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本实用新型公开了一种内存条老化测试设备，包括储存机构、飞梭机构、上下料夹爪机构、上下料机构、中转机构、测试机构；所述飞梭机构的一进出料端设置于储存机构处，飞梭机构的另一进出料端设置于上下料机构处；所述上下料夹爪机构设置于储存机构的上方位置；...
该专利属于苏州乾鸣半导体设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州乾鸣半导体设备有限公司授权不得商用。

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