一种硬盘驱动电源芯片测试方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种硬盘驱动电源芯片测试方法及系统，包括一种硬盘驱动电源芯片测试方法以及该方法整体采用的硬盘驱动电源芯片系统，包括芯片测试系统模块、芯片测试电路模块以及待测硬盘模块，所述芯片测试系统用于提供对硬盘进行读取、写入测试的逻辑电平，所述芯片测试电路模块用于连接各模块的引脚，构成完整的测试电路，所述待测硬盘模块用于提供待测硬盘接口，所述芯片测试电路模块包括外围电路模块、外围滤波电容模块、电源输出模块、时钟信号模块、继电器模块、写入单元模块，所述外围电路模块用于完成对继电器线圈的控制，所述外围滤波电容模块用于滤除外围电路中电源的杂波与交流成分，本发明专利技术，具有测试精准和全面的特点。点。点。

【技术实现步骤摘要】
一种硬盘驱动电源芯片测试方法及系统


[0001]本专利技术涉及硬盘测试
，具体为一种硬盘驱动电源芯片测试方法及系统。

技术介绍

[0002]硬盘作为计算机系统的数据存储器，主要用于存储数据，硬盘又分为机械硬盘和固态硬盘，机械硬盘是传统普通硬盘，主要由盘片、磁头、盘片转轴及控制电机、磁头控制器等部分组成，磁头可沿着盘片的半径方向运动，加上盘片每分钟几千转的高速旋转，磁头就可以定位在盘片的指定位置上进行数据的读写操作，信息通过离磁性表面很近的磁头，由电磁流来改变极性方式被电磁流写到磁盘上，而固态硬盘相比传统机械硬盘结构上要简单得多，主要为一块PCB电路板，板上焊接有主控芯片、闪存颗粒和缓存颗粒，它的传输速度更快，也更不容易损坏。
[0003]随着信息化的发展，硬盘被应用于各式各类的电脑上，然而，由于硬盘必须带电带设备才能运行，所以需要装机后才能测试，且大多数时候内部损坏不明显，出现读写数据不流畅的问题，使用者难以察觉，等发现硬盘彻底损坏的时候数据已经丢失，造成不必要的损失。而目前缺少对硬盘的直接检测方法，因此，设计测试精准和全面的一种本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种硬盘驱动电源芯片测试方法及系统，包括一种硬盘驱动电源芯片测试方法以及该方法整体采用的硬盘驱动电源芯片系统，其特征在于：所述一种硬盘驱动电源芯片测试系统包括芯片测试系统模块、芯片测试电路模块以及待测硬盘模块，所述芯片测试系统用于提供对硬盘进行读取、写入测试的逻辑电平，所述芯片测试电路模块用于连接各模块的引脚，构成完整的测试电路，所述待测硬盘模块用于提供待测硬盘接口，所述芯片测试系统模块与芯片测试电路模块电连接，所述芯片测试电路模块与待测硬盘模块电连接，所述芯片测试电路模块包括外围电路模块、外围滤波电容模块、电源输出模块、时钟信号模块、继电器模块、上拉电阻模块、写入单元模块、稳压电路模块，所述外围电路模块与外围滤波电容模块电连接，所述电源输出模块与上拉电阻模块、继电器模块电连接，所述继电器模块与写入单元模块电连接，所述外围电路模块用于完成对继电器线圈的控制，驱动继电器动作，所述外围滤波电容模块用于滤除外围电路中电源的杂波与交流成分，使电源线与地线之间为低阻抗，电源接近理想电源，所述电源输出模块用于提供电路中的直流电源驱动测试芯片，所述时钟信号模块用于为电路内部提供时钟信号，作为片内各部件协调工作的控制信号，所述继电器模块用于切换连接对象，检测待测芯片的各个管脚的二极管特性，所述上拉电阻模块用于改变电平的高低状态，同时对电路进行限流，所述写入单元模块用于通过电路接口把指定的数据写入寄存器中或从寄存器中读取数据。2.根据权利要求1所述的一种硬盘驱动电源芯片测试方法及系统，其特征在于：所述芯片测试系统模块包括外围电路引脚、电源引脚、时钟信号引脚，所述外围电路引脚用于为连接外围电路的外围滤波电容提供引脚，所述电源引脚用于连接电源输出模块与上拉电阻构成高低电平，所述时钟信号引脚用于连接时钟信号模块，所述外围电路引脚、电源引脚与时钟信号引脚电连接。3.根据权利要求2所述的一种硬盘驱动电源芯片测试方法及系统，其特征在于：所述待测硬盘模块包括外围电路接收引脚、写入引脚、时钟信号输入引脚，所述外围电路接收引脚用于连接待测硬盘与I2C外围电路，所述写入引脚用于连接继电器与待测硬盘，所述时钟信号输入引脚用于接收时钟信号，所述外围电路接收引脚、写入引脚与时钟信号输入引脚与待测硬盘电连接。4.根据权利要求3所述的一种硬盘驱动电源芯片测试方法及系统，其特征在于：所述一种硬盘驱动电源芯片测试方法包括以下步骤：步骤S1：硬盘进行检测前，需安装进带有引脚接口的测试平台上，等待检测；步骤S2：根据电路图连接好外围电路后，通过控制继电器输入电压的电平状态对待测硬盘内部芯片引脚的二极管特性进行检测；步骤S3：检测待测硬盘的读写能力前，...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴俊，马坤洪，钱晓晴，夏金金，
申请(专利权)人：江阴捷芯电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：