一种光盘非对称性的测试装置与方法，该装置由该装置由ＲＦ信号读出系统、均衡器、比较电平发生器、第一比较器、高通滤波器、上半波提取器、下半波提取器、峰值保持器、谷值保持器、反向器、第一峰值探测器、第一谷值探测器、第二谷值探测器、第二峰值探测器和数据处理系统构成，所述的均衡器、比较电平发生器、第一比较器、高通滤波器、上半波提取器、下半波提取器、峰值保持器、谷值保持器、反向器、第一峰值探测器、第一谷值探测器、第二谷值探测器、第二峰值探测器可在一片可编程逻辑门阵列上实现，本发明专利技术具有原理简单，实现方便，可靠实用，能灵活扩展功能和性价比高的优点。
【技术实现步骤摘要】
技术介绍
本专利技术涉及光盘，特别是一种光盘非对称性的测试装置与方法。
技术介绍
在有机染料数字光存储中，写入信息时记录介质产生不可逆的物理化学变化，形 成永久性的记录。写入时毫瓦级的激光束在记录介质膜层上聚焦形成高能量密度微光斑， 在极短时间内把光照微区内的膜层温度升高到数百度，使膜面性质发生改变或完全破坏， 形成稳定的记录信息点，即坑道。坑道不同的长度代表了不同的记录信息。在光盘的复制过程中，坑道的长度随着环境温度，有机染料的敏感性，刻录激光的 波长等的影响，很容易发生不好的变化。为了保证每个坑道长度符合3T 11T，14T的要求， 需要进行严格控制刻录环境，尤其是光盘复制系统的驱动功率。在光盘复制系统内部，有一 个专门不断调整最优驱动功率的过程，使激光束刻录的坑道长度符合要求。光盘的非对称性描述了光盘在刻录的过程中长短坑信号的对称情况。它代表了光 盘的刻录工艺，拥有好的非对称性的盘片，误码率和抖晃都会相应降低，便于读出。所以对 非对称性的检测具有非常重要的意义，非对称性在实际生产中经常作为评判光盘复制工艺 的一个重要指标。在DVD标准中，非对称性被定义为ASYM= /I14(A)其中(Ι14Η+Ι14 )/2表示14T信号的中间值，(Ι3Η+Ι3 )/2表示3T信号的中间值，114表 示14T信号的峰峰值，即(I3h-I3l)。对于DVD盘片来说，ASYM的值必须处于-0. 05和+0. 15 之间，否则便表明光盘刻录质量不符合非对称性要求。上述各T(3T，14Τ)是指3Τ 11Τ，14Τ所代表的模拟信号。由于编码的时候游程 长度的限制，光盘的记录信息只能通过3Τ 11Τ，14Τ代表的十种长度的坑道来表示。T为 1倍速的转速所代表的周期。典型的包含3Τ 11Τ，14Τ的RF信号波形如图5所示。目前市面上对光盘非对称性的测量都是集成在其它测量的基础之上，而一台集成 测量的整机价格非常昂贵。而本专利旨在提供一种单独测量非对称性的装置与方法，价格 便宜，容易实现。
技术实现思路
本专利技术旨在提供一种光盘非对称性的测试装置与方法，以实现对DVD盘片的非对 称性的测量，该装置应具有原理简单，实现方便，实用可靠，能灵活扩展功能和性价比高的 优点。本专利技术的技术解决方案如下一种光盘非对称性的测试装置，特点在于该装置由RF信号读出系统、均衡器、比 较电平发生器、第一比较器、高通滤波器、上半波提取器、下半波提取器、峰值保持器、谷值 保持器、反向器、第一峰值探测器、第一谷值探测器、第二谷值探测器、第二峰值探测器和数 据处理系统构成，上述元部件的位置关系如下所述的RF信号读出系统的输出端与所述的均衡器的输入端相连，该均衡器有六 个输出端，分别连接所述的比较电平发生器的输入端、高通滤波器的输入端、上半波提取器 的第一输入端、下半波提取器的第一输入端、第一峰值探测器的输入端和第一谷值探测器 的输入端；所述的高通滤波器的输出端接所述第一比较器的第二输入端；所述的第一比较器的第一输入端与所述的比较电平发生器的输出端相连，该比较 器有四个输出端，分别与所述的上半波提取器的第二个输入端、所述的下半波提取器的第 二个输入端、所述的峰值保持器的第二输入端、所述反向器的输入端相连；所述的反向器的输出端接所述的谷值保持器的第二输入端；所述上半波提取器的输出端接所述的峰值保持器的第一输入端，该峰值保持器的 输出端接所述第二谷值探测器的输入端；所述下半波提取器的输出端接所述的谷值保持器的第一输入端，该谷值保持器的 输出端接所述第二峰值探测器的输入端； 所述第一峰值探测器、第一谷值探测器、第二谷值探测器和第二峰值探测器的输 出端都连接至所述的数据处理系统。所述的RF信号读出系统由市场上普通的商用光驱构成。所述的比较电平发生器的构成是从输入到输出包括依次连接的第二高通滤波 器、第二比较器、积分器和比较电平调整器，所述比较电平调整器的输出反馈端连接到所述 第二比较器的第二输入端，所述比较电平调整器稳定后的输出即是所述的比较电平发生器 的输出。