光学头、光盘装置以及集成电路制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光学头、光盘装置以及集成电路，即使在被记录的信息轨道和未被记录的信息轨道的边界上，也能够实现散焦的影响较小的光盘倾斜信号检测。受光元件７的受光区域具有区域１３、７ａ至７ｄ。倾斜检测器，根据第１差信号、即，从区域７ａ得到的信号和从区域７ｂ得到的信号的差信号，和第２差信号、即，从区域７ｃ得到的信号和从区域７ｄ得到的信号的差信号，进行倾斜检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种以光学方式在光盘等信息记录媒体上记录信息或者 再生信息的光学头、具备光学头的光盘装置以及集成电路。
技术介绍
作为以往的光盘用光学头，有一种如专利文献l(日本特开2003-45058号专利公开公报)所公开的光学头，具有检测光盘与光学头的光轴相对倾斜 的功能。图22是专利文献1所记载的以往的光学头的结构示意图。符号101 表示光源，符号102表示光学头的光轴，符号103表示分光镜(beam splitter),符号104表示物镜，符号105表示光盘，符号106表示检测光学 系统，符号107表示受光单元，符号108表示检测光盘的倾斜的倾斜检测 单元，符号109表示信号演算单元，符号110表示将输入信号放大k0倍 的放大器，符号111表示差动放大器，符号PP1、 PP2表示信号演算单元 109检测到的两个差信号，符号TILT表示倾斜检测单元108产生的倾斜检图23是上述受光单元107的受光区域以及射入其中的光束的示意图。 如图23所示，受光区域107由107a 107f六个区域构成，107a 107f各 区域是分别检测与射入的光束112相对应的光量的区域。在光束112左右 的圆弧所围成的两个区域112a、 112b表示在光盘105的信息轨道槽衍射 的衍射光的0次成分与士l成分重叠的区域。另外，图中的箭头方向表示信 息轨道的方向。如图22所示，光源101发出的激光穿过分光镜103，经物镜104聚光在光盘105的信息记录面上。光盘105反射的光线再次穿过物镜104，在 分光镜103上反射。然后，该光线再经光学检测系统106而被引向受光单 元107。如图23所示，射入受光单元107的光束112由107a 107f受光区域 分别受光后，再由信号演算单元109检测出差信号PP1和差信号PP2。如 用各受光区域107a 107f的输出电信号来表示这两个差信号PP1和PP2， 则结果如下PPl = 107c+ 107e —(107d+ 107f)PP2=107a—107b。此关系式中的107a 107f表示的是各受光区域的输出电信号。 在倾斜检测单元108中，差信号PP1经放大器110放大k0倍后，由差动放大器111从差信号PP2中减去，然后作为信号TILT而输出。也就是说，信号TILT可以用 TILT二PP2—k0 * PP1来表示(*表示乘号。以下相同)。此处，设定常数k0，以便用差信 号PP1中产生的偏移对因物镜104的光轴与光学头光轴102的位置偏差所 引起的差信号PP2的偏移进行补正。因此，信号TILT则成为不会产生因 物镜104的位置偏差引起的偏移的信号。在光盘105相对光学头的光轴102发生了倾斜时，光穿过光盘105的 透明基片时会出现彗形象差(coma)现象。这种彗形象差主要使上述的来自 信息轨道的衍射光的0次成分和±1次成分重叠的区域的波阵面发生变形。 这种波阵面的变形，在检测差信号PP1的区域和检测差信号PP2的区域中 有所不同，在这些区域检测到的信号，通过信息轨道而分别受到不同的调 制。因此，这种调制的差异表示光盘的倾斜，并体现在信号TILT中。于 是，通过检测光点追踪信息轨道中心时的信号TILT，则可以实现不易受到 物镜104位置偏差影响的光盘倾斜检测。然而，在前面所述的以往的光学头的结构中，存在这样一种课题，在 被记录的信息轨道与没有被记录的信息轨道的反射率有所不同，例如，在 相位变化型的光盘等中，光束中央部位的光的强度分布的对称性发生较大 变化，在光盘倾斜检测信号中会产生检测误差。