本公开提供了一种电路仿真验证方法、验证装置、电子设备和可读存储介质，涉及存储器技术领域。其中，电路仿真验证方法包括：获取待验证芯片电路的仿真激励信息，仿真激励信息包括待验证芯片的输入激励、待测输出信号和仿真期望结果；基于输入激励对待验证芯片电路执行时序仿真，得到待验证芯片的时序仿真结果；基于多组时序采样时刻对时序仿真结果进行采样，得到待测输出信号的多组仿真采样结果；将仿真期望结果和多组仿真采样结果分别进行比较，生成多个验证结果记录文件；基于多个验证结果记录文件对待验证芯片电路进行优化调整。通过本公开的技术方案，使得到的验证结果具有更高的验证精度。证精度。证精度。
【技术实现步骤摘要】
电路仿真验证方法、验证装置、电子设备和可读存储介质
[0001]本公开涉及存储器
，尤其涉及一种电路仿真验证方法、一种电路仿真验证装置、一种电子设备和一种计算机可读存储介质。
技术介绍
[0002]使用仿真软件进行存储器芯片的时序仿真验证，存储器芯片的内存控制器能够将大量的测试用例转化为仿真激励，将激励输入到存储器芯片的待验证电路DUT(design under test)中，并捕捉DUT输出的响应，通过将捕捉到的响应电平数据与理想参考模型golden model输出的预期电平数据在半时钟周期的中心点进行比较，以比较电平是否一致，从而能够基于比较结果得到仿真验证结果，但是该方案由于采样点的限制导致比较结果中存在较大概率的假错现象，因此使输出的仿真验证结果的精度不高。
[0003]需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
[0004]本公开的目的在于提供一种电路仿真验证方法、验证装置、电子设备和可读存储介质，至少在一定程度上克服由于相关技术中输出的仿真验证结果的精度不高的问题。
[0005]本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。
[0006]根据本公开的一个方面，提供一种电路仿真验证方法，包括：获取待验证芯片电路的仿真激励信息，所述仿真激励信息包括待验证芯片的输入激励、待测输出信号和仿真期望结果；基于所述输入激励对所述待验证芯片电路执行时序仿真，得到所述待验证芯片的时序仿真结果；基于多组采样时刻序列对所述时序仿真结果进行采样，得到所述待测输出信号的多组仿真采样结果；将所述仿真期望结果和所述多组仿真采样结果分别进行比较，生成多个验证结果记录文件；基于所述多个验证结果记录文件对所述待验证芯片电路进行优化调整。
[0007]在本公开的一个实施例中，所述仿真激励信息还包括基准时钟信号，在基于多组采样时刻序列对所述时序仿真结果进行采样之前，还包括：基于所述基准时钟信号确定所述多组采样时刻序列，其中，所述多组采样时刻序列的采样周期相同，并且所述采样周期与所述基准时钟信号的周期相关；所述基于多组采样时刻序列对所述时序仿真结果进行采样，包括：在所述基准时钟信号的每个采样窗口内分别基于每组所述采样时刻序列中的一个采样时刻对所述时序仿真结果进行采样，其中，多个所述采样时刻之间的采样间隔相等，所述采样窗口的时长与所述采样周期的时长相等。
[0008]在本公开的一个实施例中，所述将所述仿真期望结果和所述多组仿真采样结果分别进行比较，生成多个验证结果记录文件，包括：获取所述待验证芯片的仿真参数；基于所述仿真参数确定所述时序仿真结果的高低电平分界值；基于所述高低电平分界值确定所述
多组仿真采样结果对应的多组仿真采样值序列，并获取所述仿真期望结果对应的仿真期望值序列；将所述仿真期望值序列和所述多组仿真采样值序列分别进行比较，生成所述多个验证结果记录文件，其中，在所述验证结果记录文件中，将所述仿真期望结果和所述多组仿真采样结果的比较结果和所述仿真参数对应设置。
[0009]在本公开的一个实施例中，所述多组采样时刻序列包括第一采样时刻序列，第二采样时刻序列和第三采样时刻序列，所述第一采样时刻序列中的采样时刻记为第一采样时刻，所述第一采样时刻与所述采样窗口的中心对齐，所述第二采样时刻序列中的采样时刻记为第二采样时刻，所述第二采样时刻相对所述采样窗口的中心左偏，所述第三采样时刻序列中的采样时刻记为第三采样时刻，所述第三采样时刻相对所述采样窗口的中心右偏，其中，相对左偏或相对右偏的偏移量基于多轮测试的调整结果确定，或基于所述仿真参数确定所述偏移量。
[0010]在本公开的一个实施例中，所述将所述仿真期望值序列和所述多组仿真采样值序列分别进行比较，生成所述多个验证结果记录文件，包括：分别比较每个所述第一采样时刻的第一仿真期望值和对应的第一仿真采样值、每个所述第二采样时刻的第二仿真期望值和对应的第二仿真采样值以及每个所述第三采样时刻的第三仿真期望值和对应的第三仿真采样值，得到所述多个验证结果记录文件；其中，若比较结果一致，在对应的所述验证结果记录文件中记录验证通过，若比较结果不一致，在对应的所述验证结果记录文件中记录验证失败。
[0011]在本公开的一个实施例中，所述基于所述多个验证结果记录文件对所述待验证芯片电路进行优化调整，包括：从所述多个验证结果记录文件中确定目标验证结果记录文件，所述目标验证结果记录文件为具有最少验证失败记录的所述验证结果记录文件；基于所述目标验证结果记录文件对所述电路进行优化调整。
