一种简易LED光电特性测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种简易LED光电特性测试装置，包括微处理器，及设置在微处理器内部的D/A和A/D,所述D/A依次连接有恒流驱动电路和待测LED灯，所述A/D与待测LED灯连接，所述待测LED灯连接有光学测量模块，所述光学测量模块与微处理器相连；本实用新型专利技术用于测试LED的伏安特性，发光强度，相关色温，主波长等LED特性。整个系统简洁，智能，成本低廉，在某些LED的研究和应用领域可以代替昂贵的光谱分析仪等专用设备。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种简易LED光电特性测试装置，包括微处理器，及设置在微处理器内部的D/A和A/D,?其特征在于：所述D/A依次连接有恒流驱动电路和待测LED灯，所述A/D与待测LED灯连接，所述待测LED灯连接有光学测量模块，所述光学测量模块与微处理器相连。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：许瑞江，
申请(专利权)人：许瑞江，
类型：实用新型
国别省市：