一种集成运算放大器的检测装置制造方法及图纸

一种集成运算放大器的检测装置，包括检测用电路板，在所述检测用电路板上设有采用OSC为单运放组成的超低频振荡器，OSC超低频振荡器的输出端串联连接有电阻R4和电阻R5，在所述检测用电路板上设有用于检测单运放、双运放和四运放的插装座或接线点，所述单运放、双运放和四运放插装座或接线点的反相输入端均与所述电阻R4和电阻R5的连接中点相连接，所述单运放、双运放和四运放插装座或接线点的同相输入端均与所述OSC超低频振荡器的另一个输出引脚相连接，所述单运放、双运放和四运放插装座或接线点的输出端通过串接在一起的电阻R6和发光二极管D1接地。本发明专利技术结构简单，可对单运放、双运放和四运放放大器进行即时检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子器件检测装置，具体涉及一种集成运算放大器检测装置。
技术介绍
在维修仪器、仪表时；经常会碰到要判定运算放大器(运放IC)是否损坏的问题。由于没有专门检测运放IC的仪器，以往只能从同型号仪器电路板上拔下运放IC做替换实验，来确认其好坏，但是，此种方法如果在没有备用仪器的情况下，则无法进行判定。
技术实现思路
本专利技术的目的在于:针对现有技术的上述缺陷，提供一种集成运算放大器检测装置。采用这种装置可以迅速、准确地判定单运放、双运放和四运放的好坏。 为了达到上述目的，本专利技术采用如下技术方案:一种集成运算放大器检测装置，包括检测用电路板，在所述检测用电路板设有采用OSC为单运放组成的超低频振荡器，OSC超低频振荡器的输出端串联连接有电阻R4和电阻R5，在所述检测用电路板上设有用于检测单运放、双运放和四运放的插装座或接线点，所述单运放、双运放和四运放插装座或接线点的反相输入端均与所述电阻R4和电阻R5的连接中点相连接，所述单运放、双运放和四运放插装座或接线点的同相输入端均与所述OSC超低频振荡器的另一个输出引脚相连接，所述单运放、双运放和四运放插装座或接线点本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集成运算放大器检测装置，包括检测用电路板，其特征在于：在所述检测用电路板设有采用OSC为单运放组成的超低频振荡器，OSC超低频振荡器的输出端串联连接有电阻R4和电阻R5，在所述检测用电路板上设有用于检测单运放、双运放和四运放的插装座或接线点，所述单运放、双运放和四运放插装座或接线点的反相输入端均与所述电阻R4和电阻R5的连接中点相连接，所述单运放、双运放和四运放插装座或接线点的同相输入端均与所述OSC超低频振荡器的另一个输出引脚相连接，所述单运放、双运放和四运放插装座或接线点的输出端通过串接在一起的电阻R6和发光二极管D1接地。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李正中，颜荣，
申请(专利权)人：东莞市大忠电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44