用于进行功能和结构测试和调试的基于功能结构测试控制器制造技术

技术编号：9384711 阅读：131 留言：0更新日期：2013-11-28 02:46

用于促进测试集成在系统芯片（SoC）上的IP块的测试访问机构（TAM）架构。TAM架构包括集成在SoC上IP块附近的测试控制器和一个或多个测试包装器。由测试控制器封装对应于来自外部测试器的输入的测试数据和命令，并通过互连结构发送到测试包装器。测试包装器使用与一个或多个测试端口的接口来向IP块提供测试数据、控制、和/或刺激信号，以促进对IP块的电路级别的测试。电路级别测试的测试结果通过结构被返回到测试控制器。测试包装器可以被配置成传递互连信号，允许经由测试包和经由结构在测试控制器和IP块之间传输的测试结果来促进对IP块的功能测试。TAM可以在结构到结构桥接器中实现，允许对连接到桥接器的两端的结构的IP块进行测试。