由图24可知，通过在光束112中央部位的光量分布的对称性变化较大的区域(仅包含衍射光的0次成分的区域，或主要包含0次成分的区域) 配置遮光区113 (N区域)，则可以降低差信号PP1和差信号PP2的对称 性变化的影响。图25为光盘105的信息轨道截面的图案示意图。各信息轨道分别标 注信息轨道编号1 9。1 9号信息轨道中，4 6号为被记录的信息轨道，1 3号及7 9 号为没有被记录的信息轨道。只有以影线标示的信息轨道4 6表示的是 被进行了记录而反射率降低。图26 (a) (b)是就图24所示的受光区域，在图25所示的信息轨道 图案周期性重复的情况下，对光点穿过这些1 9号信息轨道时产生的信 号TILT电平进行模拟的结果。而且，计算条件如下。即，光源的波长设为405nm，物镜的NA设为 0.85，光盘的透明基片厚度设为100/xm，信息轨道的间距为0.32/xm，信息 轨道槽的宽度为0.2/xm，信息轨道的深度为1/12波长，被记录的信息轨道 的反射率为0.6，没有被记录的信息轨道的反射率为1.0，光盘的倾斜为 Odeg。此外，检测信号PP2的受光区域107a与受光区域107b的信息轨道 方向的宽度为光束直径的0.30，检测信号PP1的受光区域107c、 107d、 107e、 107f的信息轨道方向的宽度为光束直径的0.60，而在其以外的区域则不作 为计算条件来使用。另外，遮光区113 (N区域)的信息轨道垂直方向上 的宽度为光束直径的0.35。而且，还设定常数kO值，以便对上述的物镜 的位置偏差为土10(^m时所产生的偏移进行补正，此处取1.20。计算结果如图26(a) (b)所示。图26(a)的3条折线是散焦量为0Mm 时，在物镜的位置偏差分别为0/mi、 士100/mi的条件下计算的结果。另外， 图26 (b)的5根折线是物镜位置偏差为0/mi时，在散焦量分别为0/mi、 士0.1/mi、 士0.2]um的条件下计算的结果。在这些图中，横轴对应的是图25 的信息轨道编号，纵轴是将光盘倾斜检测信号TILT换算成光盘倾斜量所 得到的值(单位deg)。根据图26 (a)、 (b)可知如下。即，在决定常数k0以控制物镜的位 置偏差引起的光盘倾斜检测信号的变动的情况下，如图26 (a)所示，物镜的光轴即使偏离了光学头的光轴，对于所有编号的轨道，均可将光盘倾 斜检测信号即倾斜检测信号控制在足够小的程度。另一方面，在发生散焦的情况下，如图26 (b)所示，尤其是位于被记录的信息轨道与没有被记 录的信息轨道的边界上、即编号为3、 4、 6、 7的轨道附近的光盘倾斜检 测信号的电平会发生变动。因此，在被记录的信息轨道与没有被记录的信 息轨道的边界上，就会出现像检测光盘倾斜一样的误差。
技术实现思路
本专利技术就是为了解决这一课题，其目的在于提供一种光学头、集成电 路以及光盘装置，即使在被记录的信息轨道与没有被记录的信息轨道的边 界上，也能够实现散焦的影响较小的光盘倾斜信号检测。为解决上述问题，本专利技术提供了一种光学头，包括光源、将从该光源 射出的激光聚光在光盘的信息轨道上的物镜和对上述信息轨道反射的光 束进行受光的受光单元，其中，上述受光单元包括被分割线和区划线分割成多个区域的光束射入区域，其中所述分割线和区划线分别为通过上述 物镜的光轴且与上述信息轨道的切线方向平行的直线状纵分割线、与该纵 分割线垂直且相对上述光轴而相互对称配置的直线状第1横分割线及第2 横分割线、在上述两横分割线之间、以与上述纵分割线及上述两横分割线相隔的状态相对上述纵分割线而相互对称配置的第1区划线及第2区划 线，上述第1区划线及第2本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学头，其特征在于包括，光源、将从该光源射出的激光聚光在光盘的信息轨道上的物镜、对上述信息轨道反射的光束进行受光的受光单元以及检测上述物镜与光盘的相对倾斜的倾斜检测单元，其中：　上述受光单元包括被纵分割线、横分割线以及内侧线分割成 