一种用于超高真空的磁控溅射靶以及靶中磁体的制备工艺制造技术

技术编号:3847999 阅读:179 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种用于超高真空的磁控溅射靶以及靶中磁体的制备工艺,其中磁控溅射靶的靶阴极和靶阳极之间采用一道O型圈密封,大大减少了密封O型圈的数量,可以满足超高真空要求。本发明专利技术的靶中磁体的制备工艺,通过建立数学模型,对磁体的尺寸与形状进行有限元优化,使得靶面附近磁场平行分量分布更均匀且宽广,提高了溅射时靶材面的使用范围,有效的提高了靶材的利用率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及磁控溅射真空镀膜技术,尤指一种磁控溅射靶以及靶 体中磁体的制备工艺。
技术介绍
真空镀膜技术在各种工业和科研领域中有着很广泛的应用,特别 在涉及到高科技行业的领域如磁盘制造、太阳能电池、微加工器件制造、IC电子行业等。》兹控溅射工艺具有成膜效率高、成膜致密、薄膜与衬底结合力强、适合于生长各种材料薄膜、沉积温度低、可以在很 长时间内维持稳定的成膜速率、成膜可重复性高、适合于大批量工业 生产等优点。磁控賊射在永磁体产生的静磁场作用下,阴极发射出的电子被约 束在靶面附近的区域内,极大的增强了靶面附近的电离能力,提高了 靶面附近等离子体浓度,因此可以大大提高溅射的效率,是目前使用 最为广泛的溅射方法之一。但由于受f兹场的限制,只有在靶面附近A兹 场平行分量较强的区域电离度增强,因此靶面上只有部分区域被集中 溅射,賊射过后在靶面上留下一道环形"跑道"状的凹坑,导致靶材的利用率较低, 一般在10~30°/。之间。移动^兹体的方法可以将靶材的利 用率提高到40~50%,但降低了溅射的稳定性和可靠性,且设计结构复 杂,难于推广应用。而将磁控溅射靶应用到超高真空,更需要考虑靶 的精简设本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁控溅射靶体中磁体的制备工艺,具体步骤为:1)根据靶材尺寸,确定磁体尺寸并建立磁体几何模型;2)对几何模型进行网格化;3)确定磁体的物理参数,包括相对磁导率和矫顽力;4)确定有限元分析的边界条件,根据有限元算法得出磁场在空间中的分布图像;5)从步骤4)中的分布图像中抽取磁体极面以上3~6mm区域内的磁场平行分量并绘制曲线;6)改变磁体磁极面的锥角角度,重新进行计算,得到一个最佳的角度,使得磁场平行分量在磁体极面以上3~6mm区域内分布尽可能宽广而均匀;7)根据所设计的磁体尺寸和形状加工磁体并充磁。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:金贻荣董世迎张殿琳
申请(专利权)人:中国科学院物理研究所
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

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