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本公开提供了一种电路仿真验证方法、验证装置、电子设备和可读存储介质，涉及存储器技术领域。其中，电路仿真验证方法包括：获取待验证芯片电路的仿真激励信息，仿真激励信息包括待验证芯片的输入激励、待测输出信号和仿真期望结果；基于输入激励对待验证芯片...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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