具有自毁功能的集成电路制造技术

本发明专利技术提供一种具有自毁功能的集成电路。此种集成电路在某预定条件发生时，于其内部会产生一电压信号以摧毁此集成电路。此集成电路包含一晶体管及一熔丝型的开关装置。晶体管具有一控制端于起始状态时与一第一参考电压连接。该熔丝型开关装置，响应所述的电压信号，将控制端与一第二参考电压连接，以便使集成电路的功能永久性地失效。当预定条件发生时，该电压信号随之产生。（*该技术在2014年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种具有自毁功能的集成电路，包含：一晶体管，具有一控制端于起始状态时与一第一参考电压连接，使此集成电路启动工作；及一熔丝型开关装置，响应一电压信号，将所述控制端与一第二参考电压连接，以便使所述集成电路的功能永久性地失效。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：叶垂奇，
申请(专利权)人：华邦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]