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本发明涉及CIS芯片封装后测试技术领域，具体地说是一种带光源的ATE CIS测试夹具及其测试方法，包括夹具本体，LED光源，压块，遮光密封片，待测芯片，空腔，连接线，夹具本体内设置有空腔，空腔内设置有LED光源，LED光源通过连接线与外部测...
该专利属于上海华岭集成电路技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华岭集成电路技术股份有限公司授权不得商用。

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