芯片最终测试系统技术方案

本公开提供了一种芯片最终测试系统，所述系统包括：托盘、多个第一读写器、多个测试机台和中央处理装置：所述测试机台，与所述中央处理装置通讯连接，用于基于所述中央处理装置发送的阶段测试指令对所述托盘内每个料槽中放置的芯片分别进行对应测试流程的性能测试，获得对应芯片的性能信息；基于所述托盘标识和每个芯片的溯源特征信息以及对应芯片的性能信息生成对应芯片的测试结果，并发送至所述中央处理装置；所述中央处理装置，用于基于当前测试项目的当前测试阶段生成对应的阶段测试指令发送至所述测试机台，接收每个芯片的测试结果并记录至对应芯片的芯片测试档案中。通过芯片测试档案，测试者能够清楚地了解到该芯片的测试过程。测试过程。测试过程。

【技术实现步骤摘要】
芯片最终测试系统


[0001]本公开涉及芯片测试领域，具体而言，涉及一种芯片最终测试系统。

技术介绍

[0002]半导体芯片的测试需要经历：晶圆测试、芯片封装和最终测试，每个测试均缺一不可。每个测试均根据具体性能要求对芯片进行多种测试阶段和繁杂步骤的测试。
[0003]最终测试(英文全称Final Test，简称FT测试)是对封装后的半导体芯片进行测试，以测试其是否能够正常工作。通常是将多个相同型号的芯片放置于同一料盘中，将料盘输入测试机中，由测试机对料盘中的每个芯片进行指定测试阶段的测试，然后生成每个芯片的测试结果。基于每个芯片的测试结果筛选出合格芯片。
[0004]在FT测试的每个测试阶段，通常需要手动记录所有芯片的测试结果。在人工确认测试结果后，再进行下一个测试阶段的测试。以便确认数据并检查性能测试过程，保证芯片测试的真实性和准确性。
[0005]由于测试过程的复杂性，通过人工方式追溯芯片的测试过程同样具有复杂性，尤其是没有唯一编号的芯片，出错的风险机率很高。
[0006]因此，本公开提供了一种芯片最终测试系统，以解决上述技术问题之一。

