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本发明公开了一种硬盘驱动电源芯片测试方法及系统，包括一种硬盘驱动电源芯片测试方法以及该方法整体采用的硬盘驱动电源芯片系统，包括芯片测试系统模块、芯片测试电路模块以及待测硬盘模块，所述芯片测试系统用于提供对硬盘进行读取、写入测试的逻辑电平，所...
该专利属于江阴捷芯电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江阴捷芯电子科技有限公司授权不得商用。

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