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一种基于半导体自动化测试机的可配置测试设备和测试方法,该测试设备包括上位机、下位机和装备测试板;下位机包括多块测试单板、与每一个多个相应的测试单板配置文件以及用于配置和执行默认的装备测试项装备测试文件;在启动单板装备测试前下位机根据客户输入...该专利属于上海御渡半导体科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海御渡半导体科技有限公司授权不得商用。
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一种基于半导体自动化测试机的可配置测试设备和测试方法,该测试设备包括上位机、下位机和装备测试板;下位机包括多块测试单板、与每一个多个相应的测试单板配置文件以及用于配置和执行默认的装备测试项装备测试文件;在启动单板装备测试前下位机根据客户输入...