内存条老化测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种内存条老化测试设备，包括储存机构、飞梭机构、上下料夹爪机构、上下料机构、中转机构、测试机构；所述飞梭机构的一进出料端设置于储存机构处，飞梭机构的另一进出料端设置于上下料机构处；所述上下料夹爪机构设置于储存机构的上方位置；所述上下料机构的上方位置设置有上下料机械手；所述中转机构的一进出料端设置于上下料机构处，中转机构的另一进出料端设置于所述测试机构处。本实用新型专利技术通过自动化测试代替了人工劳动，不仅定位精准，而且能够大大提高测试效率，支持多组内存条同时上料、下料、测试的优点，结构简单、合理，使用方便、效率高，扩展性高，还能够防止内存条在拔插的过程中被损坏。内存条在拔插的过程中被损坏。内存条在拔插的过程中被损坏。

【技术实现步骤摘要】
内存条老化测试设备


[0001]本技术涉及内存条测试领域，尤其涉及了一种内存条老化测试设备。

技术介绍

[0002]内存条是用于储存数据的一个重要电脑部件，由于电脑的广泛普及，电脑主板在组装成成品前，需要进行全部的功能测试。现有的内存条老化测试设备存在如下缺陷：(1)在进行功能测试时，需要进行上料和下料，通常可以手动上料和下料，或者采用机械手进行上料和下料，随着科技的发展，机械手上料和下料的方式逐渐取代了手动上料和下料，但是市场上的机械手多为单轴上下料，一个夹爪进行抓取上料或者下料；并且多轴伺服，多个夹爪也只能同时上升，同时下降，使用起来很不方便，而且夹爪效率低；(2)采用机械手在内存条测试时进行上料和下料，把上下料区和测试区分开分别通过机械手取放，上下料区的机械手从料盘取料至飞梭来回往复运动，然后测试区处的机械手从飞梭上取料至测试区进行测试，测试区在测试内存条后，测试区的机械手将测试完的内存条取回放置飞梭上，然后飞梭运动至上下料区处，再由机械手出料，一般采用电机丝杠机构将飞梭在上下料区与测试区之间往复运送，这样只能一块飞梭来回往复运动，不能满足整个机台快速高效的需求；(3)在进行功能测试时，需要将内存条安装到主板上，主板才能正常工作，流水线上大批量的主板功能测试，就需要耗费大量的人工来安装内存条，人为检测不仅效率低而且最为重要的是在操作过程中会不小心接触到内存条，使得内存条受到一定程度上的损伤，现有技术中有使用到机械手等自动化设备对内存条进行夹取拔插检测，提高了测试效率，但是通过机械手进行拔插操作，机械手臂自动化操作速度较快，也会造成内存条在拔插的过程中被损坏。

