晶片测试设备制造技术

晶片测试设备，其包括：一机台、一入料装置、一转盘组、一测试组及一出料组，机台上设有斜板供组设转盘组及测试组；其特征在于：入料装置下有底板横置于滑轨内，滑轨后端组设一快拆机构，上有推杆，推杆连动压杆并以其固定底板，当向上离开对底板的压持，则整个入料装置呈左右移动状；转盘组内有绝缘材料制成的转盘，由机台内的动力源带动，于外框底端固设一透明板，形成半圆状容置空间，至两侧端缘分别设有左、右板片，左板片处设有毛刷轻触转盘，外框及内框间形成空间并露出转盘环列的等距离排列的供晶片落入测试的容置凹槽，透明板以螺杆螺入斜板上，内设有感测透明板内的晶片的高低感测器；测试组底座组设于斜板上，具有凸耳供枢接板架，板架上设有两支架，以分别组设第一、二测试探针，另设有螺杆，螺杆穿过板架与底座上的螺孔螺接，以固定整个测试组；出料组的弧板，利用定位孔供斜板上的定位销作定位组设，利用旋钮穿过孔洞螺入斜板的螺孔作牢固结合，弧板上有吹管恰与转盘的容置凹槽相对应，吹管接有导管并导入分类集中盆中。（*该技术在2012年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种用于晶片测试的机具。
技术介绍
现有晶片测试机如图12-23所示入料组22利用支架221固设于机台21面上，并设一滑板222可利用杆架223的松开或旋紧，使滑板222，配合其上的长形孔2221可前后移动或定位；该滑板222上组设有料斗224、料槽225、振动器226、及步进马达227；所有待测试的晶片集中于料斗224，配合振动器226的振动，使掉入料槽225的晶片持续前进，再落入由步进马达227，利用皮带2271连设入左右来回横设的斗料口2272，将晶片均匀分配落入转盘23上，而落入时再配合吹气管228可强制吹落预防积料；另外，皮带2271分别绕设于主动轮2273、被动轮2274上，且皮带2271一侧与滑块2275固设，斗料口2272再与滑块2275与固设并置在滑轨2276上，藉此可使步进马达227连设的主动轮2273，将利用皮带2271带动滑块2275，使斗料口2272作往复来回并作多段式停留。转盘23组设于机台21的斜面的斜板2111上，利用斜板2111后的步进马达231连设所带动；该转盘23上具有数个沟槽为呈浅U型的沟槽232，数个沟槽232上具有同心放射状且等数分布的孔洞233使晶片恰可落入此孔洞233内，供测试组24作各次测试。转盘23前设有导料护罩234以承接落料，利用视窗2341供目视各沟槽232上的是否卡料，配合感测器2342与各沟槽232相对应组设以检测测试过的晶片是否确实掉落集中，供下一步骤处理；且另一组感应器2343将可感测各沟槽232上自斗料口2272下落下的晶片存量是否到达位于此感应器2343处的安全存量；若任何一沟槽232内的晶片数未到达此处，则提供讯号给步进马达227带动斗料口2272至相对位置时，配合振动器226的振动强迫入料，使该沟槽的晶片数可以补充至安全存量；而步进马达231前另组设有一定位盘235，上有与孔洞233相同数目的等距分布记号孔2351，供感测器作检测以提供该步进马达231的停止或起动的控制。测试组24配合滑座241组设于斜扳2111上，由微调器24作贴近的距离的微绸操作；滑座241前设有支杆243供枢设弧板244，弧板244上、下分别设有弹性螺杆及上探针组246，利用弹性螺杆可将弧板244贴近转盘23时予以螺固定位；而上探针组246具有数组，每一组均具有与沟槽232相同数目的探针2461，且与斜板2111的下探针组247相对应，将通过此次的晶片作所需种类的测试。该等探针2461除如第一组的弯弧段外，亦有如第2-5组的滚轮状。出料组25由弧端板251、升降架252及平端板253组成；弧端板251上具有许多插孔2511供插置导管254，连至平端板253的插孔2531内，且导入机台内的集料槽255内，且弧端板251整个固设于升降架252的底端；该升降架252配合滑座2521组设于支板2522上的滑轨25221，利用顶端的调钮2523可调整弧端板251与转盘23的接近间距，该调整钮2523内连设有螺杆25231与支板2522内的螺套25232螺接，且支板2522下利用螺栓2524螺固于斜板2111上。上述结构虽可以作多料同步测试以有效提高工作效率，但整个机台相当大且占用空间，不是很理想的结构。再者，入料组222只能前后移动，对于转盘23及测试组24的平时检修及操作上不甚方便，且整体机构组成也略嫌复杂，故不是理想的测试机。