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一种装置，用于对待分析材料进行电磁波谱或光学分析，该材料位于产品区诸如容器或管中，特别是用于对粉末、块状材料、颗粒等进行光度分析、分光光度分析或图像分析，该装置具有位于外壳中的测量探头，该测量探头具有至少一个辐射或光测量元件、设置在该外壳壁...该专利属于J＆M分析测量及自动控制技术有限责任公司;艾罗美蒂克-菲尔德股份公司所有，仅供学习研究参考，未经过J＆M分析测量及自动控制技术有限责任公司;艾罗美蒂克-菲尔德股份公司授权不得商用。