利用上述光盘非对称性测试装置进行光盘非对称性的测量方法，该方法包括如下 步骤①将待测光盘放在所述RF信号读出系统的光驱里，在光驱通电运转即读盘的时 候，从所述RF信号读出系统输出具有待测光盘信息的RF信号，该RF信号通过所述均衡器 滤去杂波平滑后得到均衡RF信号，经六个输出端分别向所述的比较电平发生器的输入端、 高通滤波器的输入端、上半波提取器的第一输入端、下半波提取器的第一输入端、第一峰值 探测器的输入端和第一谷值探测器的输入端输出所述的均衡RF信号；②所述的比较电平发生器接收所述的均衡器的均衡RF信号后生成一个稳定的比 较电平(SL)并输入所述的第一比较器；③所述的高通滤波器滤去所述均衡RF信号的直流分量后，获得去直RF信号并输 入所述的第一比较器；④所述的去直RF信号与所述的比较电平(SL)在所述的比较器进行比较若所述 的去直RF信号大于所述的比较电平(SL)便输出“1”，若所述的去直RF信号小于所述的比 较电平(SL)便输出“0”，从而得到二值化RF信号(RFS)，该二值化RF信号(RFS)分别向所 述的上半波提取器的第二个输入端、所述的下半波提取器的第二个输入端、所述的峰值保 持器的第二输入端和所述反向器的输入端输入；⑤所述的上半波提取器根据输入的所述的二值化RF信号(RFS)对所述的均衡RF 信号提取上半波当二值化RF信号(RFS)为逻辑“1”时，便开始提取所述均衡RF信号值， 当二值化RF信号(RFS)为逻辑“0”时便停止提取并保持电平值，得到RF信号的上半波；⑥所述的下半波提取器根据输入的所述的二值化RF信号(RFS)对所述的均衡RF 信号提取下半波当二值化RF信号(RFS)为逻辑“0”时，便开始提取所述均衡RF信号值， 当二值化RF信号(RFS)为逻辑“1”时便停止提取并保持电平值，得到RF信号的下半波；⑦所述峰值保持器对所述的RF信号的上半波进行峰值采样保持处理当所述二 值化RF信号(RFS)为逻辑“1”时，对所述的RF信号的上半波进行峰值采样，当二值化RF 信号(RFS)为逻辑“0”时，对前一次提取的峰值进行保持；⑧所述二值化RF信号(RFS)通过所述的反向器生成逻辑反向的二值化RF信号 (RFS’)，该逻辑反向的二值化RF信号(RFS’ )控制所述谷值保持器的对所述的RF信号的 下半波进行谷值采样保持处理当所述的逻辑反向的二值化RF信号(RFS’)为逻辑“1”时， 对所述RF信号的下半波进行谷值采样，当所述逻辑反向的二值化RF信号(RFS’ )为逻辑 “0”时，对前一次提取的谷值进行保持；⑨所述峰值保持器的输出通过所述第二谷值探测器得到3T信号的峰值I3h，所述 谷值保持器的输出通过所述第二峰值探测器得到3T信号的谷值1%，所述均衡RF信号直接 通过所述第一峰值探测器得到14T信号的峰值I14h，所述均衡RF信号直接通过所述第一谷 值探测器得到14T信号的谷值Ι1Λ，将所述的I3H、I%、I14H和Iltt输入所述数据处理系统，该 数据处理系统根据下列公式计算待测光盘的非对称性ASYM ASYM = /I14,其中(Ι14Η+Ι14 )/2表示14T信号的中间值，(Ι3Η+Ι3 )/2表示3本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光盘非对称性的测试装置，特征在于该装置由ＲＦ信号读出系统（１）、均衡器（２）、比较电平发生器（３）、第一比较器（４）、高通滤波器（５）、上半波提取器（６）、下半波提取器（７）、峰值保持器（８）、谷值保持器（９）、反向器（１０）、第一峰值探测器（１１）、第一谷值探测器（１２）、第二谷值探测器（１３）、第二峰值探测器（１４）和数据处理系统（１５）构成，上述元部件的位置关系如下：①所述的ＲＦ信号读出系统（１）的输出端与所述的均衡器（２）的输入端相连，该均衡器（２）有六个输出端，分别连接所述的比较电平发生器（３）的输入端、高通滤波器（５）的输入端、上半波提取器（６）的第一输入端、下半波提取器（７）的第一输入端、第一峰值探测器（１１）的输入端和第一谷值探测器（１２）的输入端；②所述的高通滤波器（５）的输出端接所述第一比较器（４）的第二输入端；③所述的第一比较器（４）的第一输入端与所述的比较电平发生器（３）的输出端相连，该比较器（４）有四个输出端，分别与所述的上半波提取器（６）的第二个输入端、所述的下半波提取器（７）的第二个输入端、所述的峰值保持器（８）的第二输入端、所述反向器（１０）的输入端相连；④所述的反向器（１０）的输出端接所述的谷值保持器（９）的第二输入端；⑤所述上半波提取器（６）的输出端接所述的峰值保持器（８）的第一输入端，该峰值保持器（８）的输出端接所述第二谷值探测器（１３）的输入端；⑥所述下半波提取器（７）的输出端接所述的谷值保持器（９）的第一输入端，该谷值保持器（９）的输出端接所述第二峰值探测器（１４）的输入端；⑦所述第一峰值探测器（１１）、第一谷值探测器（１２）、第二谷值探测器（１３）和第二峰值探测器（１４）的输出端都连接所述的数据处理系统（１５）。...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王国华，阮昊，李曹建，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]
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