技术实现思路

[0007]本公开的目的在于提供一种芯片最终测试系统，能够解决上述提到的至少一个技术问题。具体方案如下：
[0008]根据本公开的具体实施方式，第一方面，本公开提供一种芯片最终测试系统，包括：包括：托盘、多个第一读写器、多个测试机台和中央处理装置；
[0009]所述托盘，包括电子标签和阵列排列的料槽，每个料槽用于放置一片芯片，所述电子标签，用于存储所述托盘的托盘标识和所述托盘的料槽中放置芯片的溯源特征信息；
[0010]所述第一读写器，与所述测试机台通讯连接，设置于所述测试机台前，并与所述测试机台具有配套关系，用于读取待测试的托盘上电子标签内的托盘标识和每个芯片的溯源特征信息，并发送至所述测试机台；
[0011]所述测试机台，与所述中央处理装置通讯连接，用于基于所述中央处理装置发送的阶段测试指令对所述托盘内每个料槽中放置的芯片分别进行对应测试流程的性能测试，获得对应芯片的性能信息；基于所述托盘标识和每个芯片的溯源特征信息以及对应芯片的性能信息生成对应芯片的测试结果，并发送至所述中央处理装置；
[0012]所述中央处理装置，用于基于当前测试项目的当前测试阶段生成对应的阶段测试指令发送至所述测试机台，接收每个芯片的测试结果并记录至对应芯片的芯片测试档案中。
[0013]可选的，所述溯源特征信息，包括：所述当前测试项目的项目标识、所述当前测试阶段的阶段标识、对应芯片的芯片标识、放置所述芯片的料槽的位置信息以及在所述当前
测试阶段中即将测试的阶段测试次数。
[0014]可选的，所述性能信息，包括：所述托盘中放置所述芯片的料槽的位置信息和所述芯片的测试状态。
[0015]可选的，所述测试机台用于所述基于所述托盘标识和每个芯片的溯源特征信息以及对应芯片的性能信息生成对应芯片的测试结果，包括：
[0016]依据每个芯片的溯源特征信息中的位置信息与对应芯片的性能信息中的位置信息的关联关系将所述托盘标识与对应芯片的溯源特征信息和对应芯片的性能信息合并，生成对应芯片的测试结果，其中，所述测试结果，包括：所述项目标识、所述阶段标识、所述芯片标识、所述托盘标识、所述位置信息、所述测试状态和所述阶段测试次数。
[0017]可选的，所述系统还包括至少一个分拣装置和至少一个第二读写器；
[0018]所述第二读写器，与所述分拣装置通讯连接，设置于所述测试机台后，并与所述分拣装置具有配套关系，用于读取测试后托盘上电子标签内的托盘标识和每个芯片的溯源特征信息，并将所述托盘标识和每个芯片的溯源特征信息发送至所述分拣装置；
[0019]所述分拣装置，与所述中央处理装置通讯连接，用于基于所述托盘标识和每个芯片的溯源特征信息从所述中央处理装置获取对应芯片的测试状态和所述当前测试阶段的预设限制次数；基于所述托盘中每个芯片的溯源特征信息以及对应芯片的测试状态和所述预设限制次数对对应芯片进行分拣。
[0020]可选的，所述系统还包括至少一个第三读写器；
[0021]所述第三读写器，与所述分拣装置通讯连接，并与所述分拣装置具有配套关系；
[0022]所述电子标签，还用于存储托盘内空余料槽的位置信息；
[0023]相应地，所述分拣装置用于所述基于所述托盘中每个芯片的溯源特征信息以及对应芯片的测试状态和所述预设限制次数对对应芯片进行分拣，包括：
[0024]当所述托盘中任意一个芯片的测试状态为异常状态，且所述芯片的溯源特征信息中的阶段测试次数小于所述预设限制次数时，通过所述第三读写器从新的托盘上的电子标签内获取任意一个空余料槽的位置信息；
[0025]基于所述芯片的溯源特征信息中的阶段测试次数生成新的阶段测试次数；
[0026]基于所述空余料槽的位置信息替换所述芯片的溯源特征信息中的位置信息，且基于新的阶段测试次数替换所述芯片的溯源特征信息中的阶段测试次数，生成所述芯片的新的溯源特征信息；
[0027]将所述芯片分拣至所述空余料槽中；
[0028]通过所述第三读写器将所述芯片的新的溯源特征信息写入新的托盘上的电子标签内，并删除所述空余料槽的位置信息。
[0029]可选的，所述分拣装置用于所述基于所述托盘中每个芯片的溯源特征信息以及对应芯片的测试状态和所述预设限制次数对对应芯片进行分拣，包括：
[0030]当所述托盘中任意一个芯片的测试状态为异常状态，且所述芯片的溯源特征信息中的阶段测试次数等于所述预设限制次数时，将所述芯片分拣为失败芯片。
[0031]可选的，所述分拣装置用于所述基于所述托盘中每个芯片的溯源特征信息以及对应芯片的测试状态和所述预设限制次数对对应芯片进行分拣，包括：
[0032]当所述托盘中任意一个芯片的测试状态为失败状态时，将所述芯片分拣为失败芯
也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义，“多种”一般包含至少两种。
[0051]应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0052]应当理解，尽管在本公开实施例中可能采用术语第一、第二、第三等来描述，但这些描述不应限于这些术语。这些术语仅用来将描述区分开。例如，在不脱离本公开实施例范围的情况下，第一也可以被称为第二，类似地，第二也可以被称为第一。
[0053]取决于语境，如在此所使用的词语“如果”、“若”可以被解释成为“在
……
时”或“当
……
时”或“响应于确定”或“响应于检测”。类似地，取决于语境，短语“如果确定”或“如果检测(陈述的条件或事件)”可以被解释成为“当确定本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片最终测试系统，其特征在于，包括：托盘、多个第一读写器、多个测试机台和中央处理装置；所述托盘，包括电子标签和阵列排列的料槽，每个料槽用于放置一片芯片，所述电子标签，用于存储所述托盘的托盘标识和所述托盘的料槽中放置芯片的溯源特征信息；所述第一读写器，与所述测试机台通讯连接，设置于所述测试机台前，并与所述测试机台具有配套关系，用于读取待测试的托盘上电子标签内的托盘标识和每个芯片的溯源特征信息，并发送至所述测试机台；所述测试机台，与所述中央处理装置通讯连接，用于基于所述中央处理装置发送的阶段测试指令对所述托盘内每个料槽中放置的芯片分别进行对应测试流程的性能测试，获得对应芯片的性能信息；基于所述托盘标识和每个芯片的溯源特征信息以及对应芯片的性能信息生成对应芯片的测试结果，并发送至所述中央处理装置；所述中央处理装置，用于基于当前测试项目的当前测试阶段生成对应的阶段测试指令发送至所述测试机台，接收每个芯片的测试结果并记录至对应芯片的芯片测试档案中。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述溯源特征信息，包括：所述当前测试项目的项目标识、所述当前测试阶段的阶段标识、对应芯片的芯片标识、放置所述芯片的料槽的位置信息以及在所述当前测试阶段中即将测试的阶段测试次数。3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述性能信息，包括：所述托盘中放置所述芯片的料槽的位置信息和所述芯片的测试状态。4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述测试机台用于所述基于所述托盘标识和每个芯片的溯源特征信息以及对应芯片的性能信息生成对应芯片的测试结果，包括：依据每个芯片的溯源特征信息中的位置信息与对应芯片的性能信息中的位置信息的关联关系将所述托盘标识与对应芯片的溯源特征信息和对应芯片的性能信息合并，生成对应芯片的测试结果，其中，所述测试结果，包括：所述项目标识、所述阶段标识、所述芯片标识、所述托盘标识、所述位置信息、所述测试状态和所述阶段测试次数。5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述系统还包括至少一个分拣装置和至少一个第二读写器；所述第二读写器，与所述分拣装置通讯连接，设置于所述测试机台后，并与所述分拣装置具有配套关系，用于读取测试后托盘上电子标签内的托盘标识和每个芯片的溯源特征信息，并将所述托盘标识和每个芯片的溯源特征信息发送至所述分拣装置；所述分拣装置，与所述中央处理装置通讯连接，用于基于所述托盘标识和每个芯片的溯源特征信息从所述中央处理装置获取对应芯片的测试状态和所述当前测试阶段的预设限制次数；基于所述托盘中每个芯片...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱倩，王玉龙，吴勇佳，周官宏，
申请(专利权)人：上海华岭集成电路技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：