技术实现思路

[0003]针对现有技术存在的不足，本技术的目的就在于提供了一种内存条老化测试设备，通过自动化测试代替了人工劳动，采用两块载料台的飞梭机构交替往复运动满足机台快速高效的需求，从而提高机台的整体效率，不仅定位精准，而且能够大大提高测试效率，支持多组内存条同时上料、下料、测试的优点，结构简单、合理，使用方便、效率高，扩展性高，还能够防止内存条在拔插的过程中被损坏。
[0004]为了实现上述目的，本技术采用的技术方案是这样的：一种内存条老化测试设备，包括储存机构、飞梭机构、上下料夹爪机构、上下料机构、中转机构、测试机构，所述储存机构用于装载放置内存条的料盘；所述飞梭机构的一进出料端设置于储存机构处，飞梭机构的另一进出料端设置于上下料机构处；所述上下料夹爪机构设置于储存机构的上方位置，用于在储存机构与飞梭机构之间取放内存条；所述上下料机构的上方位置设置有上下料机械手，该上下料机械手用于在上下料机构与飞梭机构之间取放内存条；所述中转机构的一进出料端设置于上下料机构处，中转机构的另一进出料端设置于所述测试机构处，所述中转机构用于送入待测试内存条或取出已测试内存条；
[0005]所述上下料夹爪机构包括夹爪三维运动模组、夹爪模组，所述夹爪模组设置于夹爪三维运动模组上，所述夹爪三维运动模组驱动夹爪模组在X向、Y向、Z向位移运动；所述夹爪模组包括夹爪框架、至少两个夹爪组件，夹爪组件呈阵列分布设置于夹爪框架上，每个夹爪组件包括一对夹爪；
[0006]所述上下料机构包括内存条测试治具、治具移载模组，所述内存条测试治具设置于治具移载模组上，治具移载模组将内存条测试治具送入或取出中转机构；所述内存条测试治具包括测试底板、测试主板、测试导向组件，所述测试主板设置于测试底板上；所述测试导向组件包括测试架、高度限位板、宽度限位板、导向块、插拔件，所述测试架上开设有安装孔，该安装孔位于测试主板的内存条插板上方位置；所述高度限位板、宽度限位板设置于安装孔内，并位于测试主板的内存条插板两侧；所述宽度限位板设置于高度限位板的上方位置，所述导向块设置于宽度限位板的端部；所述插拔件呈杠杆式贯穿设置于导向块内，靠近内存条插板的一端设置有提拉部、另一端设置有按压部。
[0007]作为一种优选方案，所述飞梭机构包括飞梭底板、第一飞梭滑轨、第二飞梭滑轨、第一飞梭导向板、第二飞梭导向板、飞梭驱动模组，所述第一飞梭滑轨、第二飞梭滑轨平行设置于飞梭底板上；所述第一飞梭滑轨上滑动连接有第一飞梭支架，所述第一飞梭支架的上部设置有第一飞梭载料台；所述第一飞梭导向板上设置有第一飞梭导向槽，所述第一飞梭导向槽限定第一飞梭载料台的移动路径；所述第二飞梭滑轨上滑动连接有第二飞梭支架，所述第二飞梭滑轨上滑动连接有第二飞梭支架，所述第二飞梭支架的上部设置有第二飞梭载料台；所述第二飞梭导向板上设置有第二飞梭导向槽，所述第二飞梭导向槽限定第二飞梭载料台的移动路径；所述飞梭驱动模组分别与第一飞梭支架、第二飞梭支架相连接，用于驱动第一飞梭支架与第二飞梭支架进行相对运动。
[0008]作为一种优选方案，所述第一飞梭支架通过飞梭支架滑块连接有飞梭升降线轨，所述第一飞梭载料台设置于飞梭升降线轨的顶部；所述飞梭升降线轨的侧壁通过设置第一飞梭滚轮与第一飞梭导向槽连接，所述第一飞梭导向槽呈U形状；所述第二飞梭导向槽为直线槽，第二飞梭支架的侧壁通过第二飞梭滚轮与第二飞梭导向槽连接。
[0009]作为一种优选方案，每个所述夹爪包括夹持件、夹爪水平气缸、夹爪升降气缸，所述夹爪升降气缸设置于夹爪框架的顶部，夹爪水平气缸通过夹爪安装件设置于夹爪框架的底部；所述夹爪框架内贯穿设置有夹爪传动杆、夹爪导向杆，所述夹爪传动杆的顶部与夹爪升降气缸的推杆相连接、夹爪传动杆的底部与夹爪安装件相连接，所述夹爪导向杆的顶部向上延伸出夹爪框架的顶部、夹爪导向杆的底部与夹爪安装件相连接；所述夹爪水平气缸设置于夹爪安装件上，所述夹持件与夹爪水平气缸的推杆相连接，夹爪水平气缸驱动夹持件在水平方向上运动，一对夹爪的夹持件对应设置。
