一种芯片测试系统及方法技术方案

本申请公开了一种芯片测试系统及方法，其中，所述测试系统包括：电压转换模块，所述电压转换模块与电源、待测试芯片连接；目标测试模组，所述目标测试模组与所述待测试芯片连接；处理模组，所述处理模组与所述待测试芯片、电压转换模块连接；其中，所述处理模组，用于调整所述电压转换模块输出的电压，以使得所述目标测试模组可以对所述待测试芯片进行测试，以输出测试结果。出测试结果。出测试结果。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试系统及方法


[0001]本申请属于计算机
，具体涉及一种芯片测试系统及方法。

技术介绍

[0002]在芯片测试器件领域中，常常优选将多个待测试器件连接到公用线路。因此，至少两个待测试器件的端子被连接到芯片测试器的公用通道。这些端子通常被指定为共享端子。然而，这些待测试器件的端子中有一些被优选地经由单独的(非共享的或未被共享的)线路连接到芯片测试器的通道。因此，在典型设置中，存在以下两种端子：经由共享线路被连接到芯片测试器的待测试器件的共享端子和经由未被共享的线路被连接到芯片测试器的通道的未被共享的端子。
[0003]然而，在现有技术中，通常需要设置较多的测试零件来对芯片进行测试，从而导致测试芯片进行测试的时间长。

技术实现思路

[0004]本申请的一个目的是解决至少上述问题和/或缺陷，并提供至少后面将说明的优点。
[0005]本申请提供的芯片测试系统，所述测试系统包括：电压转换模块，所述电压转换模块与电源、待测试芯片连接；目标测试模组，所述目标测试模组与所述待测试芯片连接；处理模组，所述处理模组本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：电压转换模块，所述电压转换模块与电源、待测试芯片连接；目标测试模组，所述目标测试模组与所述待测试芯片连接；处理模组，所述处理模组与所述待测试芯片、电压转换模块连接；其中，所述处理模组，用于调整所述电压转换模块输出的电压，以使得所述目标测试模组可以对所述待测试芯片进行测试，以输出测试结果。2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述目标测试模组具有第一端口和第二端口；所述第一端口通过第一电阻接地，所述第二端口的电压为默认电压。3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述目标测试模组包括：第一放大器和第二放大器；所述第一放大器为常压器件，所述第二放大器为低压器件；其中，所述第一放大器和所述第二放大器的输入端与频谱仪的信号输出端，所述第一放大器和所述第二放大器的输出端与所述频谱仪的信号输入端连接。4.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括：用户终端，所述用户终端与所述处理模组连接；其中，所述用户终端，用于向所述处理模组发送控制命令，以使得处理模组根据所述控制命令，控制所述待测试芯片的ADC采集目标数据。5.根据权利要求4所述的测试系统，其特征在于，所述控制命令指示所述ADC的采集数；所述处理模组根据所述ADC的采集数，控制所述ADC采集所述目标...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖钟凯，毛成华，安奇，王怡珊，李楠，
申请(专利权)人：中国科学院深圳先进技术研究院，
类型：发明
国别省市：