一种充放电类集成电路芯片的测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种充放电类集成电路芯片的测试系统，包括待测试芯片模块、电流/电压源模块、双刀双掷继电器S1模块和双刀双掷继电器S2模块，所述待测试芯片模块用于放入待测试的芯片，所述电流/电压源模块用于将待测试芯片通过测试机连接对应的电流/电压源，所述双刀双掷继电器S1模块用于通过两个输出电容连接待测试芯片中的引脚接口，所述双刀双掷继电器S2模块用于通过两个编程电阻连接待测试芯片中的引脚接口，所述待测试芯片模块与电流/电压源模块电连接，所述电流/电压源模块与双刀双掷继电器S1模块、双刀双掷继电器S2模块电连接，本发明专利技术，具有连接方式灵活和测试状态可任意切换的特点。意切换的特点。意切换的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种充放电类集成电路芯片的测试系统


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，具体为一种充放电类集成电路芯片的测试系统。

技术介绍

[0002]XC5101是一款完整的单节锂离子电池恒流恒压线性充电器，其SOP封装和低外部元件数量使XC5101非常适合便携式应用，此外，XC5101专门设计用于在USB电源规范内工作，被应用于移动电话、PDA、MP3/MP4播放器充电底座和底座蓝牙、GPS等各方各面。
[0003]对于这种充放电类集成电路芯片的测试，测试过程中需还原各种真实具体的应用场景，让待测芯片工作在不同的状态，但在测试时通常是一种工作状态下芯片仅对应使用一种编程电阻和输出电容，而同一系列的稳压芯片可能需要在多种不同的编程电阻和多种不同的输出电容中进行，再切换工作状态时，就需要再次切换不同的编程电阻和输出电容，使得待测芯片在测试过程中的操作重复且费时费力，且导致硬件成本高，因此，设计改变灵活连接方式使待测芯片测试状态任意切换的一种充放电类集成电路芯片的测试系统是很有必要的。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种充放电类集成电路芯片的测试系统，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为了解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：一种充放电类集成电路芯片的测试系统，包括待测试芯片模块、电流/电压源模块、双刀双掷继电器S1模块和双刀双掷继电器S2模块，所述待测试芯片模块用于放入待测试的芯片，所述电流/电压源模块用于将待测试芯片通过测试机连接对应的电流/电压源，所述双刀双掷继电器S1模块用于通过两个输出电容连接待测试芯片中的引脚接口，所述双刀双掷继电器S2模块用于通过两个编程电阻连接待测试芯片中的引脚接口，所述待测试芯片模块与电流/电压源模块电连接，所述电流/电压源模块与双刀双掷继电器S1模块、双刀双掷继电器S2模块电连接。
[0006]根据上述技术方案，所述待测试芯片模块包括温度引脚、程序引脚、地线引脚、电压互感器引脚、电流输出引脚、待机模式引脚、充电状态引脚和使能输入引脚，所述温度引脚用于对电池进行温度检测输入，所述程序引脚用于执行充电电流程序，对充电电流进行监测并在设定情况下关断引脚，所述地线引脚用于将芯片管脚连接到电源的地端释放能量，所述电压互感器引脚用于正输入电源电压为充电器提供电源，所述电流输出引脚用于进行芯片充电电流的输出，所述待机模式用于对是否完成电池充电进行说明，所述充电状态引脚用于输出芯片的开漏充电状态，所述使能输入引脚用于对芯片进行使能输入。
[0007]根据上述技术方案，所述电流/电压源模块包括输入电源电压单元、输入电源电流单元、引脚电压单元，引脚电流单元、稳压充电电压单元和涓流充电电流，所述输入电源电压单元用于设定整个电路的供电电压，所述输入电源电流单元用于对整个电路在充电、待机和关机模式下的输入电流进行设定，所述引脚电压单元用于设定在程序引脚中进行测试
时的电压值，所述引脚电流单元用于设定芯片充电、待机和关机模式下的电流典型值和最大限度值，所述稳压充电电压单元用于当充电电压出现瞬间波动时,稳压电源对电压幅值进行补偿使其稳定，所述涓流充电电流用于弥补电池在充电后自放电造成的容量损失，所述输入电源电压单元与引脚电压单元、稳压充电电压单元电连接，所述输入电源电流单元与引脚电流单元、涓流充电电流电连接。