[0010]作为一种优选方案，所述夹爪导向杆上套设有竖直限位件，该竖直限位件设置于夹爪框架的中部；所述夹爪安装件上设置有水平限位件，所述水平限位件呈倒“凹”状，所述夹持件设置于水平限位件的凹槽内。
[0011]作为一种优选方案，所述治具移载模组上设置有内存条压紧组件、内存条撑开组件，所述治具移载模组带动内存条测试治具移载到内存条压紧组件处，内存条压紧组件用于将内存条压入测试主板的内存条插板内；所述治具移载模组带动内存条测试治具移载到内存条撑开组件处，内存条撑开组件用于下压插拔件的按压部，内存条从测试主板的内存
条插板松开。
[0012]作为一种优选方案，所述储存机构包括至少一个储存组件，所述储存组件包括储存料框、储存丝杆、储存螺母、储存电机，所述储存电机设置于储存料框的下方位置，所述储存电机通过储存皮带与储存螺母传动连接，所述储存丝杆套设于储存螺母内，且储存丝杆的上部从储存料框的底部贯穿设置于储存料框内。
[0013]作为一种优选方案，所述储存组件处设置有移料盘机构，所述移料盘机构包括同步带直线模组、移料升降气缸、移料夹爪，所述同步带直线模组驱动移料夹爪在至少两个储存组件间运动，所述移料升降气缸驱动移料夹爪在储存组件上做升降运动，所述移料夹爪用于储存组件处夹取料盘。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种内存条老化测试设备，其特征在于：包括储存机构、飞梭机构、上下料夹爪机构、上下料机构、中转机构、测试机构，所述储存机构用于装载放置内存条的料盘；所述飞梭机构的一进出料端设置于储存机构处，飞梭机构的另一进出料端设置于上下料机构处；所述上下料夹爪机构设置于储存机构的上方位置，用于在储存机构与飞梭机构之间取放内存条；所述上下料机构的上方位置设置有上下料机械手，该上下料机械手用于在上下料机构与飞梭机构之间取放内存条；所述中转机构的一进出料端设置于上下料机构处，中转机构的另一进出料端设置于所述测试机构处，所述中转机构用于送入待测试内存条或取出已测试内存条；所述上下料夹爪机构包括夹爪三维运动模组、夹爪模组，所述夹爪模组设置于夹爪三维运动模组上，所述夹爪三维运动模组驱动夹爪模组在X向、Y向、Z向位移运动；所述夹爪模组包括夹爪框架、至少两个夹爪组件，夹爪组件呈阵列分布设置于夹爪框架上，每个夹爪组件包括一对夹爪；所述上下料机构包括内存条测试治具、治具移载模组，所述内存条测试治具设置于治具移载模组上，治具移载模组将内存条测试治具送入或取出中转机构；所述内存条测试治具包括测试底板、测试主板、测试导向组件，所述测试主板设置于测试底板上；所述测试导向组件包括测试架、高度限位板、宽度限位板、导向块、插拔件，所述测试架上开设有安装孔，该安装孔位于测试主板的内存条插板上方位置；所述高度限位板、宽度限位板设置于安装孔内，并位于测试主板的内存条插板两侧；所述宽度限位板设置于高度限位板的上方位置，所述导向块设置于宽度限位板的端部；所述插拔件呈杠杆式贯穿设置于导向块内，靠近内存条插板的一端设置有提拉部、另一端设置有按压部。2.根据权利要求1所述的一种内存条老化测试设备，其特征在于：所述飞梭机构包括飞梭底板、第一飞梭滑轨、第二飞梭滑轨、第一飞梭导向板、第二飞梭导向板、飞梭驱动模组，所述第一飞梭滑轨、第二飞梭滑轨平行设置于飞梭底板上；所述第一飞梭滑轨上滑动连接有第一飞梭支架，所述第一飞梭支架的上部设置有第一飞梭载料台；所述第一飞梭导向板上设置有第一飞梭导向槽，所述第一飞梭导向槽限定第一飞梭载料台的移动路径；所述第二飞梭滑轨上滑动连接有第二飞梭支架，所述第二飞梭支架的上部设置有第二飞梭载料台；所述第二飞梭导向板上设置有第二飞梭导向槽，所述第二飞梭导向槽限定第二飞梭载料台的移动路径；所述飞梭驱动模组分别与第一飞梭支架、第二飞梭支架相连接，用于驱动第一飞梭支架与第二飞梭支架进行相对运动。3.根据权利要求2所述的一种内存条老化测试设备，其特征在于：所述第一飞梭支架通过飞梭支架滑块连接有飞梭升降线轨，所述第一飞梭载料台设置于飞梭升降线轨的顶部；所述飞梭升降线轨的侧壁通过设...

【专利技术属性】
技术研发人员：何润，唐敏，
申请(专利权)人：苏州乾鸣半导体设备有限公司，
类型：新型
国别省市：