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种性能优良便于维护的晶片测试设备。本技术的目的是这样实现的晶片测试设备，其包括一机台、一入料装置、一转盘组、一测试组及一出料组，机台上设有斜板供组设转盘组及测试组；其特征在于入料装置下有底板横置于滑轨内，滑轨后端组设一快拆机构，上有推杆，推杆连动压杆并以其固定底板，当向上离开对底板的压持，则整个入料装置呈左右移动状；转盘组内有绝缘材料制成的转盘，由机台内的动力源带动，于外框底端固设一透明板，形成半圆状容置空间，至两侧端缘分别设有左、右板片，左板片处设有毛刷轻触转盘，外框及内框间形成空间并露出转盘环列的等距离排列的供晶片落入测试的容置凹槽，透明板以螺杆螺入斜板上，内设有感测透明板内的晶片的高低感测器；测试组底座组设于斜板上，具有凸耳供枢接板架，板架上设有两支架，以分别组设第一、二测试探针，另设有螺杆，螺杆穿过板架与底座上的螺孔螺接，以固定整个测试组；出料组的弧板，利用定位孔供斜板上的定位销作定位组设，利用旋钮穿过孔洞螺入斜板的螺孔作牢固结合，弧板上有吹管恰与转盘的容置凹槽相对应，吹管接有导管并导入分类集中盆中。上述设计，与现有晶片测试机相比较，具有下列优点1、将所有控制单元及显示幕等粗笨部份直接置于机台上，可大幅缩小机台的长、宽，而达到小型化； 2、入料组整个配合快拆机构，可以轻易作左、右横移，以空出测试组及晶片进入转盘附近的空间，便于即位检修或排除故障；3、入料组的出料槽衔接的透明板，可以形成相当大的容量，使测试机的晶片补充时间可以大幅拉长，提高工作效率；4、测试组的定位及打开相当简便容易，对测试和机台运转都较方便；5、出料组的结构大为简化，能减少故障率，有利降低整体成本。附图说明图1为本技术的主视图；图2为本技术的侧视图；图3为本技术的俯视图；图4为本技术的剖份主视放大示意图；图5为本技术的部份侧视放大示意图；图6为本技术的另一部份视放大示意图；图7为本技术的另一部份主视剖面示意图；图8为本技术的另一部份的放大示意图；图9为本技术的测试组剖视及动作示意图；图10本技术的出料组剖视图。图11本技术的出料组另一剖视图；图12为现有晶片测试机的整体侧视图；图13为现有晶片测试机的整体俯视图；图14为现有晶片测试机的入料组俯视图； 图15为现有晶片测试机的入料组侧视图；图16为现有晶片测试机的入料组主视图；图17为现有晶片测试机的转盘示意图；图18为现有晶片测试机的转盘测试组及出料组示意图；图19、20、21为现有晶片测试机的入料组、转盘、测试组及出料组侧视图；图22为现有晶片测试机的出料组侧视图；图23为现有晶片测试机的出料组俯视图。具体实施方式如图1-11所示本技术包括一机台11、一入料装置12、一转盘组13、一测试组14及一出料组15，机台11上设有斜板111供组设转盘组13及测试组14；其特征在于入料装置12下有底板121横置于滑轨122内，滑轨122后端组设一快拆机构1221，上有推杆，推杆连动压杆1223并以其固定底板121，当向上离开对底板121的压持，则整个入料装置12呈左右移动状；转盘组13内有绝缘材料制成的转盘131，由机台11内的动力源132带动，于外框133底端固设一透明板134，形成半圆状容置空间，至两侧端缘分别设有左、右板片1341、1342，左板片1341处设有毛刷1343轻触转盘131，外框133及内框134间形成空间并露出转盘131环列的等距离排列的供晶片落入测试的容置凹槽1311，透明板134以螺杆136螺入斜板111上，内设有感测透明板134内的晶片的高低感测器137、138；测试组14底座141组设于斜板111上，具有凸耳1411供枢接板架142，板架142上设有两支架143，以分别组设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.晶片测试设备，其包括一机台、一入料装置、一转盘组、一测试组及一出料组，机台上设有斜板供组设转盘组及测试组；其特征在于入料装置下有底板横置于滑轨内，滑轨后端组设一快拆机构，上有推杆，推杆连动压杆并以其固定底板，当向上离开对底板的压持，则整个入料装置呈左右移动状；转盘组内有绝缘材料制成的转盘，由机台内的动力源带动，于外框底端固设一透明板，形成半圆状容置空间，至两侧端缘分别设有左、右板片，左板片处设有毛刷轻触转盘，外框及内框间形成空...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢镜来，
申请(专利权)人：万润科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：