用于测试集成电路的系统和方法技术方案

技术编号:9405273 阅读:112 留言:0更新日期:2013-12-05 05:49
本发明专利技术涉及用于测试集成电路的系统和方法。根据实施例,一种测试集成电路的方法包括:经由第一输入引脚接收集成电路上的电源电压;经由该第一输入引脚向布置在集成电路上的电路提供电力;将电源电压与内部生成的电压作比较;基于该比较来生成数字输出值;以及将数字输出值施加到集成电路的引脚。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种测试集成电路的方法,所述方法包括:经由第一输入引脚接收所述集成电路上的电源电压;经由所述第一输入引脚向布置在所述集成电路上的电路提供电力;将所述电源电压与内部生成的电压作比较;基于所述比较来生成数字输出值;以及将所述数字输出值施加到所述集成电路的引脚。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:W巴卡尔斯基N伊尔科夫
申请(专利权)人:英飞凌科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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