制备多晶硅的方法技术

技术编号:3206592 阅读:157 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种制备多晶硅的方法,其特征是在已脱氢的非晶硅表面溅射一薄层金属镍,薄层厚度为0.5~2.5nmnm,在400~500℃温度,氮气气氛下退火2~4小时,形成镍硅化合物NiSi↓[2];用能量密度为260~360mJ/cm↑[2]的准分子激光把非晶硅熔化,随着熔化的非晶硅温度降低,在非晶硅的上下界面处生长出多晶硅。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于半导体材料
,涉及一种硅材料,具体地说是一种把非晶硅转化成多晶硅的方法。
技术介绍
目前,制备多晶硅薄膜技术按照生长环境主要分为以下几种,即预沉积法(as-deposited),固相晶化法(SPC),金属诱导法(MIC),脉冲快速热烧结法(PRTA)和准分子激光晶化法(ELA)。预沉积法通常是由低压化学气相沉积(LPCVD)设备直接生长。在约630℃高温下,SiH4发生热分解淀积成多晶硅。此方法生长的多晶硅粒度较小,生长温度较高,不适宜在玻璃上生长。固相晶化法是把已淀积的非晶硅薄膜放在650℃左右的环境温度,通过较长时间的热退火,通常10小时以上,把非晶硅转化成多晶硅。此方法也是在高温下进行,且晶化度较低。金属诱导法是在固相晶化法的基础上通过某些金属或其金属盐,诱导非晶硅发生晶化。根据文献报道这种方法的生长机理是金属和a-Si在界面处发生扩散反应,能降低晶化温度,使a-Si的晶化温度可低于500℃。Carmarata等报道,Ni通过离子注入a-Si薄膜,加热形成NiSi2化合物,NiSi2作为晶核能通过a-Si迁移生成。硅的晶核首先在NiSi2/a-Si界面成核本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种制备多晶硅的方法,其特征是在已脱氢的非晶硅表面溅射一薄层金属镍,薄层厚度为0.5~2.5nmnm,在400~500℃温度,氮气气氛下退火2~4小时,形成镍硅化合物NiSi2;用能量密度为260~360mJ/cm2的准分子激光把非晶硅熔化,随着熔化的非晶硅温度降低,在非晶硅的上下界面处生长出多晶硅。2.根据权利要求1所述的制...

【专利技术属性】
技术研发人员:廖燕平邵喜斌付国柱荆海郜峰利缪国庆
申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
类型:发明
国别省市:

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