多个区域的光束射入区域，其中所述纵分割线为通过上述物镜的光轴且与上述信息轨道的切线方向平行的直线状纵分割线；所述横分割线为在与该纵分割线相垂直的方向上延伸且相对上述纵分割线而相互对称配置的一对第１横分割线、与这一对第１横分割线平行且相对上述纵分割线而相互对称配置的一对第２横分割线、在由上述纵分割线划分出的区域中的其中一侧区域内的上述第１横分割线及上述第２横分割线之间，相互隔开间隔而与上述横分割线平行配置的第３横分割线及第４横分割线、在由上述纵分割线划分出的区域中的另一侧区域内的上述第１横分割线及第２分割线之间，相互隔开间隔而与上述横分割线平行配置的第５横分割线及第６横分割线、在相对上述第１横分割线及上述第２横分割线而与上述光轴相反的一侧、和这些横分割线平行配置且相对上述光轴而相互对称配置的第７横分割线及第８横分割线；所述内侧线为与上述纵分割线平行延伸且连接处于其中一侧的上述第１横分割线、上述第３横分割线、上述第４横分割线及上述第２横分割线的内侧端部的第１内侧线、与上述纵分割线平行延伸且连接处于另一侧的上述第１横分割线、上述第５横分割线、上述第６横分割线及上述第２横分割线的内侧端部的第２内侧线；其中，　上述光束射入区域，　在上述第１内侧线及上述第２内侧线之间设有跨越上述纵分割线的Ｎ区域；　由上述纵分割线划分出的区域中的其中一侧区域的由上述第１横分割线、上述第２横分割 线及上述第１内侧线区划出的区域，被分割为位于上述第３横分割线及上述第４横分割线之间的Ａ１区域和剩余的Ａ７区域；　由上述纵分割线划分出的区域中的另一侧区域中的由上述第１横分割线及上述第２横分割线及上述第２内侧线区划出的区域，被分割为位于 上述第５横分割线及上述第６横分割线之间的Ｂ１区域和剩余的Ｂ７区域；　相对上述第７横分割线及上述第８横分割线与上述光轴相反的一侧区域设有Ｎ２区域；　上述的一对第１横分割线和上述的一对第２横分割线，相对上述光轴而相互对称配置；　 　上述Ａ１区域和上述Ｂ１区域，相对上述纵分割线而相互对称配置；　上述Ａ７区域和上述Ｂ７区域，相对上述纵分割线而相互对称配置；...

【技术特征摘要】
JP 2004-8-31 2004-2515561. 一种光学头，其特征在于包括，光源、将从该光源射出的激光聚光在光盘的信息轨道上的物镜、对上述信息轨道反射的光束进行受光的受光单元以及检测上述物镜与光盘的相对倾斜的倾斜检测单元，其中上述受光单元包括被纵分割线、横分割线以及内侧线分割成多个区域的光束射入区域，其中所述纵分割线为通过上述物镜的光轴且与上述信息轨道的切线方向平行的直线状纵分割线；所述横分割线为在与该纵分割线相垂直的方向上延伸且相对上述纵分割线而相互对称配置的一对第1横分割线、与这一对第1横分割线平行且相对上述纵分割线而相互对称配置的一对第2横分割线、在由上述纵分割线划分出的区域中的其中一侧区域内的上述第1横分割线及上述第2横分割线之间，相互隔开间隔而与上述横分割线平行配置的第3横分割线及第4横分割线、在由上述纵分割线划分出的区域中的另一侧区域内的上述第1横分割线及第2分割线之间，相互隔开间隔而与上述横分割线平行配置的第5横分割线及第6横分割线、在相对上述第1横分割线及上述第2横分割线而与上述光轴相反的一侧、和这些横分割线平行配置且相对上述光轴而相互对称配置的第7横分割线及第8横分割线；所述内侧线为与上述纵分割线平行延伸且连接处于其中一侧的上述第1横分割线、上述第3横分割线、上述第4横分割线及上述第2横分割线的内侧端部的第1内侧线、与上述纵分割线平行延伸且连接处于另一侧的上述第1横分割线、上述第5横分割线、上述第6横分割线及上述第2横分割线的内侧端部的第2内侧线；其中，上述光束射入区域，在上述第1内侧线及上述第2内侧线之间设有跨越上述纵分割线的N区域；由上述纵分割线划分出的区域中的其中一侧区域的由上述第1横分割线、上述第2横分割线及上述第1内侧线区划出的区域，被分割为位于上述第3横分割线及上述第4横分割线之间的A1区域和剩余的A7区域；由上述纵分割线划分出的区域中的另一侧区域中的由上述第1横分割线及上述第2横分割线及上述第2内侧线区划出的区域，被分割为位于上述第5横分割线及上述第6横分割线之间的B1区域和剩余的B7区域；相对上述第7横分割线及上述第8横分割线与上述光轴相反的一侧区域设有N2区域；上述的一对第1横分割线和上述的一对第2横分割线，相对上述光轴而相互对称配置；上述A1区域和上述B1区域，相对上述纵分割线而相互对称配置；上述A7区域和上述B7区域，相对上述纵分割线而相互对称配置；上述倾斜检测单元，根据在上述受光单元受光的光量来检测上述物镜与光盘的相对倾斜。2. 