一种带光源的ATECIS测试夹具及其测试方法技术

本发明专利技术涉及CIS芯片封装后测试技术领域，具体地说是一种带光源的ATE CIS测试夹具及其测试方法，包括夹具本体，LED光源，压块，遮光密封片，待测芯片，空腔，连接线，夹具本体内设置有空腔，空腔内设置有LED光源，LED光源通过连接线与外部测试机LB电性连接，LED光源设置在待测芯片垂直上方，待测芯片由压块压紧，压块外侧设置有遮光密封片，同现有技术相比，本发明专利技术通过将光源与测试治具进行集成整合，并将光源控制信号与测试机进行连接，在测试过程中通过测试程序控制光源的打开、关闭、亮度调整等操作，缩减了常规测试的步骤，提高了测试效率。通过集成一体化治具的设计，在暗场和亮场都有极高的光源信号质量，保障了测试的准确性。保障了测试的准确性。保障了测试的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种带光源的ATE CIS测试夹具及其测试方法


[0001]本专利技术涉及CIS芯片封装后测试
，具体地说是一种带光源的ATE CIS测试夹具及其测试方法。

技术介绍

[0002]在基于自动化测试系统CIS芯片测试时，通常都需要使用到光源来对芯片进行光源校准与测试，LED灯具有节能、环保、长寿命、体积小、功耗小等特点，因此通常会采用LED灯作为CMOS图像传感器的校准光源。
[0003]测试时需要测试器件在暗场无光照环境下和亮场有光照的情况，其中亮场环境又涉及不同的光亮度的测试，测试条件较多和复杂。目前常规的测试方案是将两种测试条件进行分开，分别测试暗场和亮场的情况。使用光源通常包含一个光源盒和控制器，通过控制器来输出符合条件的光源，每次设置时都需要检查光源控制器是否连接正常，需要手动来调整光源，这个调整过程繁琐耗时，光源值显示在控制器上，无法远程查看是否校准正确，不方便远程调试。
[0004]基于以上原因，本专利技术设计了一种带光源的ATE CIS测试夹具及其测试方法，通过将光源与测试治具进行集成整合，并将光源控制信号与本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种带光源的ATE CIS测试夹具，其特征在于，包括夹具本体，LED光源（1），压块（2），遮光密封片（3），待测芯片（4），空腔（5），连接线（6），所述夹具本体内设置有空腔（5），所述空腔（5）内设置有LED光源（1），所述LED光源（1）通过所述连接线（6）与外部测试机LB电性连接，所述LED光源（1）设置在所述待测芯片（4）垂直上方，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：周超，王华，唐靖翔，
申请(专利权)人：上海华岭集成电路技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：