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本发明公开了一种平板式检测器及介质检测器。该平板式检测器包括：第一平板部件和第二平板部件，其均由非磁性非金属制成；第一导体配线，其设置在所述第一平板部件的面向所述第二平板部件的表面上，用于形成交变磁场；第一层，其由非磁性金属制成并且至少设置...
该专利属于富士施乐株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过富士施乐株式会社授权不得商用。

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