用于检测光盘摆动的方法与装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种用于检测光盘摆动的方法与装置。其中用于检测光盘摆动的装置，根据多个检测信号产生摆动信号，所述装置包括：多个摆动处理模块，根据多个检测信号，利用摆动处理模块执行摆动处理，用以产生多个数字值；以及特殊算术单元，用以根据多个数字值产生算术输出信号，其中，利用算术输出信号产生摆动信号，或利用算术输出信号作为摆动信号。本发明专利技术所提供的方法与装置利用数字处理电路而不是模拟组件设计和实施，可减少芯片面积，并达到高性能，并可提高所检测的摆动信号的质量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术有关于光存储装置的摆动检测，特别地，有关于检测光盘摆动的方 法与装置。
技术介绍
传统的摆动检测电路包括很多大尺寸的组件，例如模拟自动增益控制(Automatic Gain Control, AGC )电路和模拟滤波器，其中模拟滤波器例如为模 拟低通滤波器(Low Pass Filter, LPF )和模拟带通滤波器(Band Pass Filter, BPF )。 根据相关的技术，实施传统的摆动检测电路需要芯片面积很大，因为所述多个 模拟组件操作于低频率。在一些前述模拟AGC电路中，因为包络检测器和积分 器需要运作在低频率环境中，所以包络检测器和积分器占据一大芯片区域。在应用中，当在一些AGC电路中实行分别的电压增益放大器(Voltage Gain Amplifiers, VGAs)时，为了保证所检测到的摆动信号的质量，VGAs须完全相 等。由于当VGAs为小尺寸时，很难保证VGAs之间的平衡，因此减少VGAs 的面积是不可行的，因而需要新的摆动检测方法。
技术实现思路
在先前技术中为了保证所检测的摆动信号的质量，VGAs须完全相等，但由 于当VGAs为小尺寸时，很难保证VGAs之间的平衡，因此减少VGAs的面积 是不可行的。为解决上述问题，本专利技术提供一种用于^^测光盘摆动的方法与装置。本专利技术的一目的在于提供一种用于检测光盘摆动的装置，根据多个检测信 号，利用所述装置产生摆动信号，其特征在于所述装置包括模拟信号处理电 路，利用模拟信号处理电路对多个检测信号执行模拟信号处理，用以产生多个输出信号；多个模数转换器，利用模数转换器数字化多个输出信号，用以产生 多个数字值；以及数字信号处理电路，利用数字信号处理电路对多个数字值执行数字信号处理，用以产生算术输出信号，其中，利用算术输出信号产生摆动 信号，或利用算术输出信号作为摆动信号。本专利技术的另一目的在于提供一种用于检测光盘摆动的方法，根据光学读取 单元的分光检测器的多个检测信号，利用所述方法产生摆动信号，其特征在于所述方法包括对多个检测信号执行模拟信号处理，用以产生多个输出信号； 数字化多个输出信号，用以产生多个数字值；以及对多个数字值执行数字信号 处理，用以产生算术输出信号，其中，利用算术输出信号产生摆动信号，或利 用算术输出信号作为摆动信号。本专利技术的再一目的在于提供一种用于检测光盘摆动的装置，根据多个检测 信号，利用所述装置产生摆动信号，其特征在于所述装置包括多个摆动处理 模块，根据多个检测信号，利用摆动处理模块执行摆动处理，用以产生多个数 字值；以及特殊算术单元，用以根据多个数字值产生算术输出信号，其中，利 用算术输出信号产生摆动信号，或利用算术输出信号作为摆动信号。本专利技术所提供的检测光盘摆动的方法与装置利用数字处理电路而不是模拟 组件设计和实施，可大大减少芯片面积，并达到高性能，且不需维持不同VGA 之间的平衡，因此可提高所检测的摆动信号的质量。附图说明图1为本专利技术第一实施例的用于检测光盘摆动的装置10的示意图； 图2为根据图1实施例的光学读取单元的分光检测器的检测布局示意图； 图3和图4为根据本专利技术一实施例的图1所示装置10的实施细节； 图5为本专利技术第二实施例的用于检测光盘摆动的装置20的示意图； 图6为本专利技术第三实施例的用于检测光盘摆动的装置30的示意图； 图7为本专利技术多个实施例的变形所使用的模数转换器； 图8为本专利技术第四实施例的用于检测光盘摆动的装置40的示意图； 图9为本专利技术第五实施例的用于检测光盘摆动的装置示50的意图； 图10为本专利技术第五实施例的一变形所使用的摆动处理模块的示意图； 图11为本专利技术第五实施例的另一变形所使用的一个模数转换器示意图； 图12为本专利技术第五实施例的另 一 变形所使用的两个模数转换器示意图。8具体实施例方式在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定组件。所属