[0008]根据上述技术方案，所述双刀双掷继电器S1模块包括输出电容单元，电器S1引脚单元、电平信号单元和电器S1公共端，所述输出电容单元用于控制芯片选择需连接的输出电容，所述电器S1引脚单元用于控制双刀双掷继电器S1的八个不同引脚，所述电平信号单元用于电器引脚持续接收电平信号，所述电器S1公共端用于双刀双掷继电器S1中的引脚公共端与芯片中的引脚端进行连接，所述双刀双掷继电器S2模块包括编程电阻单元、电器S2引脚单元、线圈单元和电器S2公共端，所述编程电阻单元用于双刀双掷继电器S2选择合适的编程电阻来调整芯片充电时的充电电流，所述电器S2引脚单元用于控制双刀双掷继电器S2的八个不同引脚，所述线圈单元用于连接双刀双掷继电器S2中的两个引脚，所述电器S2公共端用于双刀双掷继电器S2中的引脚公共端与芯片中的引脚端进行连接，所述输出电容单元与电器S1引脚单元电连接，所述电器S1引脚单元与电平信号单元、电器S1公共端电连接，所述编程电阻单元与电器S2引脚单元电连接，所述电器S2引脚单元与线圈单元、电器S2公共端电连接。
[0009]根据上述技术方案，所述测试系统的运行方法主要包括以下步骤：
[0010]步骤S1：将封装后的待测芯片置于搭建有双刀双掷继电器S1和双刀双掷继电器S2的芯片测试环境中；
[0011]步骤S2：待测芯片的左侧引脚从上到下依次与电流/电压源、双刀双掷继电器S2和地线端连接，最后一个引脚与输入电容一端以及电流/电压源连接；
[0012]步骤S3：待测芯片的右侧引脚从下到上依次与双刀双掷继电器S1的引脚以及电流/电压源相连，另外3个引脚分别与对应的电流/电压源相连接；
[0013]步骤S4：双刀双掷继电器S1选择合适的输出电容C2或C3，电器引脚调整输入的电流/电压源，接收对应的控制信号，对芯片应用时的不同电池容量进行测试；
[0014]步骤S5：双刀双掷继电器S2选择合适的编程电阻R1或R2，调整待测芯片充电时的充电电流，通过测试机连接对应的电流/电压源，对待测芯片各项电性参数进行测试。
[0015]根据上述技术方案，所述步骤S2进一步包括以下步骤：
[0016]步骤S21：待测芯片的左右各向外引出四个引脚，左侧引脚从上到下依次为1脚，2脚，3脚，4脚，对应不同的引脚功能；
[0017]步骤S22：芯片1脚对应温度引脚，为电池温度检测输入端，该温度引脚连接到电流的电池热敏电阻传感器输出端，进行电池温度的检测输入；
[0018]步骤S23：芯片2脚对应程序引脚，为恒流充电电流设置和充电电流监测端，主要完成电池的充电电流程序并监视电池充电过程中的电流，判断是否需要关断引脚；
[0019]步骤S24：芯片3脚对应地线引脚，在测试过程中适时将电流/电压源或电阻器进行接地线操作，芯片4脚对应电压互感器引脚，此管脚的电压为内部电路的工作电源，主要为充电器提供电源。
[0020]根据上述技术方案，所述步骤S3进一步包括以下步骤：
[0021]步骤S31：待测芯片的左右各向外引出四个引脚，右侧引脚从上到下依次为8脚，7脚，6脚，5脚，对应不同的引脚功能；
[0022]步骤S32：芯片5脚对应电流输出引脚，为电池连接端，将电池的正端连接到此管脚，为电池提供充电电流并将最终浮充电压调节至4.2V；
[0023]步骤S33：芯片6脚对应待机引脚，表示电池充电完成指示端，与对应的电流/电压源相连接；
[0024]步骤S34：芯片7脚对应充电状态引脚，与对应的电流/电压源相连接，为漏极开路输出的充电状态指示端；
[0025]步骤S35：本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种充放电类集成电路芯片的测试系统，包括待测试芯片模块、电流/电压源模块、双刀双掷继电器S1模块和双刀双掷继电器S2模块，其特征在于：所述待测试芯片模块用于放入待测试的芯片，所述电流/电压源模块用于将待测试芯片通过测试机连接对应的电流/电压源，所述双刀双掷继电器S1模块用于通过两个输出电容连接待测试芯片中的引脚接口，所述双刀双掷继电器S2模块用于通过两个编程电阻连接待测试芯片中的引脚接口，所述待测试芯片模块与电流/电压源模块电连接，所述电流/电压源模块与双刀双掷继电器S1模块、双刀双掷继电器S2模块电连接。2.