【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路，具体涉及一种ate测试方法、ate测试系统、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、ate是automatic test equipment的缩写，于半导体产业意指集成电路(ic)自动测试机，用于检测集成电路功能之完整性，为集成电路生产制造之最后流程，以确保集成电路生产制造之品质。集成电路例如图像传感器芯片，其输出接口有lvds、mipi、dvp等，lvds和mipi是高速的差分数据，dvp是低速的单端并行数据。在对图像传感器芯片进行ate相关的测试例如在lvds接口测试中，用于数据是由芯片内部pll产生的时钟触发，会出现和采样时钟不同步的问题。此类问题目前缺乏简便有效的解决方案。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种ate测试方法、ate测试系统、电子设备及存储介质，使用多倍采样的方式，解决采样时钟与数据输出时钟不同步的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供一种ate测试方法，包括：获取集成电路的数据输出的时钟频率；将ate测试机的采样频率设置为所述时钟频率的至少二倍的预设倍数；调用设置完所述采样频率的所述ate测试机对所述集成电路进行采样，以获取多个采样数据。
3、可选的，根据多个所述采样数据中发生数据跳变的跳变点，选取多个所述采样数据中的有效数据。
4、可选的，所述根据多个所述采样数据中发生数据跳变的跳变点，选取多个所述采样数据中的有效数据，具体包括：以多个所述采样数据中发生数据跳变的所述跳变点为起始位置，
5、可选的，所述采样数据包括采样得到的集成电路的数据输出的时钟数据，和与对应所述时钟数据生成的检测结果数据，所述跳变点的确定方式具体包括：若相邻的两个所述时钟数据中的前一个所述时钟数据为0，后一个所述时钟数据为1，则以所述前一个所述时钟数据或所述后一个所述时钟数据作为所述跳变点。
6、可选的，所述采样数据包括采样得到的集成电路的数据输出的时钟数据，和与对应所述时钟数据生成的检测结果数据，所述跳变点的确定方式具体包括：若相邻的两个所述时钟数据中的前一个所述时钟数据为1，后一个所述时钟数据为0，则以所述前一个所述时钟数据或所述后一个所述时钟数据作为所述跳变点。
7、可选的，还包括：获取预设的目标测试结果；根据所述目标测试结果和多个所述采样数据中发生数据跳变的跳变点，选取多个所述采样数据中的有效数据。
8、可选的，所述有效数据为二进制数据，所述根据所述目标测试结果和多个所述采样数据中发生数据跳变的跳变点，选取多个所述采样数据中的有效数据，具体包括：将所述目标测试结果转化为二进制数据结果，根据所述二进制数据结果和多个所述采样数据中发生数据跳变的跳变点，选取多个所述采样数据中的有效数据。
9、本专利技术还提供一种ate测试系统，包括：获取模块，用于获取集成电路的数据输出的时钟频率；设置模块，用于将ate测试机的采样频率设置为所述时钟频率的至少二倍的预设倍数；ate测试机，用于对所述集成电路进行采样，以获取多个采样数据。
10、本专利技术还提供一种电子设备，所述电子设备包括：存储器，存储有计算机程序；处理器，与所述存储器通信相连，调用所述计算机程序时执行上述任一项所述的ate测试方法；显示器，与所述处理器和所述存储器通信相连，用于显示与所述ate测试方法相关交互界面。
11、本专利技术还提供一种存储介质，存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述任一项所述的ate测试方法。
12、本专利技术提供的ate测试方法、ate测试系统、电子设备及存储介质具有如下有益效果：
13、本专利技术提供一种ate测试方法，包括：获取集成电路的数据输出的时钟频率；将ate测试机的采样频率设置为所述时钟频率的至少二倍的预设倍数；调用设置完所述采样频率的所述ate测试机对所述集成电路进行采样，以获取多个采样数据。如此设置，本专利技术采用多倍采样的方式，更密集地进行采样，这样便可以不依赖于采样频率与时钟频率的同步，在针对按时钟触发的数据的采样过程中，采样将更加精确。
14、本专利技术还提供一种ate测试系统，由于所述ate测试系统与所述ate测试方法属于同一个专利技术构思，因此所述ate测试系统采用多倍采样的方式，更密集地进行采样，这样便可以不依赖于采样频率与时钟频率的同步，在针对按时钟触发的数据的采样过程中，采样将更加精确。
15、本专利技术还提供一种电子设备，由于所述电子设备与所述ate测试方法属于同一个专利技术构思，因此所述电子设备采用多倍采样的方式，更密集地进行采样，这样便可以不依赖于采样频率与时钟频率的同步，在针对按时钟触发的数据的采样过程中，采样将更加精确。
16、本专利技术还提供一种存储介质，由于所述存储介质与所述ate测试方法属于同一个专利技术构思，因此所述存储介质采用多倍采样的方式，更密集地进行采样，这样便可以不依赖于采样频率与时钟频率的同步，在针对按时钟触发的数据的采样过程中，采样将更加精确。
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1.一种ATE测试方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的ATE测试方法，其特征在于，根据多个所述采样数据中发生数据跳变的跳变点，选取多个所述采样数据中的有效数据。
3.如权利要求2所述的ATE测试方法，其特征在于，所述根据多个所述采样数据中发生数据跳变的跳变点，选取多个所述采样数据中的有效数据，具体包括：
4.如权利要求2或3所述的ATE测试方法，其特征在于，所述采样数据包括采样得到的集成电路的数据输出的时钟数据，和对应所述时钟数据生成的检测结果数据，所述跳变点的确定方式具体包括：
5.如权利要求2或3所述的ATE测试方法，其特征在于，所述采样数据包括采样得到的集成电路的数据输出的时钟数据，和对应所述时钟数据生成的检测结果数据，所述跳变点的确定方式具体包括：
6.如权利要求2所述的ATE测试方法，其特征在于，还包括：
7.如权利要求6所述的ATE测试方法，其特征在于，所述有效数据为二进制数据，所述根据所述目标测试结果和多个所述采样数据中发生数据跳变的跳变点，选取多个所述采样数据中的有效数据，具体包括
8.一种ATE测试系统，其特征在于，包括：
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
10.一种存储介质，存储有计算机程序，其特征在于：该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的ATE测试方法。
...【技术特征摘要】
1.一种ate测试方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的ate测试方法，其特征在于，根据多个所述采样数据中发生数据跳变的跳变点，选取多个所述采样数据中的有效数据。
3.如权利要求2所述的ate测试方法，其特征在于，所述根据多个所述采样数据中发生数据跳变的跳变点，选取多个所述采样数据中的有效数据，具体包括：
4.如权利要求2或3所述的ate测试方法，其特征在于，所述采样数据包括采样得到的集成电路的数据输出的时钟数据，和对应所述时钟数据生成的检测结果数据，所述跳变点的确定方式具体包括：
5.如权利要求2或3所述的ate测试方法，其特征在于，所述采样数据包括采样得...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨自洪，余琨，王华，顾良波，严高建，
申请(专利权)人：上海华岭集成电路技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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