的技术人员应可理解，制造商可能会用不同名词来称呼同一个组件。本说明书 及权利要求并不以名称的差异作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差 异作为区分准则。在通篇说明书及权利要求中所提及的"包含"为开放式用语， 故应解释成"包含但不限定于"。此外，"耦接"一词在此包含任何直接及间接的电气连接手段。藉由以下的较佳实施例的叙述并配合全文的图l至图12说明本 专利技术，但以下叙述中的装置、组件与方法、步骤乃用以解释本专利技术，而不应当 用来限制本专利技术。图1为本专利技术第一实施例的用于检测光盘摆动的装置IO的示意图，其中， 根据光学读取单元(Optical Pickup Unit, OPU )的分光检测器(Split Photo-detector, PD)的多个4企测信号A、 D、 B和C，装置IO可用以产生摆动 信号。本实施例中的装置IO可示范的为光学存储装置，但不应当用来限制本发 明。在一实施例中，装置10亦可为上述光学存储装置的一部分，例如所述光学 存储装置内部的控制电路。如图1所示，装置10包括多个算术单元(未标示)，所述算术单元包括第 一算术单元111和第二算术单元112。通常，如先前技术中常使用的，所述多个 算术单元可用在输入端具有正符号"+"和/或负符号"-"的圓表示。此外，装置10更包括多个LPF 151和152，多个可编程增益放大器 (Programmable Gain Amplifier, PGA) 171和172，至少一个才莫凄t转换器 (Analog-to-Digital Converter, ADC ),例如一 实施例中为两个ADC 211和212, 以及多个数字AGC电路331和332 (在图中标示为"AGCON")。装置10进一 步包括多个偏移减少电路(offset reduction circuit),例如第一偏移减少电路，所 述第一偏移减少电路包括数字偏移控制电路351 (在图中标示为"OFCON")、 数模转换器(Digital-to-Analog Converter, DAC ) 371和算术单元131。此外， 装置10也包括第二偏移减少电路，所述第二偏移减少电路包括数字偏移控制电 路352 (在图中标示为"OFCON，，)、 DAC372和算术单元132。装置10进一步 包括耦接至上述多个算术单元的特殊算术单元310的LPF 410、 BPF 430以及预 刻凹轨检测电路(Land Pre-Pit Detection Circuit, LPPDET) 450。在图1中，电路100所标示的"第一级信号处理电路"，可用模拟组件实施，根据本专利技术的第一方面也可指模拟信号处理电路。此外，特殊算术单元310所 标示的"第二级信号处理电路"、数字AGC电路331和332(皆标示为"AGCON")、 数字偏移控制电路351和352(皆标示为"OFCON，，)皆可用数字处理电路实施。 因此，根据本专利技术的第一方面，特殊算术单元310、数字AGC电路331和332、 数字偏移控制电路351和352可指数位信号处理电路。上述只作为示范例，而 不应当用来限制本专利技术。根据本专利技术的第二方面，特殊算术单元310的一些前 级电路可指一对摆动处理模块，例如第一摆动处理模块和第二摆动处理模块。更特别地，第一摆动处理模块包括模拟信号处理电路，所述模本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测光盘摆动的装置，用以根据多个检测信号产生一摆动信号，其特征在于所述装置包括：　一模拟信号处理电路，用以对所述多个检测信号执行模拟信号处理，以产生多个输出信号；　多个模数转换器，用以数字化所述多个输出信号，以产生多个数 字值；以及　一数字信号处理电路，用以对所述多个数字值执行数字信号处理，以产生一算术输出信号，其中，利用所述算术输出信号产生所述摆动信号，或利用所述算术输出信号作为所述摆动信号。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：林子杰，郑裕，陈志清，刘赐斌，林郁轩，
申请(专利权)人：联发科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]