根据权利要求1所述的一种充放电类集成电路芯片的测试系统，其特征在于：所述待测试芯片模块包括温度引脚、程序引脚、地线引脚、电压互感器引脚、电流输出引脚、待机模式引脚、充电状态引脚和使能输入引脚，所述温度引脚用于对电池进行温度检测输入，所述程序引脚用于执行充电电流程序，对充电电流进行监测并在设定情况下关断引脚，所述地线引脚用于将芯片管脚连接到电源的地端释放能量，所述电压互感器引脚用于正输入电源电压为充电器提供电源，所述电流输出引脚用于进行芯片充电电流的输出，所述待机模式用于对是否完成电池充电进行说明，所述充电状态引脚用于输出芯片的开漏充电状态，所述使能输入引脚用于对芯片进行使能输入。3.根据权利要求2所述的一种充放电类集成电路芯片的测试系统，其特征在于：所述电流/电压源模块包括输入电源电压单元、输入电源电流单元、引脚电压单元，引脚电流单元、稳压充电电压单元和涓流充电电流，所述输入电源电压单元用于设定整个电路的供电电压，所述输入电源电流单元用于对整个电路在充电、待机和关机模式下的输入电流进行设定，所述引脚电压单元用于设定在程序引脚中进行测试时的电压值，所述引脚电流单元用于设定芯片充电、待机和关机模式下的电流典型值和最大限度值，所述稳压充电电压单元用于当充电电压出现瞬间波动时,稳压电源对电压幅值进行补偿使其稳定，所述涓流充电电流用于弥补电池在充电后自放电造成的容量损失，所述输入电源电压单元与引脚电压单元、稳压充电电压单元电连接，所述输入电源电流单元与引脚电流单元、涓流充电电流电连接。4.根据权利要求3所述的一种充放电类集成电路芯片的测试系统，其特征在于：所述双刀双掷继电器S1模块包括输出电容单元，电器S1引脚单元、电平信号单元和电器S1公共端，所述输出电容单元用于控制芯片选择需连接的输出电容，所述电器S1引脚单元用于控制双刀双掷继电器S1的八个不同引脚，所述电平信号单元用于电器引脚持续接收电平信号，所述电器S1公共端用于双刀双掷继电器S1中的引脚公共端与芯片中的引脚端进行连接，所述双刀双掷继电器S2模块包括编程电阻单元、电器S2引脚单元、线圈单元和电器S2公共端，所述编程电阻单元用于双刀双掷继电器S2选择合适的编程电阻来调整芯片充电时的充电电流，所述电器S2引脚单元用于控制双刀双掷继电器S2的八个不同引脚，所述线圈单元用于连接双刀双掷继电器S2中的两个引脚，所述电器S2公共端用于双刀双掷继电器S2中的引脚公共端与芯片中的引脚端进行连接，所述输出电容单元与电器S1引脚单元电连接，所述电器S1引脚单元与电平信号单元、电器S1公共端电连接，所述编程电阻单元与电器S2引脚单元电连接，所述电器S2引脚单元与线圈单元、电器S2公共端电连接。5.根据权利要求4所述的一种充放电类集成电路芯片的测试系统，其特征在于：所述测试系统的运行方法主要包括以下步骤：
步骤S1：将封装后的待测芯片置于搭建有双刀双掷继电器S1和双刀双掷继电器S2的芯片测试环境中；步骤S2：待测芯片的左侧引脚从上到下依次与电流/电压源、双刀双掷继电器S2和地线端连接，最后一个引脚与输入电容一端以及电流/电压源连接；步骤S3：待测芯片的右侧引脚从下到上依次与双刀双掷继电器S1的引脚以及电流/电压源相连，另外3个引脚分别与对应的电流/电压源相连接；步骤S4：双刀双掷继电器S1选择合适的输出电容C2或C3，电器引脚调整输入的电流/电压源，接收对应的控制信号，对芯片应用时的不同电池容量进行测试；步骤S5：双刀双掷继电器S2选择合适的编程电阻R1或R2，调整待测芯片充电时的充电电流，通过测试机连接对应的电流/电压源，对待测芯片各项电性参数进行测试。6.根据权利要求5所述的一种充放电类集成电路芯片的测试系统，其特征在于：所述步骤S2进一步包括以下步骤：步骤S21：待测芯片的左右各向外引出四个引脚，左侧引脚从上到下依次为1脚，2脚，3脚，4脚，对应不同的引脚功能；步骤S22：芯片1脚对应温度引脚，为电池温度检测输入端，该温度引脚连接到电流的电池热敏电阻传感器输出端，进行电池温度的检测输入，当温度引脚电压小于输入电压45％则表示电池温度过低，当温度引脚电压大于输入电压的80％则电池温度过高，如果温度引脚直接接入地线端，则电池温度检测取消，其它部分继续充电并正常工作；步骤S23：芯片2脚对应程序引脚，为恒流充电电流设置和充电电流监测端，主要完成电池的充电电流程序并监视电池充电过程中的电流，判断是否需要关断引脚；充电电流通...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴俊，马坤洪，钱晓晴，夏金金，
申请(专利权)人：江阴捷芯电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：