平板式检测器及介质检测器制造技术

本发明专利技术公开了一种平板式检测器及介质检测器。该平板式检测器包括：第一平板部件和第二平板部件，其均由非磁性非金属制成；第一导体配线，其设置在所述第一平板部件的面向所述第二平板部件的表面上，用于形成交变磁场；第一层，其由非磁性金属制成并且至少设置在所述第一平板部件的表面上；第二导体配线，其设置在所述第二平板部件的面向所述第一平板部件的表面上，用于对通过磁性材料的磁化反转生成的信号进行检测，由所述第一导体配线形成的所述交变磁场引起所述磁化反转；以及第二层，其由非磁性金属制成并且至少设置在所述第二平板部件的表面上。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及平板式检测器和介质检测器。
技术介绍
专利文献1 (JP-A-2007-88812)披露了这样一种天线构造其中，承载在挠性基板上的线性导体图案同心地布置成预定轮廓。另外，专利文献2(JP-A-2007-74334)披露了这样一种平面式挠性天线其中，发送线圈部分和接收线圈中的一者堆叠在另一者上，该发送线圈部分用于在预定区域的范围内形成交变磁场以便激励要检测的对象，该接收线圈用于检测来自要检测的对象的磁信号。另外，专利文献3 (JP-A-2008-85779)披露了这样一种平面式天线其包括第一块状图案和第二块状图案，在该第一块状图案中，多个导体图案沿着第一方向平行地形成以便在基板上延伸预定距离，在该第二块状图案中，多个导体图案沿着以直角与该第一方向相交的方向平行地形成以便在基板上延伸预定距离。 对于通过使用交变磁场来使磁性材料磁化反转从而检测通过如此发生的磁化反转而生成的信号的平板式检测器来说，存在错误地检测到外部噪声的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于抑制这样的平板式检测器对外部噪声的错误检测。 根据本专利技术的第一方面，一种平板式检测器包括第一平板部件和第二平板部件，其均由非磁性非金属制成，所述第一平板部件和所述第二平板部件设置成彼此面对并且其间具有用于传送片状介质的空隙；第一导体配线，其设置在所述第一平板部件的面向所述第二平板部件的表面上，用于形成交变磁场；第一层，其由非磁性金属制成并且至少设置在所述第一平板部件的与设置有所述第一导体配线的表面相反的表面上；第二导体配线，其设置在所述第二平板部件的面向所述第一平板部件的表面上，用于对通过包含在所述片状介质中的磁性材料的磁化反转生成的信号进行检测，由所述第一导体配线形成的所述交变磁场引起所述磁化反转；以及第二层，其由非磁性金属制成并且至少设置在所述第二平板部件的与设置有所述第二导体配线的表面相反的表面上。 根据本专利技术的第二方面，所述第一平板部件的厚度设定为这样使所述交变磁场 在所述第一平板部件与所述第一层的接触面处的强度不大于1高斯。 根据本专利技术的第三方面，所述第一层的厚度和所述第二层的厚度不小于lOym且 不大于lmm。 根据本专利技术的第四方面，所述第一层覆盖所述第一平板部件和所述第一导体配线 的除面向用于传送所述片状介质的空隙的表面之外的部分，并且所述第二层覆盖所述第二 平板部件和所述第二导体配线的除面向用于传送所述片状介质的空隙的表面之外的部分。 根据本专利技术的第五方面，所述第一层还覆盖所述第一导体配线的面向用于传送所 述片状介质的空隙的表面的延长面(所述第一层还设置在所述第一导体配线的面向用于 传送所述片状介质的空隙的表面的延长面上)，并且所述第二层还覆盖所述第二导体配线4的面向用于传送所述片状介质的空隙的表面的延长面(所述第二层还设置在所述第二导 体配线的面向用于传送所述片状介质的空隙的表面的延长面上)。 根据本专利技术的第六方面，所述第一平板部件覆盖所述第一导体配线的除面向用于 传送所述片状介质的空隙的表面之外的部分，并且所述第二平板部件覆盖所述第二导体配 线的除面向用于传送所述片状介质的空隙的表面之外的部分。 根据本专利技术的第七方面，所述第一层覆盖所述第一平板部件的除面向用于传送所 述片状介质的空隙的表面之外的部分以及所述第一导体配线的除面向用于传送所述片状 介质的空隙的表面之外的部分，并且所述第二层覆盖所述第二平板部件的除面向用于传送 所述片状介质的空隙的表面之外的部分以及所述第二导体配线的除面向用于传送所述片 状介质的空隙的表面之外的部分。 根据本专利技术的第八方面，所述第一层还覆盖所述第一平板部件的面向用于传送所 述片状介质的空隙的表面的延长面和所述第一导体配线的面向用于传送所述片状介质的 空隙的表面的延长面，并且所述第二层还覆盖所述第二平板部件的面向用于传送所述片状 介质的空隙的表面的延长面和所述第二导体配线的面向用于传送所述片状介质的空隙的 表面的延长面。 