[0012]在本公开的一个实施例中，还包括：所述仿真参数包括工艺角数据、PVT参数、工作频率和工作模式；基于采样周期和所述采样时刻序列的组数确定所述采样间隔，或基于所述采样时刻序列的组数和标准规范文件中的误差范围确定所述采样间隔，或基于所述工艺角数据、所述PVT参数和所述工作频率中的至少一个确定所述采样间隔；以及基于所述工作模式确定所述待测输出信号的输出引脚。
[0013]根据本公开的另一个方面，提供一种电路仿真验证装置，包括：获取模块，用于获取待验证芯片电路的仿真激励信息，所述仿真激励信息包括待验证芯片的输入激励、待测输出信号和仿真期望结果；仿真模块，用于基于所述输入激励对所述待验证芯片电路执行时序仿真，得到所述待验证芯片的时序仿真结果；采样模块，用于基于多组采样时刻序列对所述时序仿真结果进行采样，得到所述待测输出信号的多组仿真采样结果；比较模块，用于将所述仿真期望结果和所述多组仿真采样结果分别进行比较，生成多个验证结果记录文件；优化模块，用于基于所述多个验证结果记录文件对所述待验证芯片电路进行优化调整。
[0014]根据本公开的再一个方面，提供一种电子设备，包括：处理器；以及存储器，用于存储处理器的可执行指令；其中，处理器配置为经由执行可执行指令来执行上述任意一项所述的电路仿真验证方法。
[0015]根据本公开的又一个方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项所述的电路仿真验证方法。
[0016]本公开的实施例所提供的电路仿真验证方案，通过获取待验证芯片的仿真激励信息，以基于仿真激励信息对待验证芯片进行对时序仿真，得到时序仿真结果，通过配置至少三组采样时刻序列，以基于这些采样时刻序列分别对时序仿真结果进行采样，得到对应的多组仿真采样结果，分别将每组仿真采样结果和仿真期望结果进行比较，以得到多个验证结果记录文件，进而基于这些验证结果记录文件进行待验证芯片电路优化，多组采样时刻序列的配置能够使采样时刻尽量覆盖一个时钟周期内的不同时刻，使采样结果能够兼顾不同的输出工况，进而有利于提升采样操作的可靠性，相应地，有利于降低仿真结果中出现假错的概率，通过比较仿真采样结果和仿真期望结果，使得到的验证结果具有更高的验证精度，从而在基于验证结果记录文件进行电路优化调整本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电路仿真验证方法，其特征在于，包括：获取待验证芯片电路的仿真激励信息，所述仿真激励信息包括待验证芯片的输入激励、待测输出信号和仿真期望结果；基于所述输入激励对所述待验证芯片电路执行时序仿真，得到所述待验证芯片的时序仿真结果；基于多组采样时刻序列对所述时序仿真结果进行采样，得到所述待测输出信号的多组仿真采样结果；将所述仿真期望结果和所述多组仿真采样结果分别进行比较，生成多个验证结果记录文件；基于所述多个验证结果记录文件对所述待验证芯片电路进行优化调整。2.根据权利要求1所述的电路仿真验证方法，其特征在于，所述仿真激励信息还包括基准时钟信号，在基于多组采样时刻序列对所述时序仿真结果进行采样之前，还包括：基于所述基准时钟信号确定所述多组采样时刻序列，其中，所述多组采样时刻序列的采样周期相同，并且所述采样周期与所述基准时钟信号的周期相关；所述基于多组采样时刻序列对所述时序仿真结果进行采样，包括：在所述基准时钟信号的每个采样窗口内分别基于每组所述采样时刻序列中的一个采样时刻对所述时序仿真结果进行采样；其中，多个所述采样时刻之间的采样间隔相等，所述采样窗口的时长与所述采样周期的时长相等。3.根据权利要求2所述的电路仿真验证方法，其特征在于，所述将所述仿真期望结果和所述多组仿真采样结果分别进行比较，生成多个验证结果记录文件，包括：获取所述待验证芯片的仿真参数；基于所述仿真参数确定所述时序仿真结果的高低电平分界值；基于所述高低电平分界值确定所述多组仿真采样结果对应的多组仿真采样值序列，并获取所述仿真期望结果对应的仿真期望值序列；将所述仿真期望值序列和所述多组仿真采样值序列分别进行比较，生成所述多个验证结果记录文件；其中，在所述验证结果记录文件中，将所述仿真期望结果和所述多组仿真采样结果的比较结果和所述仿真参数对应设置。4.根据权利要求3所述的电路仿真验证方法，其特征在于，所述多组采样时刻序列包括第一采样时刻序列，第二采样时刻序列和第三采样时刻序列，所述第一采样时刻序列中的采样时刻记为第一采样时刻，所述第一采样时刻与所述采样窗口的中心对齐，所述第二采样时刻序列中的采样时刻记为第二采样时刻，所述第二采样时刻相对所述采样窗口的中心左偏，所述第三采样时刻序列中的采样时刻记为第三采样时刻，所述第三采样时刻相对所述采样窗口的中心右偏；其中，相对左偏或相对右偏的偏移量基于多轮测试的调整结果确定，或基于所述仿真参数确定所述偏移量。5.根据权利要求4所...
【专利技术属性】
技术研发人员：史丹丹，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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