半导体激光器的制造方法技术

技术编号:3315935 阅读:140 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
在自对准结构半导体激光器中分别在有源层25的两面设置一对光导层23和28,光导层的带隙比有源层25宽;形成一对覆层22,29,能使有源层25和光导层23、28夹在其间,覆层的带隙比光导层23和28的宽;一对载流子阻断层24,26分别设置在有源层25和光导层23、28之间,载流子阻断层的带隙比有源层25和光导层23、28的带隙宽;使有带状窗口的电流阻断层27嵌入至少一个光导层23和28中,电流阻断层27通过选择生长而形成。(*该技术在2018年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种能够以大输出功率工作的,它最好应用于通信,激光医疗,激光束加工,激光打印机及类似的领域中。图6是具有分别密封异质结构的自对准结构半导体激光器(下文中,这种激光器被称之为SCH-SAS LD)的一个例子的结构示图。该激光器发表于IEEE JournalQuantum.Electronics,卷29,第6期(1993)1889-1993页上。参见图6,在n-GaAs衬底1上依次地形成n-Al GaAs覆层2,GaAs/Al GaAs量子阱有源层5,P-Al GaAs覆层9和P-GaAs接触层10。n-Al GaAs的电流阻断层7嵌入在覆层a内。在图6所示的自对准结构的半导体激光器中,嵌入了电流阻断层7,该电流阻断层具有一带状窗口,其带隙比覆层9的带隙宽,也就是说,其折射率小于覆层的折射率。因此,在平行于量子阱有源层5的方向(横向)还形成了折射率差异,以便激光还能在带的水平方向上被限制。从而,就能获得二维有效折射率结构。日本未经审查的专利公开JP-A62-73687(1987)公开了一种自对准结构的半导体激光器,其中上、下覆层分别设置在有源层的两面,电流阻断层设置在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自对准结构的半导体激光器的制造方法,它包括: 分别在有源层(25)的两面提供一对覆层(22,29),覆层的带隙比有源层(25)的宽; 使具有带状窗口的电流阻断层(27)嵌入在至少一个覆层中, 其中电流阻断层通过选择生长而形成。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:藤本毅内藤由美大久保敦山田义和
申请(专利权)人:三井化学株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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