测量窗口、 以及至少一个用于进行分析的检测元件，该测量探头以这样一种方式形成并且 沿轴向可移动地被引导，即，使得该测量窗口所在的至少部分外壳通过开口进 入包含待分析材料的产品区，以便进行分析。本专利技术也涉及一种用于分析位于 产品区内的待分析材料的方法。
技术介绍
从美国专利US6,873,409 B1中可知，借助于插入到含有待分析材料的容器 中的测量探头，采用反射或透射反射的光度分析或分光光度分析，对待分析材 料的化学成分、密度、含水量等进行分析。其使用领域例如为混合器、千燥器、 粒化装置、反应器、喷雾器、涂料器等，特别是在制药工业中。根据现有的技 术，测量探头与其测量和检测元件设置在外壳中，该测量探头具有测量窗口， 该测量窗口设置在测量探头或测量探头外壳的最前端。光随后沿探头的方向沿 轴向入射。例如，光在那里本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于对待分析材料进行电磁波谱或光学分析的装置，该材料位于产品区诸如容器或管中，该装置特别是用于对粉末、块状材料、颗粒等进行光度分析、分光光度分析或图像分析，具有位于外壳中的测量探头，该测量探头具有至少一个辐射或光测量元件、设置在该外壳壁内并处于光路中的测量窗口、以及至少一个用于分析的检测元件，该测量探头以这样一种方式形成并且沿轴向可移动地被引导，该方式使该测量窗口所在的至少部分外壳通过开口进入包含待分析材料的产品区中以便进行分析，其特征在于：至少一个测量窗口（１３）被设置在外壳（１）周壁的至少一个子区域中，并且密封帽（１４）被设置在外壳（１）的前端面与设置在周壁中的测量窗口（１３）之间，在...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：J曼哈特，T佩奇，
申请(专利权)人：JM分析测量及自动控制技术有限责任公司，艾罗美蒂克菲尔德股份公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]