根据权利要求1所述的光学头，其特征在于，上述Al区域和上 述Bl区域，是主要用于检测上述光束的0次光和士l次衍射光相重叠的区 域的中央部的光量的区域。3. 根据权利要求2所述的光学头，其特征在于，上述A7区域和上 述B7区域，是主要用于检测上述光束的0次光和土l次衍射光相重叠的区 域中除去了上述中央部的那部分的光量的区域。4. 根据权利要求1所述的光学头，其特征在于 上述受光单元，具有在上述光束射入区域中相对上述纵分割线而相互对称配置的A8区域和B8区域；其中，上述A8区域是由上述纵分割线划分出的一侧区域中、除去上述Al 区域、上述A7区域、上述N区域及上述N2区域的区域；上述B8区域是由上述纵分割线划分出的另一侧区域中、除去上述B1 区域、上述B7区域、上述N区域及上述N2区域的区域。5. 根据权利要求l所述的光学头，其特征在于 上述受光单元由受光元件构成，且上述光束射入区域设于该受光元件中；上述倾斜检测单元，根据第1差信号、即从上述受光元件的Al区域得到的信号和从上述受光元件的B1区域得到的信号的差信号，和第2差信号、即从上述受光元件的A7区域得到的信号和从上述受光元件的B7 区域得到的信号的差信号，来进行倾斜检测。6. 根据权利要求1所述的光学头，其特征在于 上述受光单元包括，将上述信息轨道反射的光束分为多束光束的分光元件、对被该分光元件分光的各光束分别进行受光的受光元件； 上述光束射入区域被设置在上述分光元件内；上述倾斜检测单元，根据第l差信号、即从在上述分光元件的Al区 域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号和从在上述分光元件 的Bl区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号的差信号， 和第2差信号、即从在上述分光元件的A7区域中衍射、由上述受光元件 检测到的光束得到的信号和从在上述分光元件的B7区域中衍射、由上述 受光元件检测到的光束得到的信号的差信号，来进行倾斜检测。7. 根据权利要求5或6所述的光学头，其特征在于还包括追踪误差 信号生成单元，其中，设 从上述A8区域得到的信号和从上述B8区域得到的信号的差信号 为第3差信号，上述追踪误差信号生成单元，根据上述第1差信号与上述第2差信号 的和信号及上述第3差信号，生成追踪误差信号。8. 根据权利要求2所述的光学头，其特征在于 上述受光单元由受光元件构成，且上述光束射入区域设于该受光元件中；上述倾斜检测单元，根据第1差信号、即从上述受光元件的Al区域 得到的信号和从上述受光元件的B1区域得到的信号的差信号，和第2差 信号、即从上述受光元件的A7区域得到的信号和从上述受光元件的B7 区域得到的信号的差信号，和第3差信号、即从上述受光元件的A8区域 得到的信号和从上述受光元件的B8区域得到的信号的差信号，来进行倾9. 根据权利要求2所述的光学头，其特征在于上述受光单元包括，将上述信息轨道反射的光束分为多束光束的分光 元件、对被该分光元件分光的各光束分别进行受光的受光元件； 上述光束射入区域被设置在上述分光元件内；上述倾斜检测单元器，根据第1差信号、即从在上述分光元件的Al 区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号和从在上述分光元 件的B1区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号的差信号，第2差信号、即从在上述分光元件的A7区域中衍射、由上述受光元件检 测到的光束得到的信号和从在上述分光元件的B7区域中衍射、由上述受 光元件检测到的光束得到的信号的差信号，和第3差信号、即从在上述分 光元件的A8区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的信号和从 在上述分光元件的B8区域中衍射、由上述受光元件检测到的光束得到的 信号的差信号，来进行倾斜检测。10. 根据权利要求8或9所述的光学头，其特征在于还包括追踪误 差信号生成单...

【专利技术属性】
技术研发人员：山崎文朝，门胁慎一，佐野晃正，荒井昭浩，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]