【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
无
技术介绍
复杂的IC芯片(集成电路芯片)在它们经制造以确定它们的功能且确保它们未来的可靠性时经受几个测试。通常首先执行“晶片”测试。在此测试期间,探测晶片中的个别IC芯片。这是快速测试,其中仅检测到IC芯片中的某些类型的缺陷。通常仅仅用接触晶片的冷却板来达到晶片测试期间的热控制。在IC芯片经封装后发生的下一测试称为“老化”。老化测试以热或电的方式压迫IC芯片以加速“早期损坏率(infant mortality)”故障。所述压迫导致即时故障,其否则会发生在现场IC芯片的寿命的第一个10%期间,因此为客户确保了更可靠的产品。老化测试可能要花很多小时来执行,且IC芯片的温度通常保持在100℃到140℃的范围中。因为IC芯片还经受高于正常电压的电压,所以IC芯片中的功率消耗可显著高于正常操作中的功率消耗。此额外功率消耗使控制IC芯片的温度的任务变得非常困难。另外,为了最小化老化所需的时间,还希望在不损坏IC芯片的情况下,尽可能保持IC芯片的温度较高。“分类”测试通常在老化测试之后。此时,按照速度对IC芯片进行分类,且检验每个IC芯片的基本功能。在此测试期间,当为IC芯片发送测试信号流时,IC芯片中的功率消耗可剧烈地变化。因为IC芯片的操作随着IC芯片的温度增加而减慢,所以在分类测试中始终需要对IC芯片进行非常严格的温度控制。这确保了在特定温度时精确地测量IC芯片的操作速度。如果IC芯片的温度太高,那么IC芯片的操作将得到较慢速度等级。接着IC芯片将作为较低标价的零件出售。在现有技术中,本专利技术者已经揭示了一种系统,其在IC芯片经历上文所述的“老化”测试和 ...
【技术保护点】
一种双反馈控制系统,其用于在一IC芯片消耗一不同量的电功率时将所述IC芯片的温度维持在一设定点附近,所述系统包含:一用于一液体致冷剂的蒸发器,和一具有连接到所述蒸发器的一个面和用于耦合到所述IC芯片的一相对面的电加热器;一耦 合到所述蒸发器的蒸发器控制器,和一耦合到所述电加热器的加热器控制器;所述加热器控制器包括一第一反馈电路构件,其用于以一补偿所述IC芯片功率的变化的可变量值向所述电加热器发送电功率;和,所述蒸发器控制器包括一第二反馈电路构件, 其用于以一可变流率向所述蒸发器传递所述液体致冷剂,所述可变流率在所述流率固定时所发生的电功率使用上减少所述加热器中的所述电功率使用。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】US 2004-2-16 10/780,4171.一种双反馈控制系统,其用于在一IC芯片消耗一不同量的电功率时将所述IC芯片的温度维持在一设定点附近,所述系统包含一用于一液体致冷剂的蒸发器,和一具有连接到所述蒸发器的一个面和用于耦合到所述IC芯片的一相对面的电加热器;一耦合到所述蒸发器的蒸发器控制器,和一耦合到所述电加热器的加热器控制器;所述加热器控制器包括一第一反馈电路构件,其用于以一补偿所述IC芯片功率的变化的可变量值向所述电加热器发送电功率;和,所述蒸发器控制器包括一第二反馈电路构件,其用于以一可变流率向所述蒸发器传递所述液体致冷剂,所述可变流率在所述流率固定时所发生的电功率使用上减少所述加热器中的所述电功率使用。2.根据权利要求1所述的双反馈控制系统,其中与包括一以实质上较慢的量值变化来调节所述液体致冷剂的所述流率的阀的所述蒸发器控制器相比,所述电加热器以快速的量值变化来产生热量。3.根据权利要求2所述的双反馈系统,其中所述第二反馈电路构件感测到达所述电加热器的瞬时功率,且以一如下流率将所述液体致冷剂发送到所述蒸发器,a)如果在某一时间间隔期间感测到的到达所述电加热器的功率的平均值高于一功率上限,那么所述流率减小,且b)如果在所述时间间隔期间所述平均值低于一功率下限,那么所述流率增加。4.根据权利要求3所述的双反馈系统,其中所述功率上限至少为所述功率下限的两倍。5.根据权利要求2所述的双反馈系统,其中所述第二反馈电路构件感测到达所述电加热器的瞬时功率,且以一如下流率将所述液体致冷剂发送到所述蒸发器,a)如果在某一时间间隔期间感测到的到达所述电加热器的功率的平均值高于一特定功率限度,那么所述流率减小,且b)如果在所述时间间隔期间所述平均值低于所述特定功率限度,那么所述流率增加。6.根据权利要求2所述的双反馈控制系统,其中所述第二反馈电路构件感测所述蒸发器的温度,且以一如下流率将所述液体致冷剂发送到所述蒸发器,a)如果所述设定点减去所述蒸发器的所述温度所得的差大于一最大差值,那么所述流率减小,且b)如果所述设...
【专利技术属性】
技术研发人员:杰里伊霍尔图斯塔尼乌斯凯杰,詹姆斯威特曼巴布科克,
申请(专利权)人:三角设计公司,
类型:发明
国别省市:US[美国]
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