基于半导体自动化测试机的可配置测试设备和测试方法技术

一种基于半导体自动化测试机的可配置测试设备和测试方法，该测试设备包括上位机、下位机和装备测试板；下位机包括多块测试单板、与每一个多个相应的测试单板配置文件以及用于配置和执行默认的装备测试项装备测试文件；在启动单板装备测试前下位机根据客户输入，确定装备测试文件和配置文件的执行顺序，在启动单板装备测试后，执行装备测试文件、配置文件中的一种或多种以及特定的X种装备测试项中的一种或多种，并将测试结果发送到所述上位机。因此，本发明专利技术根据配置文件，输出测试人员预期的测试内容和测试数据，其有效地遍历了测试项目，并大大简化了测试机的装备测试。并大大简化了测试机的装备测试。并大大简化了测试机的装备测试。

【技术实现步骤摘要】
基于半导体自动化测试机的可配置测试设备和测试方法


[0001]本专利技术涉及半导体自动测试设备(Automatic Test Equipment，简称ATE)领域，尤其涉及一种基于半导体自动化测试机的可配置测试方法。

技术介绍

[0002]ATE在半导体产业意指集成电路(integrated circuit，IC)自动测试机，用于检测集成电路功能之完整性，为集成电路生产制造之最后流程，以确保集成电路生产制造之品质。
[0003]半导体自动化测试机ATE中包含多个测试单板，每个测试单板上又包含多个测试芯片，单个测试机要验证多种不同类型的芯片，为了满足生产中的不同使用需求，测试机中的测试单板类型和数量都比较多。
[0004]现有技术对半导体自动化测试机ATE进行测试单板的装备测试时，因为不同类型测试单板差异较大，需要根据测试人员配置需求，进行调试定位。
[0005]装备测试(Equip Test)，装备测试是测试机在出厂前，测试人员对测试单板进行系统性的测试，涉及功能和整个半导体自动化测试机外部连线等。<br/>[0006]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于半导体自动化测试机的可配置测试装置，其特征在于，包括上位机、下位机和装备测试板；所述下位机包括：N块测试单板(CB1、CB 2
…
CB
i
…
CB N
)，每块所述测试单板包括Mi条数据通道与相应的所述装备测试板的Mi条数据通道对接；其中，i为选自1
‑
N中的任意一个数，每一块测试单板的通道数M相同或不同；N个配置文件(PZ1、PZ 2
…
PZ
i
…
PZ N
)，每个配置文件与N块测试单板(CB1、CB 2
…
CB
i
…
CB N
)中的一块测试单板对应设置；其中，每个配置文件用于针对相应的所述测试单板，配置特定的X种装备测试项；装备测试文件，用于配置和执行默认的装备测试项；其中，在启动单板装备测试前，所述下位机根据客户输入，确定所述装备测试文件和配置文件的执行顺序，在启动单板装备测试后，执行所述装备测试文件、配置文件中的一种或多种以及特定的X种装备测试项中的一种或多种，并将所述测试结果发送到所述上位机。2.根据权利要求1所述的基于半导体自动化测试机的可配置测试设备，其特征在于，所述配置文件分别对特定的X种装备测试项进行配置，形成配置数据，所述配置数据包括对应测试项目的日志级别、测试误差、测试名称和测试通道顺序。3.根据权利要求1所述的基于半导体自动化测试机的可配置测试设备，其特征在于，所述N个配置文件(PZ1、PZ 2
…
PZ
i
…
PZ N
...

【专利技术属性】
技术研发人员：李国站，
申请(专利权)人：上海御渡半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：