根据本专利技术的第九方面，所述第一导体配线与所述第二导体配线布置成以预定间 隔彼此面对。 根据本专利技术的第十方面，一种介质检测器包括传送单元，其传送其中包含磁性材 料的片状介质；平板式检测器，其检测从包含在所述片状介质中的磁性材料产生的信号； 以及分拣单元，其根据所述平板式检测器对所述信号的检测结果而为已经穿过所述平板式 检测器的所述片状介质切换传送路径，其中，所述平板式检测器包括第一平板部件和第二 平板部件，其均由非磁性非金属制成，所述第一平板部件和所述第二平板部件设置成彼此 面对并且其间具有用于传送片状介质的空隙；第一导体配线，其设置在所述第一平板部件 的面向所述第二平板部件的表面上，用于形成交变磁场；第一层，其由非磁性金属制成并且 至少设置在所述第一平板部件的与设置有所述第一导体配线的表面相反的表面上；第二导 体配线，其设置在所述第二平板部件的面向所述第一平板部件的表面上，用于对通过包含 在所述片状介质中的磁性材料的磁化反转生成的信号进行检测，由所述第一导体配线形成 的所述交变磁场造成所述磁化反转；以及第二层，其由非磁性金属制成并且至少设置在所 述第二平板部件的与设置有所述第二导体配线的表面相反的表面上。 根据本专利技术的第一方面，与没有提供第一方面所描述的构造的情况相比，能够更 好地抑制对外部噪声的错误检测。 根据本专利技术的第二方面，与没有提供第二方面所描述的构造的情况相比，能够更 好地抑制在第一层和第二层中产生涡电流。 根据本专利技术的第三方面，与没有提供第三方面所描述的构造的情况相比，能够通 过第一层和第二层更有效地阻挡外部噪声。 根据本专利技术的第四方面，与没有提供第四方面所描述的构造的情况相比，能够更 有效地阻断试图从第一导体配线和第二导体配线的周围进入的噪声。 根据本专利技术的第五方面，与没有提供第五方面所描述的构造的情况相比，能够更 有效地阻断试图从第一导体配线的表面的延长面和第二导体配线的表面的延长面进入的5噪声。 根据本专利技术的第六方面，与没有提供第六方面所描述的构造的情况相比，能够更 有效地阻断试图从第一导体配线和第二导体配线的周围进入的噪声。 根据本专利技术的第七方面，与没有提供第七方面所描述的构造的情况相比，能够更 有效地阻断试图从第一导体配线和第二导体配线的周围进入的噪声。 根据本专利技术的第八方面，与没有提供第八方面所描述的构造的情况相比，能够更 有效地阻断试图从第一导体配线的表面的延长面和第二导体配线的表面的延长面进入的噪声。 根据本专利技术的第九方面，与没有提供第九方面所描述的构造的情况相比，能够更 好地抑制用以检测第二导体配线的平面内通过磁化反转生成的信号的检测精度的不均匀 性。 根据本专利技术的第十方面，与没有提供第十方面所描述的构造的情况相比，即使在 从传送单元产生一定水平或更高水平的噪声的情况下，也能够保持分拣精度。附图说明 基于下列附图，对本专利技术的示例性实施例进行详细说明，其中 图1是示出根据第一示例性实施例的平板式检测器的构造的示例性剖视图 图2是示出根据第二示例性实施例的平板式检》 图3是示出根据第三示例性实施例的平板式检》 图4是示出根据第四示例性实施例的平板式检》 图5是示出根据第五示例性实施例的平板式检》 图6是示出根据第六示例性实施例的平板式检》本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种平板式检测器，包括：第一平板部件和第二平板部件，其均由非磁性非金属制成，所述第一平板部件和所述第二平板部件设置成彼此面对并且其间具有用于传送片状介质的空隙；第一导体配线，其设置在所述第一平板部件的面向所述第二平板部件的表面上，用于形成交变磁场；第一层，其由非磁性金属制成并且至少设置在所述第一平板部件的与设置有所述第一导体配线的表面相反的表面上；第二导体配线，其设置在所述第二平板部件的面向所述第一平板部件的表面上，用于对通过包含在所述片状介质中的磁性材料的磁化反转生成的信号进行检测，由所述第一导体配线形成的所述交变磁场引起所述磁化反转；以及第二层，其由非磁性金属制成并且至少设置在所述第二平板部件的与设置有所述第二导体配线的表面相反的表面上。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：栗原英三，松田司，高桥邦广，井上浩良，马里奥福斯，山口昭治，
申请(专利权)人：富士施乐株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]