集成运算放大器的测试仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种集成运算放大器的测试仪，包括输入设备、显示电路、微控制器、测试电路和信号源电路；所述测试电路、显示电路和输入设备均与所述微处理器相连接，所述测试电路还与被测集成运算放大器和信号源电路相连接。测试电路由两级运放构成。所述信号源电路采用集成芯片ICL8038产生正弦信号。本实用新型专利技术的集成运算放大器的测试仪，具有测试精度高、信号源抗干扰性强、整体稳定性好等优点。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
集成运算放大器的测试仪，其特征是，包括输入设备、显示电路、微控制器、测试电路和信号源电路；所述测试电路、显示电路和输入设备均与所述微控制器相连接，所述测试电路还与被测集成运算放大器和信号源电路相连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：丁健，王彬彬，汪俊，
申请(专利权)人：滁州学院，
类型：实用新型
国别省市：