集成电路功能测试仪制造技术

集成电路功能测试仪。目前市场上的测试仪产品功能较单一，价格非常昂贵，给电路的测试、维护带来不便。本实用新型专利技术的组成包括：壳体（1），所述的壳体上安装有显示屏（2）、控制按钮（3），所述的显示屏、所述的控制按钮与安装在所述的壳体内部的中央处理器（4）连接，所述的中央处理器分别与A/D转换芯片（5）、地址译码器（6）、电源电路（7）连接，所述的A/D转换芯片。本实用新型专利技术用于集成电路功能测试仪。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种集成电路功能测试仪，其组成包括：壳体，其特征是：所述的壳体上安装有显示屏、控制按钮，所述的显示屏、所述的控制按钮与安装在所述的壳体内部的中央处理器连接，所述的中央处理器分别与A/D转换芯片、地址译码器、电源电路连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：徐瑞，姜占鹏，郭红，
申请(专利权)人：哈尔滨理工大学，
类型：实用新型
国别省市：