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本发明涉及用于测试集成电路的系统和方法。根据实施例，一种测试集成电路的方法包括：经由第一输入引脚接收集成电路上的电源电压；经由该第一输入引脚向布置在集成电路上的电路提供电力；将电源电压与内部生成的电压作比较；基于该比较来生成数字输出值；以及...
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