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本发明提供了一种对芯片进行测试的方法和装置，该方法包括以下步骤：获取自动测试设备的类型；根据预先存储的转换关系，将预设的测试程序转换为所述自动测试设备能够执行的目标程序；利用所述目标程序对芯片进行测试。通过预先存储的转换关系，将预设的测试程...
该专利属于上海华岭集成电路技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华岭集成电路技术股份有限公司授权不得商用。

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