一种激光器相对强度噪声的测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种激光器相对强度噪声的测量装置及方法，其方法是利用单频点电信号通过微波光子链路后相噪指标会相应地恶化的原理，通过相噪的改变量来计算链路中激光器的相对强度噪声。本发明专利技术的基本结构包括单频点信号源、微波光子链路、光功率计与相噪检测仪，其中微波光子链路主要由激光器、电光调制器、光耦合器、光电探测器组成。相对传统测量方法而言，本发明专利技术的优点在于：测量过程在电域的高频端进行，避免了近直流端各种环境噪声的影响，提高了测量精度；该方案无需考虑待测激光器输出功率大小，克服了传统测量方法中光功率对测量系统的局限。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于电子测量领域，特别是。
技术介绍
光电子技术是当代高新技术的重要组成部分，对国民经济和国防建设起到举足轻重的作用。随着光电子技术的迅速发展，激光器作为一种重要的光电子元器，已广泛地应用于光通信、信息存储、医疗、光传感等诸多领域。在光存储、光通信等领域中，激光器的相对强度噪声(Relative Intensity Noise,以下简称RIN)是决定系统性能指标的重要参数之一，激光器RIN会影响通信系统的信噪比、灵敏度等指标。激光器的相对强度噪声源于半导体中高能带向低能带的自发辐射跃迁，可表示为:

【技术保护点】
一种激光器相对强度噪声的测量方法，其特点在于：利用单频点电信号通过微波光子链路后其相噪恶化的原理，通过单频点电信号相噪的改变来计算链路中待测激光器的相对强度噪声，其测量步骤包括：步骤一：采用相噪检测仪测量单频点电信号的相噪指标L(fm)与功率Pin；步骤二：调节电光调制器直流偏置电压，使之工作在正交偏置点；步骤三：通过光功率计读数求出激光器输出光功率与探测器输入光功率；步骤四：由光电探测器的平均输入光功率求出平均光电流；步骤五：采用相噪检测仪测量输出信号的相位噪声L’(fm)与功率Pout；步骤六：根据输入与输出单频电信号的相位噪声求出激光器的RIN。

【技术特征摘要】
1.一种激光器相对强度噪声的测量方法，其特点在于:利用单频点电信号通过微波光子链路后其相噪恶化的原理，通过单频点电信号相噪的改变来计算链路中待测激光器的相对强度噪声，其测量步骤包括: 步骤一:采用相噪检测仪测量单频点电信号的相噪指标Z(fm)与功率Λη ； 步骤二:调节电光调制器直流偏置电压，使之工作在正交偏置点； 步骤三:通过光功率计读数求出激光器输出光功率与探测器输入光功率； 步骤四:由光电探测器的平均输入光功率求出平均光电流； 步骤五:采用相噪检测仪测量输出信号的相位噪声广(fm)与功率； 步骤六:根据输入与输出单频电信号的相位噪声求出激光器的RIN。2.根据权利要求1所述的激光器相对强度噪声的测量方法，其特点在于:步骤六中，按下述方法根据输入、输出电信号相噪求出激光器的RIN: 对于微波光链路，链路的噪声功率Kst主要包括激光器的热噪声、激光器的RIN对应的电噪声及散弹噪声，其表达式分别为: 3.一种测量激光器相对强度噪声的装置，其特征是由微波光子链路、信号发生系统、光功率监测...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪俊，雷军，宋绍民，王勇刚，方小勇，
申请(专利权)人：湖南工学院，
类型：发明
国别省市：