【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，特别涉及一种对芯片进行测试的方法和装置。
技术介绍
1、芯片在生产过程以及出厂前都要经过量产测试，将有异常的芯片做进一步处理，以保证交付给客户的芯片是特征参数以及功能是完好正确的良品。目前，各个厂家会针对不同应用领域的芯片推出性能和资源不同的ate(automatic test equipment，自动测试设备)，以便进行芯片进行测试。但是，不同厂家推出的自动测试设备存在一定的差异。针对相同类型或不同类型的芯片，市场上均具有多种类型的ate可供选择，这样导致量产测试需要在众多不同类型的ate上做开发。
2、然而，不同类型的ate采用不同的测试程序，不同的测试程序不能在不同类型的ate之间复用，这样使得测试开发难度大，要求测试人员拥有掌握多种测试工具的能力，测试效率低。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种对芯片进行测试的方法和装置，以解决芯片的测试效率低的技术问题。
2、为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种对芯片进行测试的方法，包括以下
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【技术保护点】
1.一种对芯片进行测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的一种对芯片进行测试的方法，其特征在于，所述预设的测试程序包括功能测试项；所述将预设的测试程序转换为所述自动测试设备能够执行的目标程序的步骤，具体包括以下步骤：在所述功能测试项的代码列的列前和/或列后，插入预设的指令列、时间列和/或符号列，得到目标功能测试项。
3.如权利要求2所述的一种对芯片进行测试的方法，其特征在于，所述自动测试设备的类型包括93K、J750和T800；所述在所述功能测试项的代码列的列前和/或列后，插入预设的指令列、时间列和/或符号列的步骤，具体包
...【技术特征摘要】
1.一种对芯片进行测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的一种对芯片进行测试的方法，其特征在于，所述预设的测试程序包括功能测试项；所述将预设的测试程序转换为所述自动测试设备能够执行的目标程序的步骤，具体包括以下步骤：在所述功能测试项的代码列的列前和/或列后，插入预设的指令列、时间列和/或符号列，得到目标功能测试项。
3.如权利要求2所述的一种对芯片进行测试的方法，其特征在于，所述自动测试设备的类型包括93k、j750和t800；所述在所述功能测试项的代码列的列前和/或列后，插入预设的指令列、时间列和/或符号列的步骤，具体包括以下步骤：
4.如权利要求2所述的一种对芯片进行测试的方法，其特征在于，所述预设的测试程序还包括直流测试项；所述得到目标功能测试项的步骤之后，还包括以下步骤：采用填表的方式，在预设的模板下，将所述直流测试项转换为所述自动测试设备能够执行的目标直流测试项。
5.如权利要求4所述的一种对芯片进行测试的方法，其特征在于，所述预设的测试程序还包括代码测试项；所述将所述直流测试项转换为所述自动测试设备能够执行的目标直流测试项的步骤之后，还包括以下...
【专利技术属性】
技术研发人员：熊忠应，王玉龙，季海英，郭云，
申请(专利权)人：上